专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种聚光太阳能电池-CN201620773820.9有效
  • 易德福;守建川 - 江西德义半导体科技有限公司
  • 2016-07-21 - 2017-03-29 - H01L31/0304
  • 本实用新型公开了一种聚光太阳能电池,包括聚光器、电池组件、散热架和水冷管道,所述电池组件设置在聚光器的聚光焦斑所在区域,所述电池组件包括框架和从上至下依次层压并装在框架内的透光保护、第一填充电池、第二填充和背板,所述电池组件的背面固定连接有若干条形散热架,所述散热架沿电池组件背面宽度方向设置,并沿电池组件背面长度方向均匀分布,所述散热架之间相互平行,
  • 一种砷化镓聚光太阳能电池
  • [发明专利]一种光电器件及其制备工艺-CN202310572708.3在审
  • 张岚;黄文勇;唐豪;许明;谈杰 - 平湖科谱激光科技有限公司
  • 2023-05-18 - 2023-07-18 - H01L31/18
  • 本申请公开了一种光电器件及其制备工艺;首先在衬底的第一表面上形成光电器件,其次利用碱性溶液处理衬底的第二表面,以去除第二表面上的自然氧化,最后利用蒸镀工艺在第二表面上依次形成包括金属粘接和金属导电的金属接触,金属粘接的材料为镍或铂,金属粘接衬底分层设置;本申请通过利用碱性溶液去除衬底表面的自然氧化,并抑制水分子在衬底的表面吸附,并采用IPA干燥使得衬底表面无水分子和杂质碳吸附,在常温下利用蒸镀工艺在衬底的表面形成金属接触,以使金属接触衬底直接实现欧姆电接触,使得晶圆无需经高温退火工艺实现欧姆电接触,提高了晶圆制备的良率。
  • 一种光电器件及其制备工艺
  • [发明专利]一种厚膜图形绝缘体上的材料的制备方法-CN03141886.4有效
  • 董业民;程新利;陈猛;王曦;张峰 - 上海新傲科技有限公司
  • 2003-07-29 - 2004-07-21 - H01L21/205
  • 本发明提出了一种厚膜图形SOI材料的制备方法,先采用SIMOX技术在体中注氧隔离形成薄膜图形SOI材料,其特征在于然后利用CVD气相外延方法在衬底表层外延形成单晶薄膜、锗薄膜或薄膜中的一种,或在锗薄膜上继续外延单晶形成应变的结构。具体工艺步骤包括4步:(1)在衬底上光刻阻挡离子注入的掩模;(2)离子注入;(3)高温退火;(4)CVD外延生长单晶薄膜、锗薄膜或薄膜中的一种。外延厚度通过沉积速率调节,其厚度为0.7~50μm。本发明所制备的厚膜图形SOI材料为MEMS和MOEMS集成提供了衬底材料。
  • 一种图形绝缘体材料制备方法
  • [发明专利]一种单晶薄膜制备技术-CN201310036262.9无效
  • 向勇;闫宗楷;刘振鹏;臧亮 - 向勇
  • 2013-01-31 - 2013-05-22 - C30B25/02
  • 一种单晶薄膜制备技术,属于半导体制造技术领域,该技术可以有效缓解生产难度,提高生产效率,其步骤包括:a.提供可供预处理的基底;b.清洗;c.将清洗好的基底送入真空的腔体中;d.在基底上表面生长一化铝;e.在化铝上生长;f.刻蚀;g.抛光。本技术中化铝有效将衬底分隔开,为后续工艺的剥离做准备,提高了效率,而且该技术利用了不同物质的腐蚀速率不同进行了的分离,非常方便有效,它降低了制作成本和操作难度,具有很好的推广利用价值
  • 一种单晶砷化镓薄膜制备技术
  • [实用新型]一种石墨烯/太阳电池-CN201420516526.0有效
  • 林时胜;李晓强 - 浙江大学
  • 2014-09-10 - 2015-03-25 - H01L31/0352
  • 本实用新型涉及一种石墨烯/太阳电池,该石墨烯/太阳电池自下而上依次有背面电极、n型掺杂或p型掺杂的、石墨烯和正面电极,其中石墨烯的石墨烯为1~10。本实用新型的石墨烯/太阳电池利用石墨烯材料的高载流子迁移率、高透光性及高导电性,结合优异的半导体性质,有利于在低成本及简单工艺的基础上制造高转化效率的太阳电池。
  • 一种石墨砷化镓太阳电池
  • [发明专利]一种降低薄膜材料中缺陷的方法-CN201910776538.4有效
  • 王智勇;兰天;代京京 - 北京工业大学
  • 2019-08-22 - 2021-10-15 - H01L21/324
  • 本发明公开了一种降低薄膜材料中缺陷的方法,包括:提供表面为GaAs薄膜材料的基片;将基片置于真空退火炉内,在600℃‑1250℃进行退火处理;随后在GaAs薄膜材料的表面制备一保护;将带有保护的基片放置于离子注入机内进行Ga离子注入;再把该保护腐蚀去除后,将基片放置于真空退火炉中,装入在热处理温度下产生特定蒸汽压时所需保护;抽真空,调节压力和温度,进行退火处理,退火温度为600℃‑1250℃;将炉内温度降至室温,本发明的方法简单快捷,可用于改善薄膜的质量,从而用于制备高质量的光电器件以及电力电子器件。
  • 一种降低砷化镓薄膜材料缺陷方法

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