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[发明专利]一种低膨胀材料线膨胀系数测量装置及方法-CN202010588332.1有效
发明人：李强;任冬梅;朱振宇;李华丰;段小艳 -专利权人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01N25/16 文献下载
摘要：本发明的一种低膨胀材料线膨胀系数测量装置及方法，属于测量技术领域。本发明采用法布里‑珀罗干涉仪测量试样的长度，利于提高测量准确性。本发明采用声光调制器产生附加光频移动，利用由同一套稳频激光器、高速光电接收器和频率计数器组成的频率测量系统能够完成对法布里‑珀罗干涉仪两个相邻谐振峰的频率测量，在不显著增加系统成本情况下，实现测量试样长度本发明能够对不同温度下的试样长度进行绝对测量，突破通常法布里‑珀罗干涉仪测量范围小的局限，且不需要干涉测长系统连续工作，操作方便。综上，本发明具有测量准确度高、测量范围大、干涉系统结构简单且不需要长时间连续工作等优点，在低膨胀材料线膨胀系数测量方面有重要应用价值。
一种膨胀材料线膨胀系数测量装置方法

[发明专利]双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪-CN200910088130.4无效
发明人：江月松;张绪国;路小梅 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2009-07-06 - 公布日： 2009-12-09 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪，属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无跳模频率扫描外腔半导体激光器、频率扫描范围测量模块、折射率测量模块、参考和测量干涉计，以及数据采集和控制系统组成。该方法的优点是在频率扫描的同时进行干涉条纹计数，消除了距离测量的不确定性。采用双激光器进行频率扫描可以有效地抵消系统的测量误差，同时可以抑制振动和条纹计数的不确定性带来的误差，利用双干涉测量回路的模式进行光程差的测量可以消除参考干涉计的影响，提高测量的精度和准确度。该系统适合长距离、高精度测量领域的应用，如空间综合孔径排列、小行星编队、高能物理实验中跟踪探测器的准实时排列等。
激光器频率扫描干涉高精度绝对距离测量仪

[发明专利]分光测量装置-CN201510303622.6有效
发明人：石丸伊知郎 -专利权人：国立大学法人香川大学
申请日： 2013-10-02 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制
分割光学系统第二测量第一测量测量点测量物共轭面光程差成像光学系统分光测量装置检测测量光束干涉光干涉图赋予傅立叶变换光强度分布强度分布周期调制光谱配置像素测量分割干涉

[发明专利]立式球面干涉拼接测量装置及其调整方法-CN202210559409.1有效
发明人：刘有亮 -专利权人：江苏浩纳光电股份有限公司
申请日： 2022-05-23 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明属于干涉测量设备技术领域，具体的说是立式球面干涉拼接测量装置及其调整方法，包括支撑架，支撑架前侧安装有干涉仪，所述干涉仪顶部设置有计算机，干涉仪底部设置有球面波转换镜，支撑架前侧设置有三轴调整机构，所述三轴调整机构上设置有自卸工作台；本发明通过自卸工作台不仅可一次将所有的镜片安放完成，同时在顶部的镜片测量完成后，将镜片偏转，使底部的镜片显露出来，方便进行快速的测量，提高了测量效率。
立式球面干涉拼接测量装置及其调整方法

[发明专利]基于光学频率梳啁啾脉冲干涉的绝对距离测量方法及装置-CN202211701209.1在审
发明人：邵成刚;职佳文;吴翰钟;罗丹;许茗洋;谈玉杰 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：本发明属于激光测距领域，具体涉及基于光学频率梳啁啾脉冲干涉的绝对距离测量方法及装置，包括：采用光学频率梳产生脉冲激光并分束；将其中一束作为信号光，生成参考光和测量光，两者之间存在待测绝对距离对应的时间延迟；对另一束光展宽，作为本振光，分别与参考光和测量光干涉，产生两束干涉脉冲；对两束干涉脉冲展宽，采用高速光电探测器和高速示波器实时采集展宽后的两束干涉脉冲信息；其中本振光的冲宽度满足：参考光和测量光在任意位置均能与本振光产生干涉；将两组啁啾脉冲干涉条纹信息中的光谱相位作差，以计算得到待测绝对距离。本发明能够实现全路径无盲区的快速绝对距离测量。
基于光学频率啁啾脉冲干涉绝对距离测量方法装置

