“干涉测量”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1016528个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于顺轨干涉SAR测量海面流场径向速度的方法-CN201310352793.9有效
发明人：王小青;种劲松 -专利权人：中国科学院电子学研究所
申请日： 2013-08-14 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：发明提供了一种基于顺轨干涉SAR测量海面流场径向速度的方法。该方法利用在顺轨方向设置的三幅天线获取三种不同干涉时间的干涉相位，从而可以估算干涉测流中速度偏差的高阶项系数，进而可以校正干涉测量速度偏差，得到准确海面流场径向速度。
基于干涉 sar 测量海面径向速度方法

[发明专利]基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法-CN201410197332.3有效
发明人：刘建华;张克;陶李;程文凯;陈忠平 -专利权人：复旦大学
申请日： 2014-05-12 - 公布日： 2014-08-13 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统,二维样品台，容积可调样品池、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时,先将样品池容积(面积和厚度)调至适当,测量参考臂和样品臂的干涉光谱,得出空样品池的厚度；然后再将微量待测液体滴入样品池隙口,并使光束垂直入射样品池表面,测量干涉光谱,并得到对光谱进行Fourier变换，可得到待测量液体样品的群折射率。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
基于光谱干涉微量液体折射率测量装置测量方法

[发明专利]FMCW距离测量的扫频信号拼接方法及装置-CN202010997655.6有效
发明人：路程;刘国栋;于泽浩;刘炳国;陈凤东;庄志涛;甘雨;卢丙辉 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2020-09-21 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01S17/34 文献下载
摘要：本发明的FMCW距离测量的扫频信号拼接方法及装置涉及一种信号处理方法及装置，目的是为了克服现有FMCW距离测量中信号拼接具有的相位跳变问题时，导致激光雷达探测识别精度低问题，其中方法具体包括：引入辅助干涉仪，得到第一辅助干涉信号的相位和第二辅助干涉信号的相位；根据第一辅助干涉信号的相位和第二辅助干涉信号的相位，以及拼接后的辅助干涉信号，得到拼接后的辅助干涉信号的相位信息；通过拼接后的辅助干涉信号的相位信息，得到用于相位跳变消除的正交基；利用正交基消除拼接后的测量干涉信号中由拼接产生的相位跳变。
fmcw 距离测量信号拼接方法装置

[发明专利]一种基于激光干涉原理的机床快速补偿系统及其补偿方法-CN202210079627.5在审
发明人：陈虎;郝天阳;孙宏亮;冯兆冰;侯岳;金孝忠;刘乃博;薛洪新;王子铭;吴淇 -专利权人：科德数控股份有限公司
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G05B19/404 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于激光干涉原理的机床快速补偿系统及其补偿方法，其包括触发采集模块、激光干涉测量模块、数据分析及补偿模块和通信模块；触发采集模块接收触发采集指令将编码器位置值转化为脉冲值并传递给激光干涉测量模块，调取数控系统中机床各轴参数信息和补偿点信息，生成机床运行代码和测量准备信号；激光干涉测量模块接受测量准备信号和脉冲值获得误差数据、环境数据和膨胀补偿值；数据分析及补偿模块采集误差数据、环境数据和膨胀补偿值进行分析处理得到精度参数和补偿参数本发明利用激光干涉测量装置和触发采集装置进行机械精度的测量，并且测量效率更高，使测量的精度更为准确和快速。
一种基于激光干涉原理机床快速补偿系统及其方法

[发明专利]线激光移相干涉三角微位移测量装置及方法-CN201810471732.7有效
发明人：黄向东;谭久彬 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-05-17 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：线激光移相干涉三角微位移测量装置及方法，属于超精密测量技术领域。本发明将移相干涉技术和激光三角技术结合起来，以实现大范围高精度微位移测量。本发明方案根据移相干涉原理和激光三角测距原理，采用整形扩束将光源输出变为线平行光束，通过光栅分光和四象限检偏器组同步获取四路依次相移90°的线形干涉光，同时线激光三角系统利用部分漫反射光获得位移的粗测量数据，当线激光三角测量最大误差小于1/4干涉信号周期时，通过一定的解算可以获得精确位移值。本发明测量精度高、测量范围大，可实现线扫描测量，适用于微结构器件中的台阶高度，膜厚，以及运动部件等的位移/位置的测量。
移相干涉线激光微位移测量装置激光三角测量测量精度高超精密测量微结构器件微位移测量光栅测距原理干涉信号光源输出技术结合漫反射光平行光束三角测量三角系统同步获取运动部件最大误差粗测量干涉光检偏器四象限线扫描整形分光解算扩束膜厚相移

