[发明专利]衬底处理装置及方法、半导体器件的制造方法及记录介质在审

专利信息
申请号: 202310850326.2 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN116904968A 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 加我友纪直;吉田怜亮 申请(专利权)人: 株式会社国际电气
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/54;C23C16/52;H01L21/02;H01L21/67
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 李文屿
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供衬底处理装置及方法、半导体器件的制造方法及记录介质,衬底处理装置具有:处理室,收容支承衬底的衬底支承件;气体供给系统,向所述衬底供给多个处理气体;衬底搬送系统,向所述衬底支承件搬送衬底;及控制部,控制所述衬底搬送系统和所述气体供给系统,以相应于支承在所述衬底支承件上的衬底的总表面积而修正所述多个处理气体的供给循环数。
搜索关键词: 衬底 处理 装置 方法 半导体器件 制造 记录 介质
【主权项】:
暂无信息
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