[发明专利]一种光载微波干涉测距系统及其测试方法-CN202210899141.6在审
发明人：周次明;徐培源;杨彧;范典 -专利权人：武汉理工大学
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种光载微波干涉测距系统及其测试方法，系统包括：光载微波形成单元，用于将扫频单元发射的微波信号调制到宽带光源上，形成光载微波；干涉单元，用于将光载微波形成测量光和参考光，并根据测量光和参考光形成干涉后的光载微波；耦合单元，与干涉单元连接，用于测量干涉后的光载微波的光电流幅度；扫频单元，分别与光载微波形成单元、耦合单元连接，用于步进扫频，生成不同频点的微波信号，并根据干涉形成的光电流幅度，确定被测物与干涉单元中的准直器之间的距离本发明利用光纤光栅作为参考面，通过光谱仪检测光纤光栅的中心波长变化的方式测量温度，减小温度对测距的影响，低成本实现高精度、大范围的空间距离测量。
一种微波干涉测距系统及其测试方法

[发明专利]基于Mach-Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法-CN201610911055.7有效
发明人：宋凝芳;王晓阳;蔡伟;高福宇;金靖;徐小斌 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2016-10-19 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Mach‑Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法，属于光纤应用技术领域。所述测量装置包括马赫曾德干涉仪以及由迈克尔逊干涉仪组成的波列分析模块。所述测量方法首先选择延时环的长度；然后等长度逐次减小延时环长度；直至参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；施加磁场，再次使参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；计算Verdet本发明只需要截取一段光纤即可完成测量，测量灵敏度高，有利于工程化应用。
基于 mach zehnder michelson 干涉仪偏光 verdet 常数测量装置

[发明专利]基于双波面干涉条纹阵列的大面积光学轮廓测量标定方法-CN201610345429.3有效
发明人：余学才;王晓庞;肖景天;任华西 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-05-23 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双波面干涉条纹阵列的大面积光学轮廓测量标定方法；其包括获取经待测量物体光学轮廓所调制的双波面干涉条纹阵列图像，构建定标模型；根据定标模型对对多个截面上采用定标板定标，确定定标参数；根据定标参数绘制变化曲线，并构建拟合函数进行拟合处理；依次将相邻干涉条纹垂直于条纹方向上的移动距离代入拟合函数得到每条干涉条纹的定标参数；根据干涉条纹的图像数据和定标参数还原出每个截面处的真实形状，实现对待测量物体光学轮廓测量的标定本发明通过构建双波面干涉条纹阵列图像定标模型，并采用拟合的方式确定每条干涉条纹的定标模型中的定标参数，大大减少了标定次数，简便高效的实现大面积光学轮廓测量标定。
基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量标定方法

[发明专利]一种高功率激光增透膜透过率测量方法及其测量装置-CN202010574555.2有效
发明人：李铭;达争尚;段亚轩;陈永权;李红光;袁索超;王璞 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明涉及高功率激光增透膜透过率测量技术，具体涉及一种高功率激光增透膜透过率测量方法，以解决现有的增透膜透过率测量精确度低的问题。本发明所采用的技术方案为；一种高功率激光增透膜透过率测量方法，首先，控制计算机控制激光光源设备输出准直光束；其次，通过干涉光路将准直光束分为两束光，并调节干涉光路，使两束光在探测系统中形成第一干涉条纹图像；再次，样品台将待测透射元件切入干涉光路中，在探测系统中形成第二干涉条纹图像；最后，控制计算机对第一干涉条纹图像和第二干涉条纹图像进行滤波去噪处理并计算增透膜透过率；本发明还提供了一种高功率激光增透膜透过率测量装置
一种功率激光增透膜透过测量方法及其测量装置

[发明专利]一种基于视频合成孔径雷达的干涉测量方法-CN202110346249.8有效
发明人：闵锐;皮亦鸣;王浩;李晋;曹宗杰;崔宗勇;杨晓波 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明属于雷达干涉测量技术领域，具体涉及一种基于视频合成孔径雷达的干涉测量方法。本发明的方法主要包括：首先根据传统InSAR的模型，建立视频SAR干涉测量模型，然后根据模型推导目标高程反演公式。其次，根据视频SAR中每个子孔径内将得到主、辅两幅图像的视角变化，提出了SIFT配准算法，然后对配准后的主、辅图像共轭相乘，得到干涉图。随后对得到的干涉图进行相位解缠，并根据高程反演公式计算目标的高程信息。根据坐标处的高程信息建立目标区域的DEM，并对DEM进行矫正。最后将所有步骤结合起来，给出视频SAR干涉测量方法。本方法提出了聚束模式的视频SAR干涉测量模型及高程反演公式，并针对相关步骤给出了具体方法。
一种基于视频合成孔径雷达干涉测量方法

