专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果9791444个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种具有自整流效应的存储-CN201110155291.8无效
  • 潘峰;陈超;曾飞;罗景庭;唐光盛 - 清华大学
  • 2011-06-10 - 2011-10-12 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种存储。所述存储由底电极、沉积于所述底电极上的层和沉积于所述层上的上电极组成;所述底电极为条状的p型硅电极;所述层为n型氧化锌薄膜;所述上电极为条状的铝电极或钛电极;所述底电极和所述上电极相互垂直设置本发明所提供的存储的底电极选用的是低电阻的p型硅,与传统CMOS工艺的兼容性非常高,能够在不改变现有工艺条件的情况下开发出高密度的非易失性存储,具有成本低等特点。
  • 一种具有整流效应存储器
  • [发明专利]一种存储及制备方法-CN202110712659.X有效
  • 韩素婷;杜春雨;周晔;屈之洋 - 深圳大学
  • 2021-06-25 - 2023-10-27 - H10N70/20
  • 本发明公开一种存储及制备方法,所述存储包括顶电极、底电极和设置在所述顶电极和所述底电极之间的层,所述层的材料为银咪唑配合物,所述银咪唑配合物的化学式为Agx阻存储层的材料,银离子的迁移范围限制在银咪唑配合物晶粒中,缩短了银离子迁移的距离,从而降低了因银离子迁移所消耗的能量,降低了存储操作电压和功耗。同时,银咪唑配合物晶粒限制银离子的迁移范围可以有效降低银离子迁移随机性,从而提升存储的均一性和稳定性。
  • 一种存储器制备方法
  • [发明专利]互补型存储及制备方法-CN201210418767.7无效
  • 潘峰;唐光盛;曾飞;陈超;刘宏燕;宋成 - 清华大学
  • 2012-10-26 - 2013-02-27 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种互补型存储及制备方法。该存储,由下至上依次包括底电极、氧储备层、存储介质层和顶电极。其中,二氧化钛纳米存储介质层和氮氧化钛氧存储层是通过将氮化钛薄膜进行等离子体氧化的方法制备。通过电激励使氧空位在纳米存储介质层的上、下两个界面间分布,实现互补型功能。本发明提供的存储,有效解决了存储十字交叉阵列中的串扰问题,具有制备方法简单、成本低等特点,用于开发高存储密度、低功耗、纳米尺度非易失性存储
  • 互补型阻变存储器制备方法
  • [发明专利]一种存储阵列-CN202310674550.0在审
  • 刘美冬;陈昱煌;陈瑞隆;黄天辉 - 厦门半导体工业技术研发有限公司
  • 2023-06-08 - 2023-09-05 - G11C5/02
  • 本公开提供了一种存储阵列,其特征在于,所述存储阵列包括至少一个主阵列和至少一个伪阵列:所述主阵列与伪阵列相邻设置;所述伪阵列的至少一个存储单元与相邻的主阵列的存储单元共用同一位线;所述伪阵列的至少一个存储单元的尺寸大于相邻的主阵列的存储单元的尺寸;由于存储单元尺寸越大对应的成型电压越低,更容易从高态转换为低态,而相邻的两个存储单元中,其中一个为低态的情况下,另一个不可能为高态,如此,可以使主阵列的存储单元初始态为高态,提升存储阵列的良率
  • 一种存储器阵列
  • [发明专利]存储及其制造方法-CN202011353688.3在审
  • 田伟思;邹荣;王奇伟;陈昊瑜 - 上海华力微电子有限公司
  • 2020-11-26 - 2021-02-26 - H01L45/00
  • 本发明提供一种存储及其制造方法,所述存储包括:半导体衬底、第一电极、第一插层、层、第二插层和第二电极,所述第一电极覆盖部分所述半导体衬底,所述第一插层覆盖所述第一电极,并且所述第一插层的电阻率小于所述层的电阻率,所述层覆盖所述第一插层,所述第二插层覆盖所述层,并且所述第二插层与所述层中均具有氧原子,所述第二电极覆盖所述第二插层,由于所述第二插层与所述层中均具有氧原子,当存储施加正电压后,所述层与所述第二插层中的氧原子均会向所述第二电极移动,由此可以增加氧空位的浓度,从而有助于氧空位导电细丝的产生,进而提高存储的一致性。
