专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器控制器、存储器系统以及操作存储器系统的方法-CN202210459056.8在审
  • 林钟淳 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-04-27 - 2023-04-21 - G11C16/26
  • 本公开的实施例涉及存储器控制器、存储器系统以及操作存储器系统的方法。存储器控制器包括读取操作控制器、错误校正电路和读取电压控制器。读取操作控制器控制存储器设备通过具有不同电平的读取电压从存储器设备的被选择的页读取数据段。错误校正电路确定数据段的失效位数。读取电压控制器基于存储器设备的擦写循环计数以及指示失效位数中的最大失效位数的参考失效位数,从在第一读取电压表中包括的电压变化之中选择参考电压变化,并且基于参考电压变化以及失效位数中的对应的一个失效位数与参考失效位数的比值来调整读取电压中的每个读取电压的电平。
  • 存储器控制器系统以及操作方法
  • [发明专利]存算一体的数据处理方法及存算一体的电路系统-CN202211580639.2在审
  • 黄健;张莘睿;刘显平;虞志益 - 中山大学
  • 2022-12-09 - 2023-04-21 - G11C16/26
  • 本发明提供的存算一体的数据处理方法及系统,方法包括以下步骤:获取目标数据的权重数据,将权重数据按位存储至存算阵列中的对应字线的存储单元;获取目标数据输入至存算阵列的位线,根据目标数据的数据值以及当前输入的数位确定位线的第一变化值;根据目标数据的数位以及权重数据的数位确定字线的第二变化值;将第一变化值与第二变化值进行汇总输出得到阵列电流,将阵列电流进行汇总得到目标结果;方案无需额外的数模转换电路,具有简化输入电路的优点,可大幅减少权重写入所耗时间,且可大幅减少阈值电压漂移对计算精度的影响,具有高可靠性的优点,可广泛应用于计算机内存技术领域。
  • 一体数据处理方法电路系统
  • [发明专利]搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法-CN202210916834.1在审
  • 李卫稙;鲁官宇;宋弦锺 - 三星电子株式会社
  • 2022-08-01 - 2023-04-18 - G11C16/26
  • 公开了搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法。非易失性存储器装置包括具有彼此不同的第一状态和第二状态的多个存储器单元。搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法包括:确定表示数据读取操作被执行的次数的数量n;选择读取电压的n个读取电压电平,使得读取电压电平的数量等于数据读取操作的次数,其中,所述n个读取电压电平彼此不同;通过使用全部的所述n个读取电压电平对所述多个存储器单元执行n次数据读取操作来生成n个单元计数值;以及通过使用所述n个读取电压电平和所述n个单元计数值执行基于一阶多项式的回归分析来生成读取电压的最佳读取电压电平。
  • 搜索非易失性存储器装置读取电压方法
  • [发明专利]半导体存储器装置和操作半导体存储器装置的方法-CN202210548948.5在审
  • 张晶植;崔允植 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-05-20 - 2023-04-18 - G11C16/26
  • 本技术涉及半导体存储器装置和操作半导体存储器装置的方法。半导体存储器装置包括:存储块,该存储块包括多个存储器单元,该多个存储器单元被配置成编程为擦除状态和多个编程状态;电压发生电路,该电压发生电路被配置成生成在读取操作期间要施加到存储块的字线的读取电压;以及读写电路,该读写电路被连接到存储块的位线并且被配置成在读取操作期间通过在预定时间单元内对感测节点的基于多个存储器单元的单元电流的电位电平进行感测来锁存数据;其中,读取电压在预定时段中连续地施加到字线,并且在预定时段中根据时间逐渐增大。
  • 半导体存储器装置操作方法
  • [发明专利]在非易失性存储器(NVM)装置中读取数据的方法和NVM装置-CN202211224415.8在审
  • 张孝正;金真怜;朴世桓;李知尚 - 三星电子株式会社
  • 2022-10-08 - 2023-04-07 - G11C16/26
