专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]回流焊接方法-CN201510128072.9有效
  • 李媛媛;冯宇翔 - 广东美的制冷设备有限公司;美的集团股份有限公司
  • 2015-03-23 - 2016-11-16 - B23K1/008
  • 本发明提供了一种回流焊接方法,涂有焊料的待焊工件在回流焊炉内依次经过预热、活化、回流和冷却处理,在预热区内,待焊工件依次进入第一升温阶段、振动阶段和第二升温阶段。本发明提供的回流焊接方法,在预热对待焊工件进行加热的过程中,设定振动阶段,通过焊料振动以促使焊料中的挥发性物质充分挥发,从而在不降低待焊工件的焊接质量的前提下,实现了防止焊料飞溅的目的,同时,也为回流焊接方法的改良提供了新途径和新思路
  • 回流焊接方法
  • [实用新型]用于软焊料装片的压模装置-CN202021644256.3有效
  • 李江 - 李江
  • 2020-08-10 - 2021-01-29 - H01L21/603
  • 本实用新型公开了一种用于软焊料装片的压模装置,包括压模头和引线框架,引线框架内设置有与压模头匹配的模腔,引线框架上设置有防溢槽和第一倒角,引线框架外侧所在第一倒角的位置设置有三角,所述压模头上对于第一倒角的位置设置有与第一倒角匹配的第二倒角;压模成型时,压模头压向引线框架,液态的焊料按照模腔的形状扩散至引线框架上,本实用新型通过在压模头上设置第二倒角,阻断了焊料流到三角的路径,使压模成型时焊料距离三角较远,避免液态焊料流至三角,从而有效杜绝了三角焊料的情况
  • 用于焊料装置
  • [发明专利]微电路模块背面预上锡方法及预上锡加热装置-CN201611026192.9在审
  • 吴诗晗;彭欣;杨伟 - 株洲天微技术有限公司
  • 2016-11-22 - 2017-02-15 - H05K3/34
  • 微电路模块背面预上锡方法,包括如下步骤A.制作工装准备一块铝硅板,在铝硅板上表面的中心区域镀金,将铝硅板的上表面分为镀层和无镀层,制成工装;B.工装及工件预热将工装固定在热台一上,启动热台一将工装加热至预设温度,将需预上锡的工件放置在热台二上,启动热台二对工件进行预热;C.添加焊料焊料置于工装的镀金,使焊料融化;D.上锡将预热好的工件移至工装的镀层,工件背面与焊料接触并在镀层上摩擦,使焊料均匀的涂覆在工件背面;E.检查将工件移至工装的无镀层,并检查工件背面是否上锡合格,不合格则重复步骤D,直至工件背面上锡合格。
  • 电路模块背面预上锡方法加热装置
  • [实用新型]封装器件和电子设备-CN201920980548.5有效
  • 乔云飞;胡竣富;王军鹤 - 华为技术有限公司
  • 2019-06-26 - 2020-02-21 - H01L23/31
  • 本申请实施例提供一种封装器件,用以通过焊料与基板焊接相连。所述封装器件包括封装面,所述封装面包括焊接和位于所述焊接区外的非焊接,所述焊接用以设置所述焊料,所述非焊接区内设有凸点,所述凸点的熔点大于所述焊料的熔点。本申请实施例所示封装器件中封装面的非焊接区内设有所述凸点,在所述封装器件焊接于基板上时,由于所述凸点的熔点大于焊料的熔点,所述凸点不会熔化而能对所述基板起支撑作用,使所述封装器件与所述基板之间有足够的焊接高度,可以降低焊接过程中焊料外溢的比例,避免了相邻焊盘之间焊料连接引起的短路问题。
  • 封装器件电子设备
  • [发明专利]一种半导体器件和热沉键合的方法-CN202110894097.5有效
  • 杨国文;王希敏 - 度亘激光技术(苏州)有限公司
  • 2021-08-05 - 2021-10-29 - H01L21/50
  • 本申请提供一种半导体器件和热沉键合的方法,涉及半导体技术领域,包括在半导体器件的外延层上形成第一金属层;外延层具有至少一个电流注入和设在电流注入两侧的非电流注入,且电流注入和非电流注入之间具有间隔,第一金属层覆盖电流注入、非电流注入和间隔;在第一金属层上形成第二金属层,使第二金属层位于非电流注入上;在第二金属层上形成焊料层,使焊料层覆盖第一金属层和第二金属层;将热沉和焊料层焊接。半导体器件和热沉键合时,第二金属层起到支撑作用;第二金属层设于电流注入两侧,电流注入不受力,焊接熔化的焊料处于自由流动状态,减小封装时对半导体器件的应力影响。
  • 一种半导体器件热沉键合方法

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