专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种具有电流阻挡氮化发光二极管的制作方法-CN201010273166.2有效
  • 潘群峰;吴志强;黄少华 - 厦门市三安光电科技有限公司
  • 2010-09-06 - 2011-02-09 - H01L33/00
  • 一种具有电流阻挡氮化发光二极管的制作方法,在蓝宝石衬底上自下而上依次由n型氮化外延、有源、p型氮化外延和非掺杂氮化外延构成成氮化发光外延;在氮化发光外延之上定义电流阻止区,在电流阻止区的非掺杂氮化外延之上镀一金属作为掩膜以覆盖整个电流阻止区;采用电化学蚀刻将电流阻止区之外的非掺杂氮化外延去除;去除掩膜金属;在p型氮化外延和非掺杂氮化外延上制作透明导电;在电流阻止区范围内的透明导电上制作p电极。利用电化学蚀刻选择性定义电流阻挡,避免了干法蚀刻带来的损伤和钝化问题,获得基于非掺杂外延的具有电流阻挡效应的氮化发光二极管。
  • 一种具有电流阻挡氮化发光二极管制作方法
  • [发明专利]氮化外延的生长方法及氮化外延-CN202210884713.3在审
  • 张臻琢;赵德刚;杨静;梁锋;陈平;刘宗顺 - 中国科学院半导体研究所
  • 2022-07-26 - 2022-11-01 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种硅氮化外延的生长方法及氮化外延片,硅氮化外延的生长方法包括:将硅衬底放入反应室中;在硅衬底上生长氮化铝缓冲;在氮化铝缓冲上生长氮化铝缓冲;在氮化铝缓冲上生长氮化铟插入;在氮化铟插入上生长氮化外延;其中,生长氮化铟插入的温度低于生长氮化铝缓冲氮化外延的温度。在氮化铝缓冲上降温生长一氮化铟插入,降温过程中氮化铝缓冲氮化铝缓冲中出现裂纹,释放缓冲中的部分应力,同时氮化铟插入的生长能够覆盖裂纹,随后升温生长氮化外延,能够使氮化外延生长时受到更大更久的压应力
  • 氮化外延生长方法
  • [发明专利]非极化的复合氮化衬底及生产方法-CN200610067141.0无效
  • 彭晖 - 金芃;彭晖
  • 2006-04-05 - 2006-10-25 - H01L33/00
  • 本发明揭示非极化(non-polar)的复合氮化衬底及生产方法。非极化的复合氮化衬底的结构为:反射/欧姆/应力缓冲层层叠在支持衬底与非极化的氮化外延之间。生产非极化的复合氮化衬底的主要工艺步骤如下:在生长衬底上,依次生长中间媒介(或晶核)和非极化的第一氮化外延;层叠掩膜;蚀刻掩膜形成氮化窗口和掩膜条;生长非极化的第二氮化外延;层叠反射/欧姆/应力缓冲;键合支持衬底;剥离生长衬底、中间媒介(或晶核)、非极化的第一氮化外延、掩膜条、和非极化的第二氮化外延中带有空洞的部分,非极化的第二氮化外延中没有空洞的部分暴露
  • 极化复合氮化衬底生产方法
  • [发明专利]非极化的复合氮化衬底及生产方法-CN200610067517.8无效
  • 彭晖 - 金芃;彭晖
  • 2006-02-26 - 2006-10-11 - H01L33/00
  • 本发明揭示非极化(non-polar)的复合氮化衬底及生产方法。非极化的复合氮化衬底的结构为:反射/欧姆/应力缓冲层层叠在支持衬底与非极化的氮化外延之间。生产非极化的复合氮化衬底的主要工艺步骤如下:在生长衬底上,依次生长中间媒介(或晶核)和非极化的第一氮化外延;层叠掩膜;蚀刻掩膜形成氮化窗口和掩膜条;生长非极化的第二氮化外延;层叠反射/欧姆/应力缓冲;键合支持衬底;剥离生长衬底、中间媒介(或晶核)、非极化的第一氮化外延、掩膜条、和非极化的第二氮化外延中带有空洞的部分,非极化的第二氮化外延中没有空洞的部分暴露
  • 极化复合氮化衬底生产方法
  • [发明专利]一种外延片的制作方法、芯片的制作方法及芯片-CN202011419880.8在审
  • 张雪梅;王涛 - 重庆康佳光电技术研究院有限公司
  • 2020-12-04 - 2021-06-15 - H01L33/06
  • 本发明公开了一种外延片的制作方法、芯片的制作方法及芯片,所述外延片的制作方法包括如下步骤:在基底上依次生长N型氮化、多量子阱有源和第一P型氮化,获得氮化外延片;在所述氮化外延片上生长第一P型氮化的一侧生长耐高温膜;将所述耐高温膜选择性刻蚀,获得图案化的氮化外延片;在所述图案化的氮化外延片上生长第二P型氮化;将所述耐高温膜去除,得到表面粗化的外延片。通过在第一P型氮化上再生长出一第二P型氮化,使外延片的表面粗化,提高基于外延片的芯片的出光效率,增加亮度。
  • 一种外延制作方法芯片
  • [发明专利]氮化功率二极管及其制作方法-CN201611258251.5有效
  • 康玄武;刘新宇;黄森;王鑫华;魏珂 - 中国科学院微电子研究所
