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- [发明专利]一种自对准双层图形的形成方法-CN201410217691.0在审
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崇二敏;黄君
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上海华力微电子有限公司
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2014-05-20
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2014-08-06
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H01L21/311
- 本发明提供了一种自对准双层图形的形成方法,包括以下步骤,提供一半导体衬底,且在所述半导体衬底上依次形成有氧化硅层、多晶硅层、氮化硅层、底部抗反射层和光刻胶层,并对光刻胶层进行曝光显影;通过刻蚀工艺依次对底部抗反射层和氮化硅层进行刻蚀,直到暴露出多晶硅层上表面和氮化硅层的顶部表面;在氮化硅核心图形表面以及多晶硅层上表面形成氧化硅层;去除氮化硅核心图形顶部表面的氧化硅层,以及多晶硅层上表面的氧化硅层,以形成氧化硅侧墙;去除氮化硅核心图形,并以氧化硅侧墙为阻挡层对多晶硅层以及氧化硅层进行刻蚀;去除顶部氧化硅侧墙,形成自对准双层图形。
- 一种对准双层图形形成方法
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