[发明专利]高精度六轴激光测量装置及测量方法-CN200710173722.7有效
发明人：金小兵;李志科;程吉水 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2007-12-28 - 公布日： 2008-07-09 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明关于一种高精度六轴激光测量装置及方法，包括激光干涉测量系统，工作台，运动执行系统。激光干涉测量系统包括：垂向沿z轴布置的三个激光干涉仪，负责测量垂向三轴(Z，θx、θy)的运动量，沿x轴布置的两个激光干涉仪负责测量工作台沿x轴运动量X和转角θz，沿y轴布置的一个激光干涉仪负责测量y向运动量此装置结构灵活，便于拆卸，且垂直测量和水平测量相互独立。测量精度高，误差小，通用性强，适用于非接触和接触式位移传感器的校准，同时可用于对多轴运动执行器的运动精度进行标定。
高精度激光测量装置测量方法

[发明专利]一种光学元件表面局部陡度面形误差干涉测量方法及装置-CN202010757803.7有效
发明人：郝群;胡摇;石峰;宋辞;谢凌波 -专利权人：北京理工大学;中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种光学元件表面局部陡度面形误差干涉测量方法及装置，在不改变原干涉仪光路的前提下实现之前不可测量的局部陡度面形误差的测量。利用双光楔补偿器，放置在在局部陡度面形误差的区域，旋转双光楔补偿器的相对转角和整体绕光轴滚转角，产生方向可调的附加倾斜补偿相位，使局部测量光束与局部面形匹配，干涉条纹变稀疏，利用干涉仪测量局部相位；根据双光楔补偿器的旋转角度计算其引入的相位，输入虚拟干涉仪模型，计算得到局部面形误差；对被光学元件所有无法直接测量的局部依次进行上述测量过程，直到所有局部陡度面形误差均完成测量；将局部面形误差与光学元件全口径面形误差数据进行拼接，完成测量。
一种光学元件表面局部陡度误差干涉测量方法装置

[发明专利]一种用部分补偿透镜实现非球面面形的干涉测量方法-CN200410068823.4无效
发明人：朱秋东;郝群;刘惠兰 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2004-07-08 - 公布日： 2005-03-02 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种利用部分补偿透镜实现非球面面形的干涉测量方法，属于光电技术领域。本发明不要求补偿透镜一定将被测非球面面形的大像差波面完全补偿，而是允许有不大于50个波长的剩余波差，将传统的小波差干涉测量系统变为大波差干涉测量系统；其测量方法为采用数字莫尔移相干涉法进行测量。本发明简化补偿透镜的结构，降低了补偿镜的设计、加工难度，同时对某一补偿镜而言可扩展其测量范围；由于采用折射原理，没有全息元件所产生的杂光干扰，使得干涉条纹很干净，同时损耗很小；而且测量精度高，稳定性好；几乎可用于测量各种旋转对称的非球面，尤其是可以测量大相对孔径，大非球面度的凸非球面。
一种部分补偿透镜实现球面干涉测量方法

[发明专利]基于干涉条纹图处理测量透明介质折射率分布的方法-CN201510034035.1有效
发明人：冯国英;兰斌;张涛;周寿桓 -专利权人：四川大学
申请日： 2015-01-23 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于干涉条纹图的处理来测量透明介质折射率分布的方法，属于物质折射率测量技术领域。该方法是利用立体分光棱镜分光面干涉产生干涉条纹图，再通过计算改变输入光透过待测样品与参考介质的光程差所产生的干涉条纹移动数来进行待测透明介质折射率分布的测量；以及提供实现测量方法的测量装置。本发明测量方法不仅可对均匀透明介质折射率进行更高精度测量；而且还能对非均匀透明介质折射率分布进行测量。本发明的测量方法及其测量装置在保证测量精度和稳定性的前提下，还具有减少测量次数，缩短测量时间，以及简化数据处理的优点。
基于干涉条纹处理测量透明介质折射率分布方法

[发明专利]一种宽带信号频域抽取的分布式干涉测量相关处理方法-CN202210617584.1在审
发明人：路伟涛;任天鹏;陈略;韩松涛;王美;周之金;张雨佳;韩倩倩 -专利权人：北京航天飞行控制中心
申请日： 2022-06-01 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01B9/02055 文献下载
摘要：本发明属于无线电干涉测量领域，公开了一种基于频域抽取的宽带信号分布式干涉测量相关处理方法。相关处理中心”的分布式相关处理模式，首先在测站对数据进行时延模型补偿和频谱计算，然后按照一定抽取率抽取有效频带内特定频点的频谱数据，并传输至相关处理中心，最后基于频域抽取的测站频谱数据进行互相关处理和干涉测量时延观测量获取该方法以损失一定测量随机精度为代价，在有效实现干涉测量差分标校的基础上，可显著降低标校射电源等宽带信号的数据传输需求，改善无线电干涉测量的实时性。
一种宽带信号抽取分布式干涉测量相关处理方法

