[发明专利]器件、封装的半导体器件和半导体器件封装方法在审

专利信息
申请号: 201611182859.4 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN106981475A 公开(公告)日: 2017-07-25
发明(设计)人: 余振华;余国宠 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明实施例公开了器件、封装的半导体器件和封装半导体器件的方法。在一些实施例中,器件包括第一互连结构、连接至第一互连结构的第一集成电路管芯,以及设置在第一集成电路管芯上方,并与其连接的第二集成电路管芯。第二互连结构设置在第二集成电路管芯上方。第一通孔连接在第一互连结构和第二互连结构之间,第二通孔连接在第一集成电路管芯和第二互连结构之间。模塑材料设置在第一集成电路管芯、第二集成电路管芯、多个第一通孔和多个第二通孔周围。本发明实施例涉及器件、封装的半导体器件和半导体器件封装方法。
搜索关键词: 器件 封装 半导体器件 方法
【主权项】:
一种半导体器件,包括:第一互连结构;第一集成电路管芯,连接至所述第一互连结构;第二集成电路管芯,设置在所述第一集成电路管芯上方并与所述第一集成电路管芯连接;第二互连结构,设置在所述第二集成电路管芯上方;多个第一通孔,连接在所述第一互连结构和所述第二互连结构之间;多个第二通孔,连接在所述第一集成电路管芯和所述第二互连结构之间;以及模塑材料,设置在所述第一集成电路管芯、所述第二集成电路管芯、所述多个第一通孔和所述多个第二通孔周围。
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