[发明专利]一种半导体结构及其制备方法在审
申请号: | 202110504673.0 | 申请日: | 2021-05-10 |
公开(公告)号: | CN115332205A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 庄凌艺 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L29/06;H01L21/768;H01L21/3065;H01L21/306 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张竞存;张颖玲 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种半导体结构及其制备方法,所述半导体结构包括:衬底,所述衬底包括相对的上表面和下表面;贯穿所述衬底的通孔结构;位于上表面一侧的所述衬底内的沟槽,以及位于所述沟槽内的阻挡结构;位于所述通孔结构侧壁外侧的所述衬底中的空隙;其中,所述空隙位于所述阻挡结构的下方,且所述空隙的第一端与所述阻挡结构的底部接触。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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