专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种SiC结肖特基二极管-CN201721570348.X有效
  • 朱继红;蔺增金;赵小瑞;张志文 - 北京燕东微电子有限公司
  • 2017-11-22 - 2018-05-18 - H01L29/872
  • 本实用新型公开了一种SiC结肖特基二极管,其特征在于,包括:第一导电类型的SiC衬底;第一导电类型的SiC外延,位于衬底的第一表面上,其中,外延的掺杂浓度小于衬底的掺杂浓度;结区,从外延的远离衬底的表面延伸进入外延,结区包括多个第二导电类型的环状或者条状结构;第二导电类型的SiC结终端扩展区,自结区的结终端向远离结区的两侧延伸设置,掺杂浓度自结的结终端向两侧逐渐减小;介质,设置在外延的远离衬底的表面上,并具有斜坡结构,在与结区对应的部分形成开口;第一电极,设置在衬底的第二表面上;以及第二电极,包括覆盖开口的肖特基接触区和延伸到介质上的场板结构。
  • 一种sic结势垒肖特基二极管
  • [发明专利]隧穿增强型垂直结构的HEMT器件-CN202010714612.2在审
  • 钟敏 - 芜湖启迪半导体有限公司
  • 2020-07-23 - 2022-01-25 - H01L29/417
  • 该HEMT器件包括:衬底;缓冲,设置在衬底的一个表面上;电流阻挡,设置在缓冲远离衬底的表面;沟道,覆盖防扩散、电流阻挡和部分的缓冲,设置在沟道远离衬底的表面;防扩散,设置在电流阻挡之间;源极,设置在沟道远离电流阻挡的表面且具有第一延伸部,且第一延伸部覆盖部分的的表面并与形成肖特基接触;绝缘介质,覆盖部分的和另一部分的缓冲;栅极,设置在绝缘介质远离缓冲的表面且设置在源极的两侧;漏极,设置在衬底远离缓冲的表面。本发明的垂直结构的HEMT器件,将源极与在水平方向上的接触面积延长,且延长部分金属与形成肖特基接触,以提高器件的反向阻断性。
  • 增强垂直结构hemt器件
  • [发明专利]4H-SiC浮结结肖特基二极管及其制备方法-CN201410333652.7在审
  • 曹琳 - 西安永电电气有限责任公司
  • 2014-07-14 - 2016-01-27 - H01L29/872
  • 本发明公开了一种4H-SiC浮结结肖特基二极管及其制备方法,所述4H-SiC浮结结肖特基二极管包括:4H-SiC衬底;位于衬底上的第一4H-SiC外延,第一4H-SiC外延上方形成有浮结;位于第一4H-SiC外延和浮结上的第二4H-SiC外延;位于第二4H-SiC外延上的结区、结终端扩展及场限环;位于结终端扩展和场限环上方的SiO2、以及位于部分SiO2上的场板,场板中间形成肖特基接触窗口;位于衬底背面的欧姆接触的阴极、以及位于肖特基接触窗口内肖特基接触的阳极。本发明改善了4H-SiC浮结肖特基二极管反向漏电流大的问题,同时,将传统高温离子注入工艺形成浮结结构的方法改变为刻蚀外延工艺,解决了离子注入产生晶格损伤导致器件性能下降的问题,有效提升了器件性能。
  • sic浮结结势垒肖特基二极管及其制备方法
  • [实用新型]一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件-CN201621301959.X有效
  • 关世瑛 - 上海芯石微电子有限公司
  • 2016-11-30 - 2017-08-29 - H01L27/08
  • 本实用新型公开了一种适用小型化封装的半桥整流肖特基器件;该器件是在N+衬底两面同时形成上、下外延N‑,在上、下外延表面分别形成上、下肖特基区,在上、下肖特基区边缘,分别有上、下P+保护环,在上、下肖特基区表面的金属,分别形成器件的上、下阳极,在器件的上、下边缘,分别围绕高浓度的N型上、下掺杂环,上掺杂环连接的金属形成器件的共阴极;一颗本实用新型的器件,可实现半桥整流功能,而传统的半桥整流器件,需要两颗传统的肖特基器件才能实现;同时,本实用新型器件的芯片与一颗传统的肖特基器件的芯片尺寸相当,因此与同规格传统的半桥整流肖特基器件比,可实现半桥整流肖特基器件的封装小型化。
  • 一种适用小型化封装整流肖特基器件

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