专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]参考定位装置及放射线照射系统-CN202321020433.4有效
  • 贡秋平;耿文秀 - 中硼(厦门)医疗器械有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-09-26 - A61N5/10
  • 本申请涉及一种参考定位装置及放射线照射系统,涉及放射性射线辐照技术领域,其技术方案包括补偿组件,补偿组件用于将参考安装并固定到安装面上,补偿组件的一侧与参考的一侧连接,补偿组件的另一侧安装到安装面上参考通过补偿组件安装至安装面上,安装面可以是墙壁、桌面或者其他面,通过补偿组件避免参考直接安装至安装面上,可以降低安装面的不匹配或凹凸不平带来的参考位置误差,以实施精准治疗,同时最大程度地降低对待照体肿瘤细胞周围正常组织的辐射损伤
  • 参考定位装置放射线照射系统
  • [发明专利]眼睛配戴设备的镜片的位置变化-CN202180006464.1在审
  • G·凯勒;A·勒·凯恩;K·巴兰登;S·弗里克 - 依视路国际公司
  • 2021-01-04 - 2022-07-08 - G02C13/00
  • 一种用于确定配戴者所配戴的眼睛配戴设备的位置变化的方法,所述方法包括:‑获得表示所述配戴者所配戴的眼睛配戴设备的参考位置的参考数据,所述眼睛配戴设备包括至少一个眼科镜片、和镜架,所述至少一个眼科镜片安装在所述镜架上;‑基于所述参考数据确定至少一个参考位置参数,所述参考位置参数指示所述眼睛配戴设备在所述配戴者的面部上的参考位置;‑获得表示所述配戴者所配戴的眼睛配戴设备的当前位置的当前数据;‑基于所述当前数据确定至少一个当前位置参数,所述当前位置参数指示所述眼睛配戴设备在所述配戴者的眼睛前方的当前位置;‑比较所述参考位置参数和当前位置参数以确定所述配戴者所配戴的眼睛配戴设备的位置变化。
  • 眼睛配戴设备镜片位置变化
  • [发明专利]车辆控制方法和系统-CN202111669713.3有效
  • 黄超;叶玥 - 上海仙途智能科技有限公司
  • 2021-12-31 - 2023-08-25 - B60W30/09
  • 其中车辆控制方法包括:获取车辆的当前帧参考路径及历史参考路径,历史参考路径包括当前帧相邻上一帧的参考路径;根据当前帧参考路径及历史参考路径,确定当前帧参考路径是否存在当前障碍的横向震荡距离,横向震荡距离为在车辆避让当前障碍时当前帧的参考路径相较于相邻上一帧的参考路径偏移量大于车宽的一半;如果当前帧参考路径存在当前障碍的横向震荡距离,则去掉当前帧参考路径中的横向震荡距离,得到当前帧的待填参考路径;及,根据相邻上一帧的参考路径,更新当前帧的待填参考路径,得到当前帧的更新后参考路径,以控制车辆按照当前帧的更新后参考路径行驶
  • 车辆控制方法系统
  • [发明专利]一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法-CN201610237541.5有效
  • 杨晓;刘学建;姚秀敏;黄政仁;陈健;杨金晶 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2016-04-15 - 2019-02-26 - G01N9/24
  • 本发明提供一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法,包括将已知密度物质作为参考与被测物体一起置于检测台;参考与被测物体距检测台中心距离一致;对两者线阵列扫描;取检测结果中包含被测物体与参考任一切面为分析对象,以射束硬化环状伪影中心为圆心做基准圆,得到在基准圆圆周上与该中心距离一致的参考及被测物体切面位置;在参考切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做参考圆,该圆所在范围均在参考切面之内;在被测物体切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做被测物体圆,该圆所在范围均在被测物体切面之内;被测物体圆与参考圆面积一致;利用工业CT对两圆进行灰度分析以得到两者灰度;基于该灰度计算被测物体密度值。
  • 一种工业ct分析物体密度分布方法
  • [发明专利]车辆轨迹优化方法、装置、电子设备和存储介质-CN202110069601.8有效
  • 由长喜 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2021-01-19 - 2021-04-02 - B60W30/095
  • 本申请实施例公开了一种车辆轨迹优化方法、装置、电子设备和存储介质;本申请实施例可以获取车辆的当前位置信息以及在预设时长内规划的初始参考轨迹,确定车辆在初始参考轨迹中行驶特征的特征约束信息,计算初始参考轨迹的基本代价,识别该车辆的至少一个目标障碍,根据初始参考轨迹和每个目标障碍的预测行驶轨迹,计算初始参考轨迹的障碍代价,根据车辆的当前系统状态和目标系统状态计算该初始参考轨迹的终值代价,基于该基本代价、障碍代价和终值代价确定初始参考轨迹的全局代价,利用该全局代价对初始参考轨迹进行更新,得到更新后参考轨迹,根据更新后参考轨迹控制该车辆行驶。
  • 车辆轨迹优化方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]表面纹理的检验方法-CN201210391776.1无效
  • 苏瑞尧;刘彦辰;谢秉澂;王俊胜 - 财团法人工业技术研究院
  • 2012-10-16 - 2014-03-26 - G01N33/00
  • 一种表面纹理检验方法,首先利用传感器以预设条件接触参考以感测该参考的表面纹理所产生的压力振动信息,再分析该参考的表面纹理所产生的压力振动信息,以取得一组表面纹理与压力振动信息的关联性资料,接着使用该传感器以该预设条件接触待测以感测该待测的表面纹理所产生的压力振动信息,最后根据该组表面纹理与压力振动信息的关联性资料,分析该待测的表面纹理所产生的压力振动信息,以产生该待测的表面纹理检验结果。借此,得以参考的表面纹理作为标准,判断待测参考的表面纹理的一致性。
  • 表面纹理检验方法
  • [发明专利]目标距离测量方法,装置,电子设备及存储介质-CN202110117982.2在审
  • 赵勇;朱立发;林昌伟 - 北京格灵深瞳信息技术股份有限公司
  • 2021-01-28 - 2021-05-28 - G06T7/60
  • 本申请实施例中提供了一种目标距离测量方法,装置,电子设备及存储介质;该方法包括:获取当前目标物体和参考的深度图;获取在目标物体和参考的标准点云数据中,标注的感兴趣区域;配准所述感兴趣区域与待测量点云数据,得到所述目标物体和参考在所述待测量点云数据中的定位点集,所述待测量点云数据为所述深度图对应的点云数据;根据所述定位点集计算目标距离,所述目标距离为所述目标物体和参考之间的距离。通过配准得到定位点集,可以在待测量点云数据中准确定位出所述目标物体和参考,再根据定位点集计算所述目标物体和参考之间的距离,从而可以高精度,客观的获得目标物体和参考之间的距离,可有效替代人工完成测量
  • 目标距离测量方法装置电子设备存储介质

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