[发明专利]一种Y掺杂Sb基纳米相变存储薄膜材料及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 202110549019.1 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN113285021B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 吴卫华;徐胜卿;黄玉凤;朱小芹 申请(专利权)人: 江苏理工学院
主分类号: H10N70/00 分类号: H10N70/00;C23C14/16;C23C14/18;C23C14/35
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 姜梦翔
地址: 213011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种Y掺杂Sb基纳米相变存储薄膜材料及其制备方法和应用,所述纳米相变存储薄膜材料化学表达式为YxSb(1‑x),其中0.01x0.70。所述纳米相变存储薄膜材料具有较高结晶温度和数据保持力,较大的非晶态/晶态电阻比以及较好的热稳定性,能够应用于相变存储器,且本发明提供制备方法成本低,工艺可控性强,易于大规模生产。
搜索关键词: 一种 掺杂 sb 纳米 相变 存储 薄膜 材料 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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  • 程晓敏;靳杰;曾运韬;缪向水 - 华中科技大学
  • 2023-06-21 - 2023-08-29 - H10N70/00
  • 本发明提供了一种相变材料及基于其的相变存储器和制备方法,属于微纳米电子中的存储器技术领域,相变材料为Inx(Sb‑Te)1‑x,2%x40%,采用磁控溅射法、电子束蒸发法、化学气相沉积法或原子层沉积法制备;相变存储器包括底电极、绝缘层、相变材料功能层和上电极。本发明与Sb‑Te体系材料相比,该相变材料的结晶温度明显提高,结晶温度随着In元素含量的增加而升高,材料非晶热稳定性得到有效提升。将该材料应用于相变存储器,在提升非晶热稳定性的同时,进一步提升SET速度,降低器件写入时延,并且相变存储器件具有优异的循环特性。
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