专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]提供物理不可克隆功能的设备及其方法-CN202011437719.3有效
  • 吕士濂;李承恩 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2020-12-07 - 2023-09-19 - G06F21/72
  • 提供了用于确定设备的物理不可克隆功能(PUF)单元的可靠性的系统和方法。将第一信号提供给PUF单元的第一分支,将第二信号提供给PUF单元的第二分支,第一信号和第二信号以同步方式提供。基于由第一信号和第二信号产生的PUF单元的输出来确定基本PUF单元值。将第三信号提供给第一分支,将第四信号提供给第二分支,第三信号和第四信号以不同步的方式提供。基于由第三信号和第四信号产生的PUF单元的输出来确定应力PUF单元值。基于PUF单元值与应力PUF单元值之间的差异确定PUF单元不可用。本发明的实施例还涉及提供物理不可克隆功能的设备及其方法。
  • 提供物理不可克隆功能设备及其方法
  • [发明专利]存储器系统及其操作方法-CN202110586177.4有效
  • 吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-05-27 - 2023-08-08 - G11C16/34
  • 在此公开的涉及一种存储器系统和一种操作该存储器系统的方法。在一个方面,单独设置第一存储器单元、第二存储器单元、第三存储器单元和第四存储器单元的电阻。在一个方面,第一存储器单元和第二存储器单元在第一线和第二线之间彼此串联耦合,第三存储器单元和第四存储器单元在第二线和第三线之间彼此串联耦合。在一个方面,根据以下的并联电阻来感测通过第二线的电流:i)第一存储器单元和第二存储器单元的串联电阻,以及ii)第三存储器单元和第四存储器单元的串联电阻。
  • 存储器系统及其操作方法
  • [发明专利]用于筛选存储器阵列中的弱比特的方法-CN202210442208.3在审
  • 池育德;李嘉富;刘建瑛;史毅骏;陈冠均;杨学之;吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-06-28 - 2022-07-22 - G11C29/42
  • 本发明的实施例提供了一种筛选存储器阵列中的弱比特的方法,包括:将第一组数据存储在存储器阵列的具有第一组存储器单元的第一存储器阵列中;至少对第一存储器阵列实施第一烘焙工艺,或者至少对第一存储器阵列施加第一磁场;确定存储在第一存储器阵列中的第一组数据的部分是否由第一烘焙工艺或第一磁场改变;以及如果第一组存储器单元的第一存储器单元存储改变的数据,则跟踪第一组存储器单元的至少第一存储器单元的地址,并且实施以下操作中的至少一个:(1)利用存储器阵列的第二存储器阵列中的对应存储器单元替换存储改变的数据的第一组存储器单元中的第一存储器单元,和(2)丢弃存储改变的数据的第一组存储器单元中的第一存储器单元。
  • 用于筛选存储器阵列中的比特方法
  • [发明专利]存储器阵列中的错误校正方法-CN202010288375.8有效
  • 池育德;李嘉富;刘建瑛;史毅骏;陈冠均;杨学之;吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-06-28 - 2022-06-28 - G11C29/42
  • 本发明的实施例提供了一种校正存储器阵列中的错误的方法。该方法包括:配置具有第一纠错码(ECC)的第一存储器阵列以提供存储在所述第一存储器阵列中的一组数据的错误校正,从而生成第一组数据,所述第一存储器阵列包括布置为多行和多列的第一组存储器单元,所述第一组存储器单元中的一行存储器单元包括第一组存储器字,所述第一组存储器字中的每个字包括第一组比特;将第二组数据存储在第二存储器阵列中,所述第二组数据至少包括所述第一组数据的副本,所述第二存储器阵列包括布置为多行和多列的第二组存储器单元;对所述第一存储器阵列和所述第二存储器阵列实施回流工艺;基于所述第一组数据和所述第二组数据来恢复所述第一组数据的至少部分;以及基于ECC校正所述恢复的第一组数据中的错误。
  • 存储器阵列中的错误校正方法
  • [发明专利]比特单元状态保留-CN201680017859.0有效
  • C.奥古斯丁;富岛茂树;J.W.尚茨;吕士濂 - 英特尔公司
  • 2016-02-19 - 2022-03-01 - G11C11/16
  • 根据本公开的各种实施例,描述了在例如自旋转移力矩(STT)随机访问存储器(RAM)STTRAM的MRAM存储器中的杂散磁场减弱。在一个实施例中,通过生成磁场以补偿可造成存储器的比特单元更改状态的杂散磁场,可促进在STTRAM中比特单元比特值存储状态的保留。在另一实施例中,通过选择性挂起对存储器的行的访问以暂时终止可造成存储器的比特单元更改状态的杂散磁场,可促进在STTRAM中比特单元比特值存储状态的保留。本文中描述了其它方面。
  • 比特单元状态保留
  • [发明专利]存储器单元阵列及其形成方法-CN201811496832.1有效
  • 吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2018-12-07 - 2022-02-18 - H01L27/11
  • 一种存储器单元阵列包括布置在第一方向上的第一行中的第一存储器单元和布置在第一方向上的第二行中的第二存储器单元。第一存储器单元或第二存储器单元包括有源区组、栅极组和第一组导电结构。有源区组中的每个有源区在第一方向上通过第一间距与邻近有源区分开。有源区组在第二方向上延伸。有源区组包括与第一存储器单元的第一侧邻近的第一有源区和与第一存储器单元的第二侧邻近的第二有源区。第一有源区的长度不同于第二有源区的长度。本发明的实施例还提供了存储器单元阵列的形成方法。
  • 存储器单元阵列及其形成方法
  • [发明专利]集成电路及其操作方法-CN202111006602.4在审
  • 吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-08-30 - 2021-12-17 - G06F11/10
  • 提供了一种集成电路及其操作方法。一种集成电路包括:纠错码编码器,被配置为响应于第一数据集合生成第一校验位集合;第一反相器集合,耦合至纠错码编码器并且被配置为响应于第一校验位集合生成第二校验位集合;以及第一存储器单元阵列。第二校验位集合与第一校验位集合反相。第一存储器单元阵列包括:存储器单元的第一部分,被配置为存储第一数据集合;和存储器单元的第二部分,耦合至第一反相器集合并且被配置为存储第二校验位集合。
  • 集成电路及其操作方法

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