专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]极片及电池-CN202222770949.2有效
  • 王玉华;梁玉典;黄彬彬;刘荣江 - 惠州亿纬锂能股份有限公司
  • 2022-10-17 - 2023-03-14 - H01M4/13
  • 本实用新型涉及一种极片及电池,其中,极片包括涂料区、空箔区、第一区和第二区,空箔区位于涂料区内,空箔区用于与电池的极耳连接,空箔区的厚度为H1,涂料区的厚度为H2,H1<H2,第一区位于空箔区和涂料区之间,第一区的厚度由空箔区朝向涂料区逐渐增大,第二区位于第一区和涂料区之间,第一区厚度为H3,H1<H3<H2。通过在空箔区和涂料区之间设置第一区,且第一区的厚度从空箔区到涂料区的逐渐增大,以使该第一区可以成为空箔区和涂料区两者之间过渡区,减少在空箔区周部的应力集中,避免极片在冷压时出现打皱的情况,进而减低了在卷绕过程中出现电池极片断裂风险
  • 电池
  • [发明专利]集成封装显示模组及其返修方法以及显示装置-CN201911371067.5有效
  • 胡新喜;孙天鹏;张金刚;张世诚 - 深圳市洲明科技股份有限公司
  • 2019-12-26 - 2022-04-15 - H01L33/48
  • 本申请涉及集成封装显示模组及其返修方法以及显示装置,集成封装显示模组返修方法包括步骤:将所述集成封装显示模组整体胶面预设厚度;定点去除坏点处的胶体;对坏点进行返修处理;对所述集成封装显示模组进行整面封胶处理巧妙地设计了先减再补洞最后复原的返修三步法,尤其适合越来越密集乃至点间距小于1毫米的集成封装显示模组,在极小的有限空间实现返修处理,后配合整面封胶,有利于更好地保证集成封装显示模组的整体显示效果,既有利于解决集成封装返修可行性,又有利于确保返修可靠性及返修后外观色泽的一致性,且提高了返修效率及整体显示稳定性,实现了集成封装显示模组可返修、可规模化的量产。
  • 集成封装显示模组及其返修方法以及显示装置
  • [发明专利]一种键合晶片的方法-CN201310717819.5有效
  • 王娉婷;奚民伟 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2013-12-23 - 2018-09-25 - H01L21/304
  • 本发明提供一种键合晶片的方法,在对器件晶片进行之前,先使用磨轮对其边缘进行磨削,以去除其弧形边缘。本发明中在工序之前使用磨轮对键合晶片进行了处理,磨去了器件晶片弧形的边缘,这就有效避免了键合晶片过程中出现尖角,进而杜绝了器件晶片边缘破裂问题的发生,可以在保证器件晶片边缘不破裂的前提下,将其至与现有工艺相比,本发明不会对机台和后续工艺造成任何污染,且所使用的设备简单,易于操作,工序简洁,大大提高了生产效率,降低了生产成本和设备成本。
  • 一种晶片方法
  • [发明专利]晶圆弯曲度测算方法-CN201110296332.5有效
  • 傅荣颢;刘玮荪 - 上海宏力半导体制造有限公司
  • 2011-09-30 - 2012-03-28 - H01L21/66
  • 本发明提供了Wafer Bow测算方法,以在工艺前就测算出Wafer Bow,避免工艺完成后才发现Wafer Bow不符合要求带来的各类损失。本发明提供的一种Wafer Bow测算方法,包括步骤:获得前Wafer的曲面半径R0及后wafer的计划厚度T;根据所述曲面半径R0和计划厚度T,计算出后wafer的Wafer Bow为t1,该计算所采用的模型为:t1=[R0T2-(R02T4-r2T04)1/2]/T02+C(T0/T)1.58,其中T0为前晶圆厚度,r为晶圆半径,C为前由晶圆重力而产生的晶圆弯曲度。
  • 弯曲测算方法

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