[发明专利]一种基于离子栅MoS2有效

专利信息
申请号: 202111088535.5 申请日: 2021-09-16
公开(公告)号: CN113871472B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 杨玉超;刘昌;袁锐;黄如 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L29/10;H01L29/06;G11C16/04
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 李稚婷
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于离子栅MoS2晶体管的不平衡三值逻辑门的实现方法,利用正脉冲引起的离子栅MoS2晶体管的源漏电流值差异区分不同逻辑信号组合,实现了不平衡三值逻辑门。对于单个栅门调控,向栅极施加三个不同幅度的电压,可以测量出三个不同大小的源漏电流值,然后通过与参考电流值比较,实现了标准三值反相器、正三值反相器和负三值反相器。对于栅门和漏门组合调控,向栅极和漏极分别施加三个不同幅度的电压组合,可以测量出九个不同幅度的源漏电流值,然后通过与参考电流值比较,实现了三值与门、三值与非门、三值或门、三值或非门、三值异或门和三值异或非门逻辑。本发明为建立三值逻辑电路提供了新的见解,并有助于开发三值系统结构。
搜索关键词: 一种 基于 离子 mos base sub
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  • 2017-04-13 - 2021-08-17 - H01L29/772
  • 本发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,包括:半导体衬底;外延层,覆盖所述半导体衬底的表面,所述外延层具有第一导电类型;第一纳米线,悬空设置在所述外延层的上方;第二纳米线,悬空设置在所述外延层的上方,并与所述第一纳米线间隔设置;第一源区和第一漏区,设置在所述第一纳米线中,其中,所述第一源区具有第二导电类型,所述第一漏区具有所述第一导电类型;第二源区和第二漏区,设置在所述第二纳米线中,所述第二源区具有所述第一导电类型,所述第二漏区具有所述第二导电类型,其中,所述第一漏区和所述第二源区之间通过所述外延层电连接。
  • 场效应管及其制备方法-201811445475.6
  • 郑小平;叶振强;孙振源;欧湛;李志杰;刘佳明;李佳 - 清华大学
  • 2018-11-29 - 2021-03-26 - H01L29/772
  • 本发明涉及一种场效应管,包括衬底、石墨烯层以及栅介质层。衬底包括六方氮化硼层。石墨烯层包括相对的第一表面和第二表面。第一表面与六方氮化硼层接触。第二表面包括氢化区。栅介质层覆盖于氢化区。场效应管通过设置六方氮化硼层作为石墨烯层的衬底,可以改善衬底与石墨烯层的接触。因为六方氮化硼与石墨烯的单层结构相似,两者的晶格匹配度高,且六方氮化硼层的表面光滑平整无陷阱。六方氮化硼层可以有效降低石墨烯层与衬底的接触不佳对载流子迁移率的负面影响,有利于增加石墨烯层的载流子迁移率,从而增加截止频率。同时,石墨烯层通过氢化区与栅介质层接触可以进一步减少栅介质层因为接触不佳对载流子迁移率的负面影响。
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