专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种黄花鱼水分和脂肪含量的无损测定方法-CN201510895026.1在审
  • 谭明乾;耿少特;藏秀;迟琪 - 大连工业大学
  • 2015-12-08 - 2016-05-04 - G01N24/08
  • 本发明提供一种黄花鱼水分和脂肪含量的无损测定方法,包括步骤:(1)黄花鱼样品测试:利用CPMG序列采集横向信号,得到黄花鱼样品的横向图谱;(2)黄花鱼水分和脂肪含量的测定,(3)黄花鱼水分和脂肪含量预测模型的建立:以T2谱作为独立变量、水和脂肪含量值作为因变量建立预测模型,(4)信号数据分析和处理。本发明提出的方法,研究了光谱和组分之间的相关性,以黄花鱼的低场核磁共振数据为研究对象,以黄花鱼中水分和脂肪含量为指标,建立黄花鱼水分和脂肪含量PCR和PLSR预测模型,实现了黄花鱼水分和脂肪含量的快速检测
  • 一种黄花鱼水分脂肪含量无损测定方法
  • [发明专利]用于ZnO单晶物理参数的无损检测方法-CN201510063230.7有效
  • 成鹏飞;宋江 - 西安工程大学
  • 2015-02-06 - 2017-06-20 - G01R31/26
  • 本发明公开的用于ZnO单晶物理参数的无损检测方法主要是基于点缺陷弱束缚电子跳跃电导的介电效应高频下弱束缚电子的输运仅限于晶胞内,主要表现为介电;低频下弱束缚电子的输运可跨越耗尽层,甚至整个晶粒,主要表现为电导过程,此时介电效应将达到饱和;根据介电常数发生改变的拐点所对应的频率就能推算耗尽层、晶粒的几何尺寸;测试过程主要以介电谱为主表征耗尽层厚度和晶粒尺寸,同时通过模量谱对低频电导和高频信息进行确诊
  • 用于zno物理参数无损检测方法
  • [发明专利]图形化应变的半导体衬底和器件-CN200510008258.7有效
  • 程慷果;拉马查恩德拉·德瓦卡鲁尼 - 国际商业机器公司
  • 2005-02-07 - 2006-01-25 - H01L21/00
  • 公开了一种方法,它包括在衬底上形成应变材料和材料的图形;在应变材料中形成应变器件;以及在材料中形成非应变器件。在一个实施方案中,应变材料是处于拉伸或压缩状态的硅(Si),而材料是处于正常状态的Si。硅锗(SiGe)、碳化硅(SiC)、或相似材料的缓冲层被形成在衬底上,且具有与衬底的晶格常数/结构失配。SiGe、SiC、或相似材料的层被形成在缓冲层上,并使应变材料处于拉伸或压缩状态。在另一实施方案中,掺碳的硅或掺锗的硅被用来形成应变材料。此结构包括其上图形化有应变材料和非应变材料的多层衬底。
  • 图形应变半导体衬底器件

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