[发明专利]半导体封装件及其形成方法在审
申请号: | 202110690696.5 | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN113658944A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 张丰愿;黄博祥;鲁立忠;李志纯;卢以谦;陈又豪;张克正 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/367;H01L21/50 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 半导体封装件包括第一封装组件,该第一封装组件包括:第一半导体管芯;第一密封剂,位于第一半导体管芯周围;以及第一再分布结构,电连接至第一半导体管芯。半导体封装件还包括接合至第一封装组件的第二封装组件,其中,第二封装组件包括:第二半导体管芯;散热器,位于第一半导体管芯和第二封装组件之间;以及第二密封剂,位于第一封装组件和第二封装组件之间,其中,第二密封剂具有比散热器低的热导率。本申请的实施例还涉及形成半导体封装件的方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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