专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种场氧化隔离制造方法-CN200910032419.4无效
  • 罗泽煌;郭立 - 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司
  • 2009-06-13 - 2010-12-22 - H01L21/762
  • 本发明揭示一种半导体制造方法,特别是关于埋入式场氧化隔离工艺的制作方法,其包括如下步骤:提供一硅衬底,在硅衬底上形成一氧化,然后在氧化上形成一氮化;通过掩模光刻以及腐蚀在预定区域对氧化氮化进行蚀刻,以形成开口,露出硅衬底;在开口的硅衬底上形成一热氧化,然后蚀刻掉该热氧化,在硅衬底表面形成浅槽;在整个硅片表面生长一氮化膜,蚀刻该氮化膜,在浅槽的内壁形成氮化侧墙;然后在浅槽内生长场氧化根据本发明的方法,在浅槽的内壁形成有氮化侧壁,在生长场氧化时可以调整氮化的厚度来控制鸟嘴的厚度,修正鸟嘴的形貌。
  • 一种氧化隔离制造方法
  • [发明专利]晶硅太阳能电池及其制作方法-CN201310552562.2有效
  • 徐卓;杨学良;杨德成;胡志岩;熊景峰 - 英利集团有限公司
  • 2013-11-08 - 2014-02-12 - H01L31/0216
  • 该晶硅太阳能电池包括硅基片和设置在硅基片背面的氮化膜结构,氮化膜结构包括至少两氮化膜,且至少两氮化膜的折射率沿远离硅基片的方向依次减小。氮化膜的折射率沿远离硅基片的方向减小,使得相邻氮化膜的折射率不同,那么未被硅基片吸收的光线在通过相邻氮化膜的界面时便会发生折射或反射,进而重新返回硅基片而被硅基片吸收,避免了光线直接穿过氮化膜而损失;同时本领域技术人员可以控制不同氮化膜的折射率在合理的范围,避免过多的高折射率的氮化膜存在对光产生过多的吸收。
  • 太阳能电池及其制作方法
  • [发明专利]双位快闪存储器的制作方法-CN200910201186.6无效
  • 三重野文健 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-12-15 - 2011-06-15 - H01L29/792
  • 一种双位快闪存储器的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上依次形成栅介电与栅电极,刻蚀所述栅电极及栅介电,形成栅极结构;侧向刻蚀栅介电的部分区域,在栅介电两侧形成开口;在栅电极与半导体衬底表面形成隔离层;在半导体衬底及栅极结构上形成氮化,所述氮化填充到栅介电的开口中,栅电极与半导体衬底表面的隔离层将所述氮化与栅电极及半导体衬底隔离;刻蚀氮化,仅保留位于栅介电开口处的氮化,所述开口处的氮化形成电荷俘获
  • 双位快闪存制作方法
  • [发明专利]一种钝化接触的P型MWT电池结构及制备方法-CN201910251039.3有效
  • 张高洁;路忠林;吴仕梁;张凤鸣 - 江苏日托光伏科技股份有限公司
  • 2019-03-29 - 2021-03-30 - H01L31/0216
  • 本发明公开一种钝化接触的P型MWT电池结构,P型硅衬底背面由内往外依次为P型硅、二氧化硅、掺磷多晶硅、氮化以及设置氮化表面的第一金属,第一金属穿透氮化,与掺磷多晶硅接触,氮化表面覆盖有第二金属,且第二金属不穿透氮化;P型硅衬底受光面由内往外依次设置为P型硅,P型硅表面的氧化铝/氮化膜;P型硅表面掺杂硼的P+以及氧化铝/氮化膜;在氧化铝/氮化钝化叠受光面设置有金属负电极,金属负电极通过电池上设置的孔洞绕穿到电池背面,使金属负电极覆盖在氮化上面。本发明采用隧穿钝化钝化电池的背面,金属电极不需要直接接触硅片,降低金属电极接触处的少子复合,提高电池效率,并且本发明结合MWT技术,电池的受光面主栅线通过孔洞绕穿到硅片背面,减小受光面主栅的遮光,进一步提高电池的效率
  • 一种钝化接触mwt电池结构制备方法
  • [发明专利]一种自对准双层图形的形成方法-CN201410217691.0在审
  • 崇二敏;黄君 - 上海华力微电子有限公司
  • 2014-05-20 - 2014-08-06 - H01L21/311
  • 本发明提供了一种自对准双层图形的形成方法,包括以下步骤,提供一半导体衬底,且在所述半导体衬底上依次形成有氧化硅、多晶硅氮化、底部抗反射和光刻胶,并对光刻胶进行曝光显影;通过刻蚀工艺依次对底部抗反射氮化进行刻蚀,直到暴露出多晶硅上表面和氮化的顶部表面;在氮化核心图形表面以及多晶硅上表面形成氧化硅;去除氮化核心图形顶部表面的氧化硅,以及多晶硅上表面的氧化硅,以形成氧化硅侧墙;去除氮化核心图形,并以氧化硅侧墙为阻挡对多晶硅以及氧化硅进行刻蚀;去除顶部氧化硅侧墙,形成自对准双层图形。
  • 一种对准双层图形形成方法
  • [发明专利]制备氧化硅氮化超晶格结构的方法-CN202011600486.4在审
  • 马宏平;张园览 - 光华临港工程应用技术研发(上海)有限公司
  • 2020-12-29 - 2021-04-16 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种制备氧化硅氮化超晶格结构的方法。所述制备氧化硅氮化超晶格结构的方法包括如下步骤:提供一衬底;交替进行第一沉积工艺和第二沉积工艺,于所述衬底表面形成氧化硅氮化超晶格结构;所述第一沉积工艺包括重复执行若干次第一循环步骤;所述第一循环步骤包括:采用原子沉积工艺形成一化硅于所述衬底表面;所述第二沉积工艺包括重复执行若干次第二循环步骤;所述第二循环步骤包括:采用原子沉积工艺形成一氮化于所述氧化硅表面。本发明达到了精确调控氧化硅厚度和氮化厚度的效果,实现了对超超晶格薄膜厚度原子层级可控,从而能够形成具有较高质量的氧化硅氮化超晶格结构。
  • 制备氧化氮化晶格结构方法

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