“待测试芯片”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1985919个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]电子芯片的测试系统、方法及装置-CN201510818808.5在审
发明人：彭俊良 -专利权人：硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
申请日： 2015-11-23 - 公布日： 2016-04-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：计算机，通过数据接口与待测芯片相连接，用于识别待测芯片的显示参数，生成与显示参数相匹配的测试图像，并将测试图像发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及控制器，与待测芯片相连接，用于对待测芯片利用测试图像进行测试的过程进行控制，并检测待测芯片的测试结果。本发明解决了相关技术中电子芯片的自动测试设备因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。
电子芯片测试系统方法装置

[实用新型]芯片测试装置-CN202220752884.6有效
发明人：齐颖飞;叶红波;温建新 -专利权人：上海集成电路研发中心有限公司;上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司
申请日： 2022-04-02 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种芯片测试装置，该装置包括测试机、测试头、承载盘、探针卡和密封件；探针卡设置于测试头，探针卡上设有探针；承载盘设置于测试头的下方，承载盘用于放置待测芯片，承载盘并用于带动待测芯片进行移动，测试头用于带动探针与待测芯片的引脚接触；测试机与测试头电连接，测试机用于在探针与引脚接触时对待测芯片进行测试；密封件设置于测试头和/或承载盘，密封件用于在探针与待测芯片的引脚接触时对探针和待测芯片进行密封本实用新型的芯片测试装置通过密封件对探针与待测芯片进行密封，使得探针和芯片的引脚上不会结霜，能够对芯片的不同引脚进行不间断测试，能够保证芯片测试时的效率，能够避免引脚或探针结霜带来的问题。
芯片测试装置

[发明专利]一种并行测试装置和设计方法-CN202011621286.7在审
发明人：刘玏;马成英 -专利权人：北京振兴计量测试研究所
申请日： 2020-12-30 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种并行测试装置和设计方法，包括待测芯片、测试机台、测试板和测试软件单元，所述的待测芯片有n个，并行安装在所述测试板上，所述测试板上设置有n个待测芯片安装位置，保证每个测试芯片的管脚与测试通道连接，从而实现每个测试芯片的管脚与所述的测试机台连接；所述的测试机台为测试芯片提供测试的电信号、数据的传输和测试软件单元安装的载体；所述的测试软件单元提供每个待测芯片的测试流程，并判断每个测试芯片的状态。本发明能够解决现有芯片检测耗时久、测试设备资源使用率不高等技术问题。
一种并行测试装置设计方法

[实用新型]温度传感器最终测试用温度校准系统-CN200920214866.7无效
发明人：邹峰;陈婷;缪小波;陈涛 -专利权人：上海华虹NEC电子有限公司
申请日： 2009-12-31 - 公布日： 2011-02-02 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种温度传感器最终测试用温度校准系统，包括测试机、待测芯片以及参考芯片，所述测试机分别连接所述待测芯片和所述参考芯片，所述参考芯片设置在所述待测芯片附近，用来采集所述待测芯片附近的温度信息，并将该温度信息发送给所述测试机，所述测试机还接收所述待测芯片采集的温度信息，并将待测芯片的所采集的温度信息校准到与所述参考芯片一致。本实用新型通过采用参考芯片对待测芯片周围的温度进行测试，使得测试机能够准确的对待测温度传感器芯片进行校准，从而提高了温度传感器的准确性。
温度传感器最终测试温度校准系统

[发明专利]一种交换芯片的测试方法及系统-CN201710508592.1有效
发明人：陈旭辉;符可可;李丹华;杨晨;蒋佩佩 -专利权人：中航光电科技股份有限公司
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种交换芯片的测试方法及系统，属于嵌入式芯片测试技术领域。发明首先对待测试交换芯片的路由进行配置；然后选用具有数据交换功能的交换芯片作为测试板交换芯片，将该测试板交换芯片的各端口与待测试交换芯片的各端口连接，并根据待测试交换芯片的路由生成测试板交换芯片的路由；最后按照待测试交换芯片所配置的路由和测试板交换芯片的路由生成路由测试用例，实现对待测试交换芯片路由功能的测试。本发明的所采用的测试方法独立于外部设备，通过一个具有交换功能的交换芯片就可以实现对待测试交换芯片配置端口的全面测试，测试方法简单，适用性强，可根据待测试交换芯片端口的变化进行灵活设置。
一种交换芯片测试方法系统

[发明专利]失效点的定位方法、装置、计算机设备、介质和程序产品-CN202210897252.3在审
发明人：庞超;倪毅强;杨施政;陈选龙;何亮;张志鑫;刘宇锋 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：所述方法包括：获取通过红外热成像装置对被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的热成像图片，并对所述热成像图片进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的相位角；获取通过图像扫描装置对所述被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的三维图像，并对所述三维图像进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的三维坐标；根据所述待测试芯片表面各点的相位角和三维坐标计算所述待测试芯片中失效点的三维坐标。采用本方法能够提高芯片内部失效点定位精度。
失效定位方法装置计算机设备介质程序产品

[发明专利]银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法-CN201710167458.X在审
发明人：禹乾勋;赵勇 -专利权人：深圳市华宇半导体有限公司
申请日： 2017-03-21 - 公布日： 2018-10-09 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。
机械手测试机待测芯片测试芯片自动化测试系统银行安全测试结果信息测试机控制数字信号测试区返回电源分类

