[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审
申请号: | 202110683033.0 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113506792A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 吕文隆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人: | 唐华东 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 装置 及其 制造 方法 | ||
本公开涉及半导体封装装置及其制造方法。该半导体封装装置包括:引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;第一芯片,设置于第一表面且主动面朝向第一表面;保护层,包覆第一表面和至少部分第一芯片,第一芯片的非主动面至少部分在保护露出。该半导体封装装置中第一芯片的非主动面至少部分在保护层露出,有利于第一芯片非主动面散热。
技术领域
本公开涉及半导体封装技术领域,具体涉及半导体封装装置及其制造方法。
背景技术
常见的先进嵌入式系统集成(Advanced Embedded Active System Integration,aEASI),是将芯片非主动面黏贴在引线框架上,通过引线框架实现对芯片散热。由于引线框架被介电材包覆,因此引线框架的散热能力有限。随着芯片的功率越来越大,散热问题便更显严重。
发明内容
第一方面,本公开提供了一种半导体封装装置,包括:
引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;
第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;
保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
线路层,设置于所述第二表面,所述第一芯片电连接所述线路层。
在一些可选的实施方式中,所述线路层包括重布线层。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面,所述第二芯片经所述线路层与所述第一芯片电连接。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
电连接件,设置于所述第一芯片的主动面且穿过所述引线框架。
第二方面,本公开提供了一种半导体封装装置,包括:
引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;
第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;
第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面;
线路层,所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。
在一些可选的实施方式中,所述第一芯片的主动面和所述第二芯片的主动面均面向所述线路层。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
粘合层,设置于所述引线框架和所述线路层之间,包覆所述第一芯片的主动面的至少部分、所述第二芯片的主动面和所述第二表面。
在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:
被动电子元件,设置于所述第二表面。
在一些可选的实施方式中,所述被动电子元件与所述第一芯片电连接。
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