专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种提高氮化镓器件外延质量的结构-CN201921362648.8有效
  • 廖宸梓;王柏钧;陈宪冠;叶顺闵 - 聚力成半导体(重庆)有限公司
  • 2019-08-21 - 2020-04-03 - H01L21/02
  • 本实用新型公开了一种提高氮化镓器件外延质量的结构,要解决的是现有氮化镓器件外延质量不佳的问题。本产品包括衬底、i‑GaN和GaN cap,所述衬底位于最底层,GaN cap层位于最顶层,衬底上部设置有AlN缓冲,GaN cap的下方设置有AlGaN barrier,i‑GaN设置在AlGaNbarrier的下方,i‑GaN的下部设置有c‑GaN,c‑GaN和AlN缓冲之间设置有缓变式多层缓冲AlGaN barrier和i‑GaN之间设置有AlN spacer。本产品利用衬底在GaN与AlN间插入缓变式多层缓冲,缓变式多层缓冲采用依次成长的多层AlGaN结构形成,对于晶格应力造成的翘曲,以及热膨胀不匹配性造成内应力蓄积问题,可获得大幅度改善,也形成更稳定的外延结构
  • 一种提高氮化器件外延质量结构
  • [发明专利]GaN多层量子点光电材料的制作方法-CN200810150272.4无效
  • 郝跃;高志远;张进城;李培咸 - 西安电子科技大学
  • 2008-07-04 - 2008-12-03 - H01L33/00
  • 本发明公开了一种GaN多层量子点光电材料的制作方法,其过程是:首先用MOCVD设备在衬底上依次生长低温缓冲高温Ga极性面的n-AlGaN基底层(2);接着对n-AlGaN基底层(2)用熔融KOH工艺进行腐蚀,在该n-AlGaN位错的表面露头处形成倒六棱锥形腐蚀坑(3);接着在腐蚀后的n-AlGaN基底层上生长GaN薄层(4),并在该GaN薄层上生长AlGaN薄层(5),使倒六棱椎形腐蚀坑(3)的底部形成GaN量子点(6);接着按设定的GaN薄层(4)的层数,在所有GaN薄层的倒六棱椎形腐蚀坑底部形成GaN量子点;最后在最上层的GaN薄层上生长p-AlGaN
  • gan多层量子光电材料制作方法
  • [发明专利]一维InGaN/AlGaN多量子阱型的紫外LED及其制备方法-CN201810776377.4有效
  • 李国强 - 河源市众拓光电科技有限公司
  • 2018-07-16 - 2020-10-30 - H01L33/06
  • 本发明公开了一维InGaN/AlGaN多量子阱型的紫外LED及其制备方法,紫外LED包括衬底、自下至上依次生长在衬底上的一维AlN缓冲AlGaN缓冲、GaN、n‑GaN、一维GaN/InGaN超晶格、一维InGaN/AlGaN多量子阱、电子阻挡、p‑GaN;所述一维AlN缓冲、一维GaN/InGaN超晶格及一维InGaN/AlGaN量子阱均由一维材料生长而成。本发明充分利用一维材料相对于薄膜材料的优势,在特定用一维材料代替薄膜材料,“过滤”量子阱前段产生的内应力,以降低量子阱中的内应力与缺陷密度、提高量子阱中电子与空穴的有效复合效率,从而提高紫外LED
  • inganalgan多量子阱型紫外led及其制备方法
  • [发明专利]一种基于离子注入的GaN功率器件及其制造方法-CN201710483029.3在审
  • 任远;陈志涛;刘晓燕;刘宁炀;刘久澄;李叶林 - 广东省半导体产业技术研究院
  • 2017-06-22 - 2017-09-15 - H01L21/265
  • 一种基于离子注入的GaN功率器件及其制造方法,包括由下往上依次设置的GaN缓冲、GaN沟道AlGaN势垒,所述AlGaN势垒上设置有源电极、栅电极和漏电极,其中所述源电极和漏电极均为欧姆接触,所述栅电极为肖特基接触,且各电极之间覆盖有与AlGaN势垒相连接的钝化,所述AlGaN势垒与GaN沟道为异质结构且在两者的界面处由于极化效应而形成有作为GaN功率器件横向工作导电沟道的二维电子气,所述GaN缓冲中由GaN缓冲的底面通过离子注入形成有离子隔离区,所述离子隔离区位于GaN缓冲的上部并与GaN沟道相连接,且所述GaN缓冲中设置了离子隔离区后而在GaN缓冲的底面键合有高导热衬底本发明由于采用在GaN缓冲中通过离子注入形成有隔离区,将GaN沟道与GaN缓冲隔离开,从而减少了器件漏电流并提高击穿电压。
  • 一种基于离子注入gan功率器件及其制造方法

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