专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1076个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种多态磁性存储器件及制备方法-CN202111355394.9在审
  • 陆亚林;吴清梅;傅正平;崔璋璋;王建林;黄浩亮;黄秋萍 - 中国科学技术大学
  • 2021-11-16 - 2022-02-18 - H01L43/08
  • 本发明提供了一种多态磁性存储器件及制备方法,该多态磁性存储器件是基于范德瓦尔斯异质结的自旋阀器件,主要由第一磁性层、非磁性层、第二磁性层以及绝缘层叠加构成范德瓦尔斯异质结。该范德瓦尔斯异质结中,在第一磁性层与非磁性层界面处和第二磁性层与非磁性层界面处,引入相反极化方向的自旋积累能够打破原先简并的电子输运状态,从而在电学探测时完整地呈现出四个电阻态。由于四个磁性状态对应四个不同的电阻态,所以可以进一步实现对两个磁性层的四种磁性状态的电学探测,并且通过外电场能够调控四个态的大小和窗口,最终实现在一个存储单元中的多态存储。
  • 一种磁性存储器件制备方法
  • [发明专利]一种半导体结构的形成方法-CN202010708962.8在审
  • 张建华 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2020-07-22 - 2022-01-25 - H01L43/08
  • 本申请提供半导体结构的形成方法,所述方法包括:提供衬底,所述衬底包括器件区和辅助区;在所述衬底表面形成介质层;在所述介质层表面形成缓冲层;在所述器件区形成贯穿所述缓冲层和所述介质层的连接结构;在所述辅助区形成贯穿所述缓冲层和所述介质层并延伸至所述衬底中的辅助沟槽;在所述辅助沟槽侧壁和底部以及所述缓冲层和所述连接结构表面形成磁隧道结材料层,所述磁隧道材料层不填满所述辅助沟槽;刻蚀所述磁隧道结材料层和所述缓冲层在所述连接结构表面形成磁隧道结。所述缓冲层可以提高辅助沟槽的质量,进而提高磁隧道结的位置精度,此外所述缓冲层还可以提高化学机械研磨所述连接结构时的均匀性。
  • 一种半导体结构形成方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top