  • 存储器及其制造方法
  • [发明专利]一种存储及其制备方法-CN202011614887.5有效
  • 郭奥 - 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
  • 2020-12-31 - 2022-07-05 - H01L45/00
  • 一种存储及其制备方法,该方法包括在CMOS后段工艺的第一金属层表面淀积第一介质层;在第一介质层中制备下电极接触孔;在第一介质层和下电极接触孔中依次淀积下电极层和隔离介质层,以制备存储单元的线状下电极;依次淀积氧化物层和上电极层,制备上电极和氧化物图形,以形成存储单元;在上电极和氧化物图形的表面和侧面、以及第一介质层的表面淀积保护层,并制备CMOS后段工艺的第二介质层;在第二介质层制备CMOS后段工艺的接触孔及第二金属层,以引出存储单元的上电极,存储单元的下电极通过第一金属层引出。因此,本发明限制层中氧空位导电通道的形成区域,以提升器件一致性。
  • 一种存储器及其制备方法
  • [发明专利]一种基于钨酸铋材料的非挥发性存储-CN202010092622.7有效
  • 朱慧;金磊;王晨;王斯;柳杰;李锐;刘佳慧 - 北京工业大学
  • 2020-02-14 - 2023-09-26 - H10B63/00
  • 本发明公开了一种基于钨酸铋材料的非挥发性存储,通过脉冲激光沉积方法生长钌酸锶下电极钨酸铋薄膜,并通过掩膜版法制作铂上电极,完成BWO薄膜器件的制备。使用安捷伦安捷伦B1500A测量其I‑V特性曲线,在双对数坐标系下,分析其内部导电机制符合空间电荷限制传导,且正方向具有优异的保持特性,BWO薄膜器件具有制备存储的潜力。使用安捷伦B1500A、Radiant铁电铁测试仪,对BWO存储的数据保持特性以及疲劳特性进行测试,评估BWO存储的可靠性。实验发现,BWO薄膜器件拥有优秀的特性,且具备良好的保持和疲劳特性,可应用于存储件。
  • 一种基于钨酸铋材料挥发性存储器
  • [发明专利]一种高一致性的高速存储及其制备方法-CN201310169538.0无效
  • 黄如;余牧溪;蔡一茂;王宗巍;潘越;方亦陈;黎明 - 北京大学
  • 2013-05-09 - 2013-07-31 - H01L45/00
  • 本发明涉及一种高一致性的高速存储及其制备方法,存储包括:底电极、材料薄膜和顶电极,底电极在衬底上,材料薄膜有金属掺杂,掺杂的金属同时满足低导热率和高吉布斯自由能。通过离子注入方法在材料薄膜中注入相应的掺杂金属;本发明中掺杂的金属需要同时满足两个条件:1)金属氧化物对应的金属与氧反应生成氧化物的吉布斯自由能低于掺杂金属对应的吉布斯自由能;2)掺杂金属及对应氧化物的导热率低于材料薄膜的导热率本发明通过选择符合条件的材料、掺杂材料,用RRAM常用工艺即可制备高一致性的高速存储,较好提高存储的性能。
  • 一种一致性高速存储器及其制备方法
  • [发明专利]一种多态双层薄膜结构储存及其制备方法-CN201510626464.8有效
  • 金康康 - 金康康
  • 2015-09-23 - 2018-02-02 - H01L45/00
  • 本发明公开了一种多态双层薄膜结构储存及其制备方法。该存储具有稳定的保持特性和多值存储性能,具体是指以金属Ti/Au为上电极、以ITO作为衬底和下电极,利用射频磁控沉积技术在ITO衬底上先后镀上TiOCu和Ga2O3薄膜而形成层,然后在ITO衬底上和已经镀氧化镓的薄膜上溅射钛(Ti)和金(Au)薄膜,制成ITO/TiOCu/Ga2O3/Ti/Au结构的存储件,并实现了多值存储功能。本发明的优越性在于通过异质结界面处缺陷的移动而产生单双极,制备的存储件具有稳定的保持特性、循环特性以及多存储性能,提高了存储存储容量和使用寿命。
  • 一种多阻态双层薄膜结构储存器及其制备方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top