[发明专利]半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 201810901544.3 申请日: 2018-08-09
公开(公告)号: CN109390340A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 金熙中;赵珉熙;金奉秀;金俊秀;山田悟;李元锡;黄有商 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了半导体存储器件。一种半导体存储器件包括在第一沟槽中的隔离层和在隔离层上的第一栅电极部分。该半导体存储器件包括在第二沟槽中的第二栅电极部分。在一些实施方式中,第二栅电极部分在一方向上比第一栅电极部分宽。而且,在一些实施方式中,第二沟槽的上部区域比第二沟槽的下部区域在所述方向上与第一沟槽间隔开更大的距离。还提供了形成半导体存储器件的相关方法。
搜索关键词: 半导体存储器件 栅电极 隔离层 沟槽间隔 上部区域 下部区域
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:衬底;器件隔离层,其限定所述衬底的有源区域;以及栅极线结构,其包括埋入所述衬底的沟槽中以跨越所述有源区域的栅极绝缘层和栅电极,其中所述沟槽包括在所述器件隔离层上的第一沟槽部分和在所述有源区域上的第二沟槽部分,以及其中,在所述第二沟槽部分中,所述栅极绝缘层重叠所述栅电极的顶表面。
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