专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种半导体芯片封装结构-CN202120939532.7有效
  • 李希;张祥贵;徐仁庆;罗禄全 - 赛尔特安(无锡)电子有限公司
  • 2021-04-30 - 2022-02-18 - H01L23/488
  • 本实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体芯片封装结构,包括芯片、第一贴片电极和第二贴片电极,所述第一贴片电极包括焊接和一体成型于焊接上的安装,所述安装芯片的一安装面接触且所述安装芯片的接触面积小于所述芯片安装面的面积;所述焊接用于与外接电路板连接,通过减小芯片与贴片电极之间的接合面积,有效减少了芯片的热应力,避免芯片开裂或器件故障,另一方面,贴片电极的焊接安装一体成型设置,使得贴片电极兼具焊接、散热、减小热应力的功能
  • 一种半导体芯片封装结构
  • [发明专利]一种DNA测序仪反应芯片装置-CN201510711543.9有效
  • 冯玉臣;张睿;陈哲;范东雨;王者馥;王绪敏;殷金龙;任鲁风 - 北京中科紫鑫科技有限责任公司
  • 2015-10-28 - 2016-02-03 - C12M1/00
  • 本发明涉及一种DNA测序仪反应芯片装置,反应芯片组件包括反应芯片安装座和反应仓底座组件,反应芯片安装座能够与反应仓底座组件相对旋转,并能够在一定的角度停止,以对反应芯片取出及放置;其中,在所述的反应芯片安装座的中间部分安装有所述的反应芯片,在反应芯片安装座的侧边设置有安装座支撑组件,其用以在取出或放置芯片时,支撑所述的反应芯片安装座;所述的安装座支撑组件包括扭簧支撑,在扭簧支撑的两端设置凸起,两个凸起之间连接有扭簧。本发明的DNA测序仪反应芯片装置包括能够相对翻转的连接在一起的两部分,并且,在翻转后能够固定在一定的角度,方便更换反应芯片,操作简单,结构稳固。
  • 一种dna测序仪反应芯片装置
  • [发明专利]一种倒装芯片键合设备-CN201510124424.3有效
  • 唐亮;叶乐志;周启舟;徐品烈;郎平;霍杰;刘子阳 - 北京中电科电子装备有限公司
  • 2015-03-20 - 2018-03-13 - H01L21/603
  • 本发明提供了一种倒装芯片键合设备,包括芯片传输机构,所述芯片传输机构包括安装和用于驱动所述安装运动的驱动,所述安装包括多个用于放置芯片的工位;其中,通过所述安装的运动,将位于其中一工位上的芯片从第一位置处移动至第二位置处;第一芯片抓取机构,用于抓取芯片后将所述芯片由下侧向上翻转,并在将所述芯片翻转后,将所述芯片放置在所述安装上位于所述第一位置处的一工位上;第二芯片抓取机构,用于将所述安装上位于所述第二位置处的工位上的芯片取出本发明引入了精密的芯片传输机构,可靠性高,使得倒装芯片键合设备在不降低效率的情况下适应大尺寸基材的倒装键合,大大提高了装片精度。
  • 一种倒装芯片设备
  • [实用新型]一种处理盒及安装在处理盒上的通用芯片-CN202221198080.2有效
  • 陈名栋 - 珠海纳思达信息技术有限公司
  • 2022-05-18 - 2022-09-13 - G03G21/18
  • 本实用新型公开一种处理盒及安装在处理盒的通用芯片架,其中,处理盒包括框架;由框架可旋转地支撑的感光构件;可拆卸地安装于框架的通用芯片架,通用芯片架能够适用于第一类芯片、第二类芯片、第三类芯片和第四类芯片;第一类芯片、第二类芯片、第三类芯片和第四类芯片均具有电接触和与电接触电连接的存储;通用芯片架具有安装电接触的第一安装。本实用新型提供的处理盒和通用芯片架,解决了现有的处理盒芯片种类多、样式结构不同,无法通用的技术问题,达到了多种芯片通用安装使用的技术效果,方便了用户使用,提升了用户的使用体验感。
  • 一种处理安装通用芯片
  • [实用新型]一种DFN1110-6双芯片高密度框架-CN202022482007.5有效
  • 李东;崔金忠;张明聪 - 成都先进功率半导体股份有限公司
  • 2020-11-02 - 2020-12-11 - H01L23/495
  • 本实用新型涉及半导体封装制造技术领域,特别是一种DFN1110‑6双芯片高密度框架,包括板状结构的矩形框架,所述框架上设有多个芯片安装单元,相邻芯片安装单元之间设有横向连筋;所述横向连筋包括凹陷和加强,所述加强的厚度大于所述凹陷的厚度,所述加强的一端连接其中一个芯片安装单元中的一个管脚,所述加强的另一端连接另一个芯片安装单元中的一个管脚。通过加强连接相邻的两个芯片安装单元,提升了相邻芯片封装单元之间的连接强度,能够芯片封装单元布置区域的面积,满足大面具排布的要求。进而提升整个框架中芯片封装单元的密度。
  • 一种dfn1110芯片高密度框架
