[发明专利]一种栅氧结构和制备方法在审

专利信息
申请号: 202111614241.1 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114300533A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 盛况;邵泽伟;王珩宇;任娜 申请(专利权)人: 浙江大学杭州国际科创中心
主分类号: H01L29/51 分类号: H01L29/51;C23C14/08;C23C16/40;C23C16/455;C23C16/56;C23C28/04;H01L21/28
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 张解翠
地址: 310000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请涉及半导体技术领域中的一种栅氧结构和制备方法,包括SiC衬底层、氧化层、Al2O3层和高介电材料层,栅氧结构和制备方法氧化层设置在栅氧结构和制备方法SiC衬底层上,栅氧结构和制备方法Al2O3层设置在氧化层上,栅氧结构和制备方法Al2O3层远离氧化层的一侧设置有高介电材料层,具有沟道迁移率高、栅极能量损耗小的优点,突破了传统栅氧结构的栅极容易漏电流的瓶颈。
搜索关键词: 一种 结构 制备 方法
【主权项】:
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