专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]通孔背面露头的方法和装置-CN201380075888.9有效
  • 王晖;陈福平;张晓燕 - 盛美半导体设备(上海)有限公司
  • 2013-04-22 - 2019-03-29 - H01L21/768
  • 提供一种通孔背面露头的方法和装置。该方法包括如下步骤:提供衬底(101),衬底(101)内形成有若干通孔(102);旋转衬底(101)并向衬底(101)的背面喷洒第一刻蚀剂以刻蚀衬底(101)的背面,在通孔(102)从衬底(101)的背面露出之前停止刻蚀;旋转衬底(101)并向衬底(101)的背面喷洒第二刻蚀剂以刻蚀衬底(101)的背面直到通孔(102)从衬底(101)的背面露出,其中在向衬底(101)的背面喷洒第二刻蚀剂期间,在设定的时间间隔内,使衬底(101)的旋转方向反向。
  • 硅通孔背面露头方法装置
  • [发明专利]陶瓷体上衬底的制备方法-CN201710940454.0有效
  • 李瑾;冒薇;王丰梅;杨静;赵书平 - 苏州研材微纳科技有限公司
  • 2017-10-11 - 2020-04-21 - H01L21/762
  • 本发明涉及一种制备方法,尤其是一种陶瓷体上衬底的制备方法,属于陶瓷体上的技术领域。按照本发明提供的技术方案,所述陶瓷体上衬底的制备方法,所述制备方法包括如下步骤:步骤1、提供所需的第一衬底以及第二衬底,并对所述第一衬底、第二衬底进行所述清洗;步骤2、在第一衬底上均匀涂覆陶瓷埋材层,所述陶瓷埋材层包括聚氮烷;步骤3、将第二衬底键合在上述第一衬底上,第二衬底通过陶瓷埋材层与第一衬底间隔;步骤4、对上述陶瓷埋材层进行陶瓷化工艺,以得到位于第一衬底与第二衬底之间的陶瓷体绝缘埋层本发明能有效制备得到陶瓷体上衬底,工艺步骤简单,安全可靠。
  • 陶瓷体上硅衬底制备方法
  • [发明专利]一种复合衬底的制备方法、复合衬底及复合薄膜-CN202011592201.7有效
  • 李洋洋;李真宇;杨超;胡卉;刘阿龙;连坤 - 济南晶正电子科技有限公司
  • 2020-12-29 - 2022-03-15 - H01L21/20
  • 本申请提供一种复合衬底的制备方法、复合衬底及复合薄膜,其中复合衬底的制备方法包括:对单晶衬底进行清洗,获得具有洁净表面的单晶衬底层;在单晶衬底层的洁净表面上生长多晶,并执行平坦化工艺,形成第一多晶层;将激光聚焦在第一多晶层靠近单晶衬底层的侧面上,直至形成单晶融合层,停止激光聚焦,得到复合衬底;其中,复合衬底从下至上依次包括单晶衬底层、单晶融合层以及第二多晶层。采用前述的方案,通过调整激光的功率、焦距以及位置,准确的控制单晶融合区域的位置、分布和大小,从而可根据单晶衬底层和多晶层的实际情况对目标界面处的目标区域的键合力进行改善,提高多晶衬底上沉积的粘附性
  • 一种复合衬底制备方法薄膜
  • [发明专利]一种衬底LED发光芯片的表面处理方法-CN201510058552.2在审
  • 霍永峰;周礼书 - 深圳市立洋光电子有限公司
  • 2015-02-04 - 2016-10-05 - H01L33/00
  • 本发明公开了一种衬底LED发光芯片的表面处理方法,其能够有效的提高衬底的表面积,提高衬底LED发光芯片的发光效率。它主要包括步骤:(a)选用合适的衬底,根据衬底的表面特性以及所需的图形形状设计掩膜图形;(b)在衬底表面生成氧化物保护层或金属保护层;(c)对衬底进行清洗及预处理;(d)对经过预处理的衬底表面涂抹光刻胶,然后进行烘烤;(e)对涂有光刻胶的衬底表面依次进行掩膜和光刻工艺处理;(f)采用湿法化学腐蚀工艺把光刻胶图形传递成为衬底表面的保护层掩膜图形;(g)把带有保护层掩膜图形的衬底浸入化学腐蚀溶液中进行各向异性腐蚀,当衬底表面生成需要的立体图形后,立即取出衬底终止化学腐蚀反应。