[实用新型]银行安全芯片自动化测试系统-CN201720273894.0有效
发明人：禹乾勋;赵勇 -专利权人：深圳市华宇半导体有限公司
申请日： 2017-03-21 - 公布日： 2017-12-26 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种银行安全芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。
银行安全芯片自动化测试系统

[发明专利]芯片测试方法及装置-CN202011259794.5在审
发明人：胡信伟;侯林;张宇;冯勖;顾军;李翔;张熙瑞 -专利权人：南京派格测控科技有限公司
申请日： 2020-11-12 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明提供了芯片测试方法及装置。预先在分选机转盘上设置至少两个工位，包括依序排列的对应第一测试项目的第一测试工位和对应第二测试项目的第二测试工位。工位杆的吸嘴从入料口吸附至少两个待测芯片依序进入分选机转盘；当第一待测芯片转入到第二测试工位上方且排在后一顺序的第二待测芯片转入到第一测试工位上方时，工位杆下移将第一待测芯片和第二待测芯片分别放置到第二测试工位和第一测试工位中分别同时进行测试，测试期间吸嘴持续吸附待测芯片；当测试结束时，工位杆上移将待测芯片从测试工位提出并向前旋转；当移动到出料口时，控制吸嘴停止吸附待测芯片使其从出料口离开分选机转盘。本发明的方案能够提高芯片测试的效率。
芯片测试方法装置

[发明专利]基带芯片性能的测试方法和装置-CN201810099066.9在审
发明人：孙倩;朱琳 -专利权人：交通运输部水运科学研究所
申请日： 2018-01-31 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01S19/23 文献下载
摘要：本发明提供一种基带芯片性能的测试方法和装置，该方法包括：在待测试基带芯片追踪到预设卫星时，采集预设时间段内待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值以及待测试基带芯片输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值，获取待测试基带芯片的功耗；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。本发明在获取基带芯片正常追踪卫星时的功耗及定位性能，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。
测试基芯片基带芯片预设方法和装置预设时间段工作电流工作电压功耗位置坐标信息船舶航线追踪测试定位性能选择提供输出卫星采集行驶应用

[发明专利]一种芯片测试系统及方法-CN202111683173.4在审
发明人：肖钟凯;毛成华;安奇;王怡珊;李楠 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种芯片测试系统及方法，其中，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。
一种芯片测试系统方法

[实用新型]一种测试设备及测试系统-CN202320250269.X有效
发明人：李继伟;魏兵;王恩;李阳 -专利权人：西安紫光展锐科技有限公司
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种测试设备及测试系统。该设备包括：测试电路、负载和电压稳定电路，其中，所述负载分别与所述测试电路和所述电压稳定电路连接，所述负载还用于与待测试芯片连接；所述测试电路用于对所述待测试芯片进行测试，所述负载用于使得所述待测试芯片做功，所述电压稳定电路用于稳定所述待测试芯片的输出电压。提高了芯片PTC测试结果的准确性。
一种测试设备系统

[发明专利]芯片测试方法及相关设备-CN202110502163.X在审
发明人：倪天明;宋钛 -专利权人：腾讯科技（深圳）有限公司;安徽工程大学
申请日： 2021-05-08 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请属于计算机技术领域，具体涉及一种芯片测试方法、芯片测试装置、计算机可读介质以及电子设备。该芯片测试方法包括：获取用于对芯片进行质量预测的预测模型；根据采集到的测试数据样本以及所述预测模型对当前测试流程进行流程修改，以生成针对待测芯片的适应性测试流程；根据所述适应性测试流程对所述待测芯片进行质量测试，以得到所述待测芯片的质量测试结果；根据所述待测芯片的质量测试结果更新所述测试数据样本，并根据所述待测芯片的质量测试结果更新所述预测模型。本申请可以减少芯片测试时间，降低芯片测试成本，提高芯片测试效率和测试精度。
芯片测试方法相关设备

[实用新型]一种老化测试板-CN201821756791.0有效
发明人：符兴建 -专利权人：龙芯中科技术有限公司
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种老化测试板，涉及电子设备技术领域。本实用新型通过在老化测试板上设置控制模块以及与控制模块连接的至少一个测试座，在测试座上设置有温度采集模块和温度调节模块，测试座用于放置待测试芯片，温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块通过控制温度调节模块，以对测试座内的待测试芯片进行升温或降温。通过温度采集模块采集待测试芯片的温度信号，控制模块控制温度调节模块对测试座内的待测试芯片进行升温或降温，使得每个待测试芯片的温度都可单独调节，保证所有的待测试芯片都能达到所需的老化测试温度，提高老化测试结果的准确性，且无需将老化测试板放置在老化箱内进行老化测试，节省了空间和成本。
待测试芯片测试座老化测试温度采集模块温度调节模块老化测试板控制模块温度信号设置控制模块采集本实用新型单独调节电子设备老化保证

[实用新型]芯片测试治具及系统-CN202020991989.8有效
发明人：卢群 -专利权人：格科微电子（上海）有限公司
申请日： 2020-06-03 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种芯片测试治具及系统，所述芯片测试治具，包括：测试板，所述测试板上设置有芯片放置区域，所述芯片放置区域设置有测试触点及真空孔，其中：所述真空孔用于连接抽真空装置，以通过所述真空孔内的真空吸力将待测试芯片吸附于所述芯片放置区域，当所述待测试芯片被吸附时，所述测试触点与所述待测试芯片的引脚接触。上述方案，能够提高芯片测试治具的通用性。
芯片测试系统