[实用新型]铜带厚度测量仪-CN200820225392.1有效
发明人：封全虎 -专利权人：芜湖众源金属带箔有限公司
申请日： 2008-11-09 - 公布日： 2009-11-25 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型公开一种铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，所述的二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述的低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器；具有的有益效果是，测量精度高、测量速度快，由于是非接触式测量，对铜带表面没有任何损伤，特别适合不透明且两面都有较强反射度的带材的厚度测量
厚度测量仪

[实用新型]一种激光干涉仪-CN202220732584.1有效
发明人：米茜;逯朕钰;张红 -专利权人：重庆四联特种装备材料有限公司
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： F16M11/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量装置技术领域，具体涉及一种激光干涉仪，包括干涉仪本体，还包括安装机构，安装机构包括底座、外杆、驱动组件、滑筒和安装座，外杆与底座固定连接，驱动组件设置于外杆内侧壁，滑筒与外杆滑动连接，并与驱动组件固定连接，安装座与滑筒转动连接，干涉仪本体与安装座固定连接，外杆通过底座放置在地面上，在对干涉仪本体进行高度调整时，驱动组件驱动滑筒从外杆内滑出，使得滑筒带动安装座向远离底座的一侧移动，安装座移动时带动干涉仪本体升高，直至干涉仪本体的测量端与测量点对齐，解决了干涉仪本体的测量端无法通过人工调整与测量点准确对齐的问题。
一种激光干涉仪

[发明专利]干涉测量光学材料均匀性的方法-CN201210406066.1有效
发明人：栾竹;刘世杰;吴福林;成倩;白云波 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-10-22 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种干涉测量光学材料均匀性的方法，将光学材料加工成前后表面具有一定的夹角α的样品，利用干涉仪通过五次波面测量，然后计算得到样品的光学均匀性，为绝对测量结果。特别适合于待测元件超过干涉仪测试口径的大口径元件测量。
干涉测量光学材料均匀方法

[发明专利]用集成四光电探测器的差分单频干涉信号处理装置及方法-CN201711045229.7有效
发明人：陈本永;楼盈天;严利平 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用集成四光电探测器的差分单频干涉信号处理装置及方法。含有干涉单元和检测单元，在参考臂上加入光电相位调制器；检测单元包括四分之一波片、偏振片、扩束器和集成四光电探测器，用于检测测量和参考光束的干涉条纹并产生四路干涉信号；光电相位调制器施加高频正弦波调制电压，使干涉信号成含有待测相位信息的相位生成载波干涉信号；PGC解调得四组正交信号经计算得四路干涉信号的相位，计算差分相位变化来测量位移、偏摆角和俯仰角并进行补偿。本发明降低了测量方法的非线性误差，消除了由于光学元件性能不理想或安装误差引入的光强干扰影响，提高了相位的测量精度和稳定性，提高了角度的测量精度和测量范围，提高了位移的测量精度。
集成光电探测器差分单频干涉信号处理装置方法

[发明专利]一种激光干涉测量系统的反射镜面形变化检测装置及方法-CN201910743553.9有效
发明人：李元哲;张文涛;熊显名;杜浩 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光干涉测量系统的反射镜面形变化检测方法，将两个反射镜沿激光干涉仪的两道测量光束方向呈45°倾斜角度设置；保持第一个反射镜不动，将第二个反射镜沿激光干涉仪的测量光束出射方向作步进运动，激光干涉仪得到测量值，第二个反射镜上的光束测量完成后，将移动的第二反射镜复位；保持第二个反射镜不动，将第一个反射镜沿激光干涉仪的测量光束出射方向作反向步进运动，激光干涉仪得到测量值，将第一组面形变化数值和第二组面形变化数值做平均化处理达到提高对激光干涉仪配套的反射镜组进行面形校准的方法的校准精度，同时降低了成本的目的。
一种激光干涉测量系统反射形变检测装置方法