专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]双模式倾斜充电装置及方法-CN201380051239.5在审
  • 加布里埃尔·沃尔特 - 量子电镀光学系统有限公司
  • 2013-08-01 - 2015-06-03 - H01L27/14
  • 本发明涉及一种用于提供一装置且将所述装置在第一模式中操作为发光晶体管及在第二模式中操作为高速电晶体管的方法,其包含以下步骤:在第二半导体类型的半导体射极与集电极之间提供第一导电性类型的半导体基极;在所述基极中提供量子大小区;在所述基极中所述量子大小区与所述集电极之间提供载流子跃迁;相对于所述基极及所述集电极施加可控制偏置电压以控制至少所述载流子跃迁中的载流子的耗尽;及相对于所述射极、所述基极及所述集电极施加信号以取决于所述受控偏置信号而将所述装置操作为发光晶体管或高速电晶体管。
  • 双模倾斜充电装置方法
  • [实用新型]集成电路-CN202221220134.0有效
  • R·盖伊;A·马扎基 - 意法半导体(鲁塞)公司
  • 2022-05-20 - 2023-03-07 - H01L27/06
  • 集成电路包括双极晶体,双极晶体管包括公共集电极,所述公共集电极包括掩埋半导体层和环形阱。阱被环形阱围绕,并被掩埋半导体层所界定。第一基极和第二基极由阱形成,并通过垂直栅结构彼此隔开。在第一基极中注入第一发射极,在第二基极中注入第二发射极。导体轨道电耦接第一发射极和第二基极,以将双极晶体管配置为达林顿型器件。双极晶体管的结构可以与非易失性存储器单元共集成地制造。
  • 集成电路
  • [发明专利]半导体器件-CN202010572172.1在审
  • 嘉屋旨哲;永久克己;下村彰宏;柳川洋;森和久 - 瑞萨电子株式会社
  • 2020-06-22 - 2020-12-29 - H01L29/78
  • 为了减小导通电阻同时抑制具有超级结结构的垂直MOSFET的特性变化的增加,垂直MOSFET包括具有n型漂移的半导体衬底、在n型漂移的表面上形成的p型基极、以预定间隔布置在p型基极下部的n型漂移中的多个p型列、底表面到达比p型基极更深的位置并且布置在相邻p型列之间的多个沟槽、在多个沟槽中形成的多个栅极电极、和在栅极电极的侧面上的p型基极中形成的n型源极
  • 半导体器件
  • [发明专利]高保持电压双极结器件-CN202310197258.4在审
  • P·马哈詹 - 格芯(美国)集成电路科技有限公司
  • 2023-03-03 - 2023-10-17 - H01L29/735
  • 所述器件包括基极、集电极和发射极端子。由于独特配置的发射极端子,实现了高保持电压。具体地,所述器件包括具有第一类型导电性的基极。发射极端子包括邻近基极(例如,在基极阱区内和/或在基极上)的发射极接触和辅助发射极,所述发射极接触具有第二类型导电性,所述辅助发射极邻接所述发射极接触并具有比所述基极更高导电性水平的第一类型导电性实施例根据发射极接触和辅助发射极的形状而变化。实施例还根据用于将集电极端子与发射极端子隔离的结构以及由硅化物层覆盖的区域而变化。
  • 保持电压双极结器件
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN202210112626.6在审
  • 高际和美;澄田仁志 - 富士电机株式会社
  • 2022-01-29 - 2022-09-13 - H01L29/06
  • 半导体装置具备:第一导电型的半导体层(1);第二导电型的阱(2),其设置于半导体层的上部;第二导电型的基极(4a、4b),其设置于阱的上部;第一导电型的载体供给(6a、6b),其设置于基极的上部;第一导电型的漂移(3),其设置于阱的上部,与基极区分离设置;第一导电型的载体接收(5),其设置于漂移的上部;栅极电极(11a、11b),其隔着栅极绝缘膜(12)设置于阱的夹在基极与漂移之间的上表面;以及第二导电型的击穿防止(9a、9b),其设置于阱的上部,杂质浓度与基极的杂质浓度不同。
  • 半导体装置及其制造方法

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