[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110683033.0 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113506792A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 吕文隆 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京植德律师事务所 11780 代理人: 唐华东
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 装置 及其 制造 方法
【说明书】:

本公开涉及半导体封装装置及其制造方法。该半导体封装装置包括:引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;第一芯片,设置于第一表面且主动面朝向第一表面;保护层,包覆第一表面和至少部分第一芯片,第一芯片的非主动面至少部分在保护露出。该半导体封装装置中第一芯片的非主动面至少部分在保护层露出,有利于第一芯片非主动面散热。

技术领域

本公开涉及半导体封装技术领域,具体涉及半导体封装装置及其制造方法。

背景技术

常见的先进嵌入式系统集成(Advanced Embedded Active System Integration,aEASI),是将芯片非主动面黏贴在引线框架上,通过引线框架实现对芯片散热。由于引线框架被介电材包覆,因此引线框架的散热能力有限。随着芯片的功率越来越大,散热问题便更显严重。

发明内容

第一方面,本公开提供了一种半导体封装装置,包括:

引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;

第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;

保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

线路层,设置于所述第二表面,所述第一芯片电连接所述线路层。

在一些可选的实施方式中,所述线路层包括重布线层。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面,所述第二芯片经所述线路层与所述第一芯片电连接。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

电连接件,设置于所述第一芯片的主动面且穿过所述引线框架。

第二方面,本公开提供了一种半导体封装装置,包括:

引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;

第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;

第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面;

线路层,所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。

在一些可选的实施方式中,所述第一芯片的主动面和所述第二芯片的主动面均面向所述线路层。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

粘合层,设置于所述引线框架和所述线路层之间,包覆所述第一芯片的主动面的至少部分、所述第二芯片的主动面和所述第二表面。

在一些可选的实施方式中,所述装置还包括:

被动电子元件,设置于所述第二表面。

在一些可选的实施方式中,所述被动电子元件与所述第一芯片电连接。

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