  • [实用新型]一种SOT26引线框架及封装元件-CN202022481662.9有效
  • 张明聪;李东;崔金忠 - 成都先进功率半导体股份有限公司
  • 2020-11-02 - 2020-12-11 - H01L23/495
  • 本实用新型涉及半导体封装制造技术领域,具体涉及一种SOT26引线框架及封装元件;其中SOT26引线框架包括用于承装芯片的矩形框架,在框架上,设置有多个芯片安装,每个芯片安装包括1个引脚焊接区、3个芯片安置区和引脚槽;由上述SOT26引线框架制成SOT26封装元件,SOT26封装元件包括塑封体,塑封体内设有与SOT26封装形式相适应的芯片安装。相比传统引线框架中单个芯片安装对应放置一个芯片,本实用新型将芯片安装重新合理布局,能够使单个芯片安装放置多个芯片以适应待封装元件产品的结构功能,单个芯片安置区不再局限于安装单个芯片,使可封装产品的种类多样化
  • 一种sot26引线框架封装元件
  • [实用新型]安装部件、芯片组件及耗材盒-CN201922246015.7有效
  • 张维满;其他发明人请求不公开姓名 - 广州众诺电子技术有限公司
  • 2019-12-16 - 2020-10-27 - G03G15/00
  • 本实用新型设计一种安装部件、芯片组件及耗材盒,安装部件包括安装,还包括定位及变形;所述安装与定位固定连接;所述变形安装和/或定位连接,该形变在预定条件下会发生形变。本实用新型的安装部件通过将安装与定位固定连接,使得安装的时候比较方便;另外变形在预定条件下会发生形变,以便安装部件安装芯片的效果更佳。另外,具有该安装部件的芯片组件或者耗材盒,在安装至成像设备之后,芯片组件可以更好的与成像设备进行通信。且所述芯片组件也比较轻松的安装至成像设备或者耗材盒。
  • 安装部件芯片组件耗材
  • [发明专利]半导体装置-CN201980064631.0在审
  • 大岛正范;奥村知巳;平野敬洋 - 株式会社电装
  • 2019-09-19 - 2021-05-14 - H01L23/29
  • 半导体装置具备:半导体芯片(12),具有有源区域(124)和将有源区域包围的外周区域(125);金属部件(18),在半导体芯片侧的一面具有安装半导体芯片安装(182)和将安装包围的周围(183);接合部件(16),介于半导体芯片安装之间,将半导体芯片与金属部件连接;以及封固树脂体(14),将半导体芯片、金属部件的至少一面及接合部件一体地封固。金属部件,作为周围而具有:密接(184),以将安装包围的方式设置,与封固树脂体密接;和环状的非密接(185),设在安装与密接之间,不连接接合部件,与密接相比对于封固树脂体的密接性低。在非密接的全长的至少一分中,宽度的整个区域在半导体芯片的厚度方向的投影观察中设在与半导体芯片重叠的区域内。
  • 半导体装置
  • [实用新型]一种带芯片保护机构的显影盒-CN202121981764.5有效
  • 胡诚;黄宗仟 - 珠海超俊科技有限公司
  • 2021-08-20 - 2022-01-11 - G03G15/08
  • 一种带芯片保护机构的显影盒,包括框架、芯片保护机构、及安装在所述框架上的显影辊和芯片,所述被检测件安装于所述框架的长边一端,所述芯片保护机构包括第一接触和第二接触,所述第一接触安装在所述框架上且位于所述框架表面,可与成像设备的检测触点接触,第二接触安装在所述框架中且与所述芯片芯片触点接触,所述第二接触与显影辊在可与所述框架长边垂直方向上的距离大于所述第一接触与显影辊在该方向上的距离,所述第一接触和第二接触之间通过电连接通过在显影盒上安装所述芯片保护机构,使芯片可以被安装在框架内部,使芯片远离显影辊,有效地保护了芯片触点不受损坏和污损,提高了显影盒的可靠性和耐用性。
  • 一种芯片保护机构显影
  • [发明专利]安装精度测定用芯片安装精度测定用套件-CN201880084863.8有效
  • 山阴勇介 - 株式会社富士
  • 2018-02-12 - 2021-06-29 - H05K13/08
  • 安装精度测定用芯片设为具有:芯片主体(80);及一个以上的突出(81、82、83、84),设于该芯片主体(80)的安装侧的面上,而形成在从该芯片主体(80)的安装侧的面突出的位置处与供安装精度测定用芯片安装的部件接触的接触面,在芯片主体(80)的安装侧的面上,将一个以上的突出(81、82、83、84)仅配置在以该面的重心(G)为中心且以如下的长度为半径的圆形状的范围内,上述长度为从该重心(G)至外缘的距离中最长的距离(另外,将安装精度测定用套件设为具备:上述安装精度测定用芯片(64);及载置(100),能够载置该安装精度测定用芯片(64),且具有对该安装精度测定用芯片(64)的接触面进行粘贴的粘接性。
  • 安装精度测定芯片套件

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