  • 一种衬底led发光芯片表面处理方法
  • [发明专利]基GaN薄膜的制造方法-CN201110377023.0有效
  • 张帅;刘坤 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2011-11-23 - 2013-06-05 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种基GaN薄膜的制造方法,首先在衬底背面刻蚀出沟槽,然后在衬底正面上生长GaN薄膜,也可以先在沟槽中填充或生长加强薄膜,再在衬底正面上生长GaN薄膜。本发明的基GaN薄膜的制造方法,由于衬底背面形成有沟槽,能减少衬底的强度,从而在衬底正面生长GaN薄膜时由于晶格失配和热失配产生应力的情况下,衬底能发生适当的形变来释放GaN与衬底之间的应力,减少基上大面积生长GaN薄膜时因应力过大而导致衬底正面生长的GaN薄膜产生缺陷或裂纹的风险。
  • 硅基gan薄膜制造方法
  • [发明专利]一种检测衬底质量的方法-CN201410856256.2有效
  • 李小锋;俞伟锋;刘翔宇;梁厅 - 杭州士兰集成电路有限公司
  • 2014-12-31 - 2018-08-24 - H01L21/66
  • 本发明提供一种检验衬底质量的方法,先对衬底进行升温及降温处理,当衬底背面损伤层吸杂效果不佳或衬底来料存在沾污时,衬底背面及边沿的沾污或升降温设备中的沾污会溢出转移到衬底正面,再在衬底上生长外延层,这样衬底上存在沾污的位置外延生长晶格完整性将受到破坏产生外延生长缺陷,对衬底上的外延层进行腐蚀时外延生长缺陷将被暴露出来,采用金相显微镜进行外延层表面缺陷检测便可判断衬底的质量,不需增加昂贵的检测设备,即可在衬底来料时提早检测衬底中的沾污的情况,避免敏感的器件流片批量报废,预防定单交付延迟。
  • 一种检测衬底质量方法
  • [发明专利]通孔封装结构的形成方法-CN201210299744.9有效
  • 李凤莲;倪景华 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-08-21 - 2014-03-12 - H01L21/768
  • 通孔封装结构的形成方法,包括:提供锗衬底,在所述锗衬底表面形成衬底;在所述衬底的第一表面上形成半导体器件,在所述衬底的第一表面和半导体器件表面形成层间介质层和位于层间介质层内的金属互连结构;形成贯穿所述衬底通孔,所述通孔的顶部表面与金属互连结构电学连接;利用气体腐蚀工艺或湿法刻蚀工艺去除所述锗衬底,直到暴露出所述衬底的第二表面和所述通孔的底部表面。由于所述气体腐蚀工艺或湿法刻蚀工艺不会对衬底产生应力作用,因此所述衬底的厚度可以很薄,可以有效的降低通孔的形成深度,降低成本,避免刻蚀形成过深的通孔时对通孔侧壁的损伤,不会影响最终形成的通孔的电学性能
  • 硅通孔封装结构形成方法
  • [发明专利]SOI衬底制备方法和SOI衬底-CN201480037255.3有效
  • 皇甫幼睿 - 华为技术有限公司
  • 2014-01-22 - 2019-07-19 - H01L21/762
  • 提供一种SOI衬底制备方法和SOI衬底,SOI衬底制备方法包括:在第一衬底(110)的氧化层(120)中形成图形化刻蚀阻挡层(130),将第一衬底(110)中具有图形化刻蚀阻挡层(130)的一面与第二衬底(210)的表面键合,并剥离部分的第一衬底(110)以形成图形化绝缘衬底上的SOI衬底(300)。解决了现有技术中在SOI衬底层上生长异质外延层时,导致层和异质外延层之间存在晶格失配和热失配的问题,可以在SOI衬底层上形成无线位错的异质外延层,并很大程度上降低衬底与异质外延层之间的晶格失配率
  • soi衬底制备方法

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