  • 公开了在包括具有多个状态的多个存储器单元的非易失性存储器装置中读数据的方法和非易失性存储器装置,该多个状态包括第一状态和第二状态。在该方法中,执行针对第一状态的第一读取操作,执行针对第二状态的第二读取操作。为了执行第一读取操作,通过执行针对第一状态的谷单元计数操作获得针对第一状态的谷的单元计数,基于单元计数和针对第一状态的至少一个第一参考参数确定针对第一状态的第一读取电压电平,通过使用第一读取电压电平来执行针对第一状态的第一感测操作。为了执行第二读取操作,基于单元计数和第二状态的至少一个第二参考参数确定针对第二状态的第二读取电压电平,通过使用针对第二读取电压电平执行针对第二状态的第二感测操作。
  • 非易失性存储器nvm装置读取数据方法
  • [发明专利]一种非易失存储器读处理方法及装置-CN201910400130.7有效
  • 张晓伟 - 兆易创新科技集团股份有限公司;西安格易安创集成电路有限公司
  • 2019-05-14 - 2023-04-07 - G11C16/26
  • 本发明实施例提供了一种非易失存储器读处理方法及装置,该方法包括:在对所述待处理存储块执行读操作时,确定选中的目标字线;其中,所述待处理存储块为:已经进行过大于预设次数的读操作的存储块;确定所述待处理存储块中边沿字线的导通阈值电压;其中,所述边沿字线为所述待处理存储块中的起始字线,和/或,末尾字线;对所述目标字线施加第一电压,且,对所述边沿字线施加第二电压;其中,所述第二电压大于所述第一电压,且所述第二电压大于所述导通阈值电压。本发明实施例在边沿字线施加大于该导通阈值电压的第二电压,可以确保边沿字线导通,因此可以避免已经进行过较多次数读操作的存储块中,因边沿字线造成的读取错误现象。
  • 一种非易失存储器处理方法装置
  • [发明专利]一种3D NAND存储器的读取方法及装置-CN202110728980.7有效
  • 王礼维 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-09-09 - 2023-04-07 - G11C16/26
  • 本发明提供一种3D NAND存储器的读取方法及装置,在时钟触发信号之前,将每个组中参考位线预充至预设电压,在地址译码之后,在目标位线与参考位线不同时,通过将目标位线与参考位线连接,使得目标位线处于可读取电压的状态,进而,在选中目标字线后,获取目标位线上的感应电流。这样,参考位线的预充无需占用时钟时间,而目标位线通过与参考位线的连接而处于可读取电压的状态,这种耦合方式较预充方式几乎无需占用时钟时间,可以大大减少读取操作的时钟时间,同时,可以大大降低功耗。
  • 一种nand存储器读取方法装置
  • [发明专利]存储器系统及其操作方法-CN201811564553.4有效
  • 洪志满 - 爱思开海力士有限公司
  • 2018-12-20 - 2023-04-07 - G11C16/26
  • 本发明提供了一种存储器系统。该存储器系统包括:存储器装置,存储数据,并且在读取操作中读取并输出所存储的数据;以及存储器控制器,对在读取操作中从存储器装置接收到的数据执行错误校正操作,并基于错误校正操作的结果控制存储器装置执行读取重试操作,其中当在读取重试操作中读取的数据之中的特定数据的数量在设定范围内时,存储器装置将在读取重试操作中读取的数据输出至存储器控制器。
  • 存储器系统及其操作方法
  • [发明专利]存储器控制器、存储器系统以及存储器控制器的操作方法-CN202210540102.7在审
  • 鲁官宇;宋弦钟;李伟植;孙弘乐;申东旻;崔城赫 - 三星电子株式会社
  • 2022-05-17 - 2023-04-04 - G11C16/26
  • 提供一种计算最佳读取电平的存储器控制器、一种包括存储器控制器的存储器系统、以及一种存储器控制器的操作方法。存储器控制器包括处理器和读取电平计算模块,处理器被配置为控制对存储器件的存储器操作,读取电平计算模块被配置为:接收基于对使用多个电平读取的数据的计数操作生成的N个计数值,N个计数值分别对应于N个读取电平,以从N个读取电平选择的选定读取电平作为输入并且以与选定读取电平相对应的计数值作为输出,建模出至少两个单元计数函数,并且基于从至少两个单元计数函数选择的最佳单元计数函数来计算最佳读取电平,其中,N是等于或大于四的整数,其中,N个计数值包括与不同的至少四个读取电平相对应的计数值。
  • 存储器控制器系统以及操作方法

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