专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]包括场效应晶体管(FET)的半导体结构及其方法-CN201310134217.7有效
  • H·杰加纳森;P·C·杰米森 - 国际商业机器公司
  • 2013-04-17 - 2017-03-01 - H01L21/336
  • 分层的栅极电介质叠层包括包含第一高介电常数(高k)电介质材料的第一高k栅极电介质、包含具有与第一高k电介质材料不同的带隙的电介质材料的带隙干扰电介质以及包含第二高k电介质材料的第二高k栅极电介质。带隙干扰电介质包括电介质材料的至少一个连续原子层。因此分层的栅极电介质叠层包括第一高k栅极电介质和带隙干扰电介质之间的第一原子界面,以及通过带隙干扰电介质电介质材料的至少一个连续原子层与第一原子界面分隔的第二高k栅极电介质和带隙干扰电介质之间的第二原子界面带隙干扰电介质的插入导致更低的栅极泄露,而不会导致阈值电压特性和有效氧化物厚度的任何显著变化。
  • 包括场效应晶体管fet半导体结构及其方法
  • [发明专利]一种磁性隧道结双层侧墙及其形成方法-CN201610444408.7有效
  • 张云森 - 上海磁宇信息科技有限公司
  • 2016-06-20 - 2020-10-23 - H01L43/08
  • 本发明提供了一种磁性隧道结双层侧墙及其形成方法,第一层侧墙是氮化硅,第二层侧墙是氧化铝或者氮化铝,形成方法包括如下步骤:S1.提供包括底电极、MTJ结构单元和钽顶电极的衬底;S2.在衬底上依次沉积氮化硅膜层和氧化硅膜层;S3.沉积一层有机物膜层;S4.对有机物膜层、氧化硅膜层和氮化硅膜层进行两步刻蚀,以留下侧壁的氮化硅膜层;S5.沉积一层氧化铝或者氮化铝,形成双层侧墙膜层;S6.填充电介质在剩余的间隙里;S7.磨平电介质直至钽顶电极;S8.在磨平的电介质之上再沉积两层电介质,刻蚀形成顶电极连接孔;S9.在钽顶电极内形成扩散终止层,铜或者钨填充顶电极连接孔,磨平填充物以形成顶电极连接通道。
  • 一种磁性隧道双层及其形成方法
  • [发明专利]异质电介质键合方案-CN202210116113.2在审
  • 余振华;邱文智;杨固峰;钟明慈 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-02-07 - 2022-08-30 - H01L21/50
  • 本公开涉及异质电介质键合方案。一种方法包括:将第一封装组件置为与第二封装组件接触。第一封装组件包括第一电介质层,该第一电介质层包括第一电介质材料,并且第一电介质材料是基于氧化硅的电介质材料。第二封装组件包括第二电介质层,该第二电介质层包括第二电介质材料,该第二电介质材料不同于第一电介质材料。第二电介质材料包括硅和另外的元素,该元素选自由以下项组成的组:碳、氮、及其组合。执行退火工艺以将第一电介质层与第二电介质层进行键合。
  • 电介质方案
  • [发明专利]电介质电极组合件及其制造方法-CN201780027057.2有效
  • 迈克尔·W·默里 - 奥罗玛技术有限责任公司D/B/A大通激光公司
  • 2017-04-21 - 2021-01-01 - H01S3/038
  • 本发明提供一种电介质电极组合件及其制造方法(600),其包含:电介质管(226),其具有圆柱形横截面及相对电介质常数ε2,所述电介质管(226)填充有具有相对电介质常数ε1的气体;结构电介质(225),且具有相对电介质常数ε3且围绕所述电介质管(226);金属电极(224),其位于所述结构电介质(225)的对置侧上,所述金属电极(224)具有扁平横截面几何形状;且所述结构电介质(225)由选定材料制成,使得所述结构电介质(225)、所述电介质管(226)及所述气体的所述相对电介质常数相关,且当电力经施加到所述金属电极(224)时在所述电介质管(226)内生成均匀电场。
  • 电介质电极组合及其制造方法
  • [发明专利]弯曲可靠性得到改善的柔性电路板以及其制造方法-CN201980076652.4在审
  • 金相弼;金炳悦;金益洙;郑熙锡 - 吉佳蓝科技股份有限公司
  • 2019-11-07 - 2021-07-23 - H05K1/02
  • 本发明涉及弯曲可靠性得到改善的柔性电路板的制造方法,包括:第一电介质,沿着水平方向长长地形成;第二电介质,位于所述第一电介质的上方;第三电介质,与所述第二电介质在水平方向隔开而位于所述第一电介质的上方;第一覆盖层,位于所述第一电介质的上方,并且覆盖所述第二电介质和所述第三电介质之间的所述第一电介质上方;第一焊接片,位于所述第一电介质和所述第二电介质之间,并覆盖所述第一覆盖层的一端的上方;以及第二焊接片,位于所述第一电介质和所述第三电介质之间,并覆盖所述第一覆盖层的另一端的上方,所述第一覆盖层的一端延伸而介于所述第一电介质和所述第二电介质之间,所述第一覆盖层的另一端延伸而介于所述第一电介质和所述第三电介质之间
  • 弯曲可靠性得到改善柔性电路板及其制造方法
  • [发明专利]膜电容器-CN201510701262.5在审
  • 长谷康平;济藤孝博 - 丰田自动车株式会社
  • 2015-10-26 - 2016-05-04 - H01G4/06
  • 在金属化膜的每一者中,在电介质膜的表面上形成金属电极。电介质膜包括高电介质层和低电介质层,高电介质层具有相对高的高电介质填料含量,低电介质层具有相对低的高电介质填料含量或者不包含高电介质填料。低电介质层被设置在以下位置的至少一者上:即,位于高电介质层与金属电极之间的位置,以及位于高电介质层的与金属电极相反的一侧的位置。
  • 电容器
  • [发明专利]半导体器件-CN202310390280.0在审
  • 朴正敏;林汉镇;丁炯硕 - 三星电子株式会社
  • 2023-04-12 - 2023-10-20 - H01L23/64
  • 一种半导体器件包括:单元电容器,所述单元电容器设置在衬底上并且包括第一电极、电介质层结构和第二电极。所述电介质层结构包括:第一电介质层,所述第一电介质层设置在所述第一电极上并且包括铁电材料;第二电介质层,所述第二电介质层设置在所述第一电介质层上并且包括反铁电材料;以及电介质颗粒,所述电介质颗粒分散在所述第一电介质层或所述第二电介质层中的至少一者中并且包括顺电材料
  • 半导体器件

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