[发明专利]振动位移测量范围扩大组件、振动组件及测振系统-CN202310029351.4在审
发明人：刘爱东 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种振动位移测量范围扩大组件、振动组件及测振系统，振动位移测量范围扩大组件包括：安装件，用于与产生振动的振动件安装连接；安装件设有安装腔；聚光元件，设于安装腔内，用于对激光干涉仪发射的测量光束进行聚焦；反射元件，靠近安装腔的底壁设置，用于对穿过聚光元件的测量光束，朝向激光干涉仪的方向进行反射。通过安装件与振动件安装连接，安装件跟随振动件一起振动，通过聚光元件和激光干涉仪自身的聚焦镜头实现对激光干涉仪的测量光束进行二次聚焦，通过反射元件将测量光束朝向激光干涉仪反射，使得振动件振动过程中，在反射元件始终保持较小光斑，从而扩大振动位移测量范围。
振动位移测量范围扩大组件系统

[发明专利]一种双色光干涉测量润滑油膜厚度的方法-CN201410432296.4有效
发明人：刘海超;郭峰;赵国垒 -专利权人：青岛理工大学
申请日： 2014-08-28 - 公布日： 2014-11-19 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明属于光学测量技术领域，涉及一种双色光干涉测量润滑油膜厚度的方法，计先算钢球和玻璃盘之间润滑油膜厚度的红绿双色光干涉三刺激值，再测量记录不同滑动速度和不同加载荷条件下的钢球和玻璃盘接触区润滑油膜厚引起的光干涉图像，分析距离接触中心最近的黑色特征条纹的G-R调制光强曲线，确定整个干涉图像中所有条纹的具体级数，计算得到具体的膜厚分布，实现润滑油膜厚度的测量；其测量过程简单，测量效率高，获取到比白光干涉大3倍的量程，便于测量不同滑动速度和不同载荷下整个接触区的油膜厚度分布。
一种色光干涉测量润滑油膜厚度方法

[发明专利]一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法-CN201210143260.5有效
发明人：段发阶;吕昌荣;张超;段晓杰;张甫恺 -专利权人：天津大学
申请日： 2012-05-10 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法，涉及相位轮廓测量领域，构建光纤干涉条纹投射系统；根据所述光纤干涉条纹投射系统获取条纹投射测量模型；所述光纤干涉条纹投射系统根据所述条纹投射测量模型获取物体表面相位信息构建初始相位差及相位调制度系数的测量控制系统；获取初始相位一种光纤干涉条纹投射相位调制测量控制方法

[发明专利]一种基于飞秒脉冲的多目标3D表面形貌测量方法-CN201910348067.7有效
发明人：于连栋;陆洋;王婧;赵会宁;夏豪杰;李维诗 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2019-04-26 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明属于精密制造测量领域，公开一种基于飞秒脉冲的多目标3D表面形貌测量方法，包括如下步骤，1），构建飞秒激光扫频干涉多目标3D表面形貌测量装置，将飞秒激光振荡器的重复频率锁定到可扫频参考信号模块；其特征在于，2），使用单模长光纤和色散补偿光纤的不等臂组合模块，提高目标表面扫描速度；3），同光源波段转换及多目标表面形貌测量，采用不同光波段，使用干涉系统（是否为干涉仪），实现多目标表面不同脉冲的低相干干涉并采集干涉图具有测量精度高、测量速度快、测量范围大的优点。
一种基于脉冲多目标表面形貌测量方法

[实用新型]振动位移测量范围扩大组件、振动组件及测振系统-CN202320060315.X有效
发明人：刘爱东 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种振动位移测量范围扩大组件、振动组件及测振系统，振动位移测量范围扩大组件包括：安装件，用于与产生振动的振动件安装连接；安装件设有安装腔；聚光元件，设于安装腔内，用于对激光干涉仪发射的测量光束进行聚焦；反射元件，靠近安装腔的底壁设置，用于对穿过聚光元件的测量光束，朝向激光干涉仪的方向进行反射。通过安装件与振动件安装连接，安装件跟随振动件一起振动，通过聚光元件和激光干涉仪自身的聚焦镜头实现对激光干涉仪的测量光束进行二次聚焦，通过反射元件将测量光束朝向激光干涉仪反射，使得振动件振动过程中，在反射元件始终保持较小光斑，从而扩大振动位移测量范围。
振动位移测量范围扩大组件系统