  • 2016-12-30 - 2019-12-03 - H01L29/861
  • 本发明提供一种氮化功率二极管及其制作方法,在重掺杂N型氮化衬底上方生长第一轻掺杂N型氮化外延;在第一轻掺杂N型氮化外延上方生长P型氮化外延;对P型氮化外延和第一轻掺杂N型氮化外延进行刻蚀,以形成贯穿于P型氮化外延或贯穿于P型氮化外延并伸入第一轻掺杂N型氮化外延的刻蚀图形;在含有刻蚀图形的P型氮化外延上方生长第二轻掺杂N型氮化外延;制作阳极和阴极,以形成氮化功率二极管本发明采用外延法替代离子注入法来形成氮化功率二极管中的P型掺杂结构,杂质有效激活率高,避免了依靠退火技术来提高离子注入中杂质有效激活率的问题,降低了工艺实现的难度。
  • 氮化功率二极管及其制作方法
  • [实用新型]具有电流横向扩展结构的发光二极管-CN201220445263.X有效
  • 潘群峰 - 厦门市三安光电科技有限公司
  • 2012-09-04 - 2013-03-13 - H01L33/14
  • 本实用新型公开了一具有电流横向扩展结构的发光二极管,其结构包括:衬底;n型氮化外延形成于衬底之上,并且其至少包含发光台面部和非发光部;有源形成于n型氮化外延的发光台面部之上;p型氮化外延形成于有源之上;n电极形成于n型氮化外延的非发光部之上并与n型氮化外延形成欧姆接触;其中,所述n型氮化外延的发光台面部包含一半绝缘电流横向疏导,并且电流横向疏导的位置介于有源与n电极欧姆接触面之间通过离子注入方式在n型氮化外延中引入一半绝缘,起到阻挡电流以最短路径流动,疏导电流横向扩展的作用。
  • 具有电流横向扩展结构发光二极管
  • [发明专利]基于直接键合工艺的金刚石氮化晶体管制备方法-CN202010617072.6有效
  • 吴立枢;孔月婵;郭怀新 - 中国电子科技集团公司第五十五研究所
  • 2020-06-30 - 2022-07-19 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种基于直接键合工艺的金刚石氮化晶体管制备方法,包括:清洗碳化硅氮化圆片和临时载片;碳化硅氮化圆片与临时载片正面相对临时键合;去除碳化硅氮化圆片的碳化硅衬底;清洗氮化外延;在氮化外延表面和金刚石衬底表面分别蒸发金属;利用氩原子束对氮化外延与金刚石衬底表面的金属进行轰击并完全去除掉金属,并进行键合;去除液分离金刚石氮化与临时载片;在金刚石氮化正面制备晶体管本发明利用直接键合工艺将氮化外延与金刚石衬底结合在一起,减少了对氮化外延损伤的风险,同时减少了低热导率键合材料的引入,可进一步提高金刚石对氮化晶体管的散热效果。
  • 基于直接工艺金刚石氮化晶体管制备方法
  • [发明专利]图形化衬底、制备方法及发光二极管-CN201510691884.4在审
  • 徐志波;李政鸿;谢翔麟;王肖 - 安徽三安光电有限公司
  • 2015-10-23 - 2016-02-24 - H01L33/12
  • 本发明提出了一种图形化衬底、制备方法及发光二极管,通过在具有复数个凸起的衬底表面沉积介质,利用介质的非晶体特性,使得PVD法沉积于凸起的侧面和顶面平台的氮化为非晶态,而覆盖于凸起间隙的平整表面的氮化铝是由微小晶粒组成的多晶随后该衬底应用于MOCVD法沉积氮化外延形成发光二极管时,利用在平整面上的氮化铝多晶态更易生长,而非晶态氮化铝不易沉积氮化外延的特性,外延选择性生长于凸起间隙的平整表面氮化上,而凸起侧面和顶面平台不易生长,减小侧面氮化外延生长,降低侧向生长的氮化外延与平整表面上正向生长的氮化外延合并时缺陷数量,提升最终形成的半导体元件的性能。同时,由于抑制了侧向氮化外延生长,正向生长的氮化外延更容易合并成一个平整表面。
  • 图形衬底制备方法发光二极管
  • [发明专利]氮化功率开关器件及其制作方法-CN201611260109.4在审
  • 康玄武;刘新宇;黄森;王鑫华;魏珂 - 中国科学院微电子研究所
  • 2016-12-30 - 2017-04-26 - H01L29/732
  • 本发明提供一种氮化功率开关器件及其制作方法,在轻掺杂N型氮化外延片上方生长P型氮化外延;对所述P型氮化外延和所述轻掺杂N型氮化外延片进行刻蚀,以形成贯穿于所述P型氮化外延或贯穿于所述P型氮化外延并伸入所述轻掺杂N型氮化外延片中的场环结构;在含有所述场环结构的P型氮化外延上方生长轻掺杂N型氮化外延;其中,所述场环结构包括至少一个槽形结构。本发明通过采用外延法替代离子注入法来形成氮化功率开关器件中的P型掺杂结构,杂质有效激活率高,避免了依靠退火技术来提高离子注入中杂质有效激活率的问题,降低了工艺实现的难度。
  • 氮化功率开关器件及其制作方法

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