[发明专利]存储器元件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510834869.0 申请日: 2015-11-26
公开(公告)号: CN106558586B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 叶腾豪;胡志玮;江昱维 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供了一种存储器元件及其制作方法。其中,一种立体NAND闪存,包括偶数和奇数导电条带堆叠结构。导电条带堆叠结构中的一些导电条带作为字线。多个数据存储结构位于偶数和奇数导电条带堆叠结构的侧壁上。多个主动柱状体包括多个偶数和奇数半导体薄膜,位于数据存储结构上,且在底部端彼此连接,藉以使这些半导体薄膜具有U形电流通道。一个偶数焊垫连接位于偶数导电条带堆叠结构上的偶数半导体薄膜;一个奇数焊垫连接位于奇数导电条带堆叠结构上的奇数半导体薄膜。一条参考线片段连接至偶数焊垫。一个跨平面层连接器连接奇数焊垫。一条位线段与跨平面层连接器接触。该存储器元件具有可靠、微小的存储单元以及高数据密度。
搜索关键词: 存储器 元件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种存储器元件,其特征在于,包括:一第一导电条带堆叠结构,具有多个侧壁;一第二导电条带堆叠结构,具有多个侧壁;多个数据存储结构位于该第一导电条带堆叠结构和该第二导电条带堆叠结构的该些侧壁上;多个第一垂直通道膜,位于该些数据存储结构上,且位于该第一导电条带堆叠结构和该第二导电条带堆叠结构的该些侧壁上,其中每一该些第一垂直通道膜包括一第一焊垫位于该第一导电条带堆叠结构上,且位于该第一垂直通道膜的一顶端;多个第二垂直通道膜,位于该些数据存储结构上,且位于该第一导电条带堆叠结构和该第二导电条带堆叠结构的该些侧壁上,其中每一该些第二垂直通道膜包括一第二焊垫位于该第二导电条带堆叠结构上,且位于该第二垂直通道膜的一顶端;其中该些第一垂直通道膜和该些第二垂直通道膜彼此连接于多个底端;一第一图案化导电平面层(first level of patterned conductors),位于该第一导电条带堆叠结构和该第二导电条带堆叠结构上方,包括一参考线片段以及一跨平面层连接器(inter‑level connector),该参考线片段与该第一焊垫连接,该跨平面层连接器与该第二焊垫连接;以及一第二图案化导电平面层,位于该第一图案化导电平面层上,包括一位线片段,该位线片段包括一延伸部与该跨平面层连接器接触。
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  • 李致维;古绍泓;程政宪 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2015-09-24 - 2019-02-19 - H01L27/115
  • 本发明提供了一种非挥发性存储元件及其制造方法。在一些实施例中,非易失性存储元件包括基材、由多个非易失性存储单元组成的立体阵列及多个垂直通道。立体阵列包括由多个绝缘层彼此分开的多个导电层,导电层包括顶层及一或多个底层,顶层包括n个串列选择线,顶层还包括n‑1个切口,每一切口电性分隔二个串列选择线,其中每一切口切割至顶层的深度,而未延伸至底层之中,而多个垂直通道与导电层及绝缘层正交排列,每一垂直通道各包括多个存储单元所组成的串列,每一条串列各自耦接至一条位线、一条串列选择线及一或多条字线。
  • 三维存储器及其形成方法-201811337193.4
  • 张静平 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2018-11-12 - 2019-02-15 - H01L27/115
  • 本发明涉及一种三维存储器及其形成方法,所述三维存储器的形成方法包括:提供一衬底,所述衬底表面形成有堆叠结构;刻蚀所述堆叠结构至所述衬底,形成贯穿所述堆叠结构的沟道孔,所述沟道孔底部暴露出所述衬底;对所述沟道孔底部的衬底表面进行第一刻蚀,以去除所述衬底表面的自然氧化层;对所述沟道孔底部的衬底进行第二刻蚀,所述第二刻蚀为湿法刻蚀以去除所述衬底表面的缺陷层;在所述沟道孔底部形成外延半导体层。上述方法能够提高三维存储器的性能。
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