专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件和其制造方法-CN202180004467.1在审
  • 何川;郝荣晖;黃敬源 - 英诺赛科(苏州)科技有限公司
  • 2021-08-19 - 2022-03-11 - H01L29/778
  • 一种氮化物基半导体电路包括氮化物基半导体载体、第一氮化物基半导体层、第二氮化物基半导体层、连接器、连接线和电源线。第一氮化物基半导体层配置在氮化物基半导体载体上方。第二氮化物基半导体层配置在第一氮化物基半导体层上。连接器配置在第二氮化物基半导体层上。连接线电连接到连接器中的一个。电源线电到氮化物基半导体载体。异质结形成于第一氮化物基半导体层与第二氮化物基半导体层之间。电势差施加在电源线与连接线之间。
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]半导体驱动电路及半导体装置-CN201210561009.0无效
  • 玉木恒次;井上贵公;冈部浩之 - 三菱电机株式会社
  • 2012-12-21 - 2013-12-18 - H03K17/567
  • 本发明涉及半导体驱动电路及半导体装置。本发明的目的在于提供一种使用单一的电源半导体开关元件施加正、负的偏压信号来进行半导体开关元件的开关的低功耗的半导体驱动电路。本发明的半导体驱动电路(100)对半导体开关元件(7)进行驱动,其特征在于具备:内部电源电路(3),根据从外部电源(4)供给的第一电压生成第二电压;以及驱动部(1),根据从外部输入的输入信号,在半导体开关元件(7)的栅极–发射极之间施加第一电压或第二电压,进行半导体开关元件(7)的导通/截止,内部电源电路(3)根据输入信号进行工作。
  • 半导体驱动电路装置
  • [发明专利]CMOS结构及其制造方法-CN202310289118.X在审
  • 朴玺韩;李昇映;黄寅灿 - 三星电子株式会社
  • 2023-03-22 - 2023-09-29 - H01L27/092
  • 本公开涉及CMOS结构及其制造方法,该CMOS结构包括晶片、在晶片的正面的第一半导体器件和第二半导体器件、在晶片的背面的电源轨、在晶片的背面的背面配电网络(PDN)网格、以及在晶片的正面在第一半导体器件和第二半导体器件之上的正面信号布线线路第二半导体器件堆叠在第一半导体器件上,背面PDN网格联接到电源轨,电源轨联接到第一半导体器件和第二半导体器件。
  • cmos结构及其制造方法
  • [发明专利]一种互联网学习的刀片服务器-CN201710033785.6在审
  • 陈光 - 云雀科技成都有限责任公司
  • 2017-01-18 - 2017-05-31 - H05K7/20
  • 本发明公开了一种互联网学习的刀片服务器,包括至少一组长条形P型半导体和与其对应的N型半导体,所述P型半导体一端与电源连接,另一端通过导体连接N型半导体,所述N型半导体一端与电源连接,另一端通过导体连接P型半导体,使用绝缘陶瓷对P型半导体和N型半导体组成的制冷结构预留电源连接的孔缝后进行封装形成制冷板。本发明的优点是采用半导体制冷技术,相对于现有散热片、风扇和水冷技术更加节约空间;半导体制冷效率高。
  • 一种互联网学习刀片服务器
  • [发明专利]电源装置-CN202210817536.7在审
  • 益井秀彰 - 矢崎总业株式会社
  • 2022-07-12 - 2023-01-17 - H02J9/06
  • DC/DC转换器包括半导体开关S1,并且被配置为通过接通和断开半导体开关S1来转换输入电压。半导体开关S2连接在主电源和DC/DC转换器的输入端之间。半导体开关S3连接在半导体开关S2和DC/DC转换器的输入端之间的连接点与备用电源之间。控制单元在正常状态下接通半导体开关S2和半导体开关S3,并且当主电源中出现异常时断开半导体开关S2并接通半导体开关S3。
  • 电源装置
  • [发明专利]半导体器件-CN201510626947.8在审
  • 小山田成圣 - 野田士克林股份有限公司
  • 2015-09-28 - 2016-07-20 - H01L23/58
  • 本发明涉及半导体器件。这样一种半导体器件的电源布线结构,其包括以倒装芯片方式安装在衬底上的半导体芯片,其降低了内部布线的特性阻抗且由此提高了噪声降低效果,同时实现了在高频电源操作期间的低阻抗。在从平面图观察时的半导体芯片的安装面上的多个周边电极焊盘的内侧区域中,在半导体芯片的保护膜上的第一绝缘膜上,半导体器件具有用于将电力提供至半导体芯片的内侧电源板结构。内侧电源板结构包括在第一绝缘膜上的第一电源板、在第一电源板上的第二绝缘膜、以及第二绝缘膜上的第二电源板。
  • 半导体器件
  • [发明专利]电子器件及半导体器件-CN201480082194.2有效
  • 别井隆文;诹访元大 - 瑞萨电子株式会社
  • 2014-09-26 - 2019-05-10 - H01L25/00
  • 电子器件包括第1布线基板和搭载在上述第1布线基板上的半导体器件。在上述半导体器件的第2布线基板上排列地搭载有多个第1半导体芯片和对上述多个第1半导体芯片的每一个进行控制的第2半导体芯片。另外,上述多个第1半导体芯片搭载在上述布线基板的第1基板边与上述第2半导体芯片的第1芯片边的延长线之间。另外,上述第1布线基板具有:分别向上述多个第1半导体芯片的每一个供给第1电源电位的第1电源线、和向上述第2半导体芯片供给第2电源电位并且宽度比上述第1电源线宽的第2电源线。另外,上述第2电源线在俯视下与上述第2布线基板的上述第1基板边交叉,并且从上述第2布线基板的上述第1基板边侧向上述第2半导体芯片延伸。
  • 电子器件半导体器件
  • [发明专利]一种半导体燃烧测试装置-CN202310157284.4在审
  • 闫方亮;于渤;杨丽霞;朱勋 - 北京聚仪共享科技有限公司
  • 2023-02-23 - 2023-05-09 - G01R31/12
  • 本发明涉及半导体测试装置技术领域,尤其是一种半导体燃烧测试装置,包括,电源单元,用于对半导体器件持续提供预值时间的电源电压,以通过该半导体器件在预值时间内是否发生燃烧来判断其是否合格;云台,安装于所述电源单元的上方,本发明中通过将半导体器件安装于PCB板上后,通过电源单元对其进行供电测试,以实现在预值时间内判断出该半导体器件是否符合标准,以便于适配待测半导体器件,其次,在本发明中还设计有摄像头进行辅助检测,通过对半导体器件进行燃烧时间的记录,从而判断出半导体器件精准的耐压时间,为燃烧测试记录的时间精准度做出有效保障。
  • 一种半导体燃烧测试装置

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