[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审
申请号: | 202110683033.0 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113506792A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 吕文隆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人: | 唐华东 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体封装装置,包括:
引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;
第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;
保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:
线路层,设置于所述第二表面,所述第一芯片电连接所述线路层。
3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述装置还包括:
第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面,所述第二芯片经所述线路层与所述第一芯片电连接。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:
散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:
电连接件,设置于所述第一芯片的主动面且穿过所述引线框架。
6.一种半导体封装装置,包括:
引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;
第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;
第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面;
线路层,所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。
7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述装置还包括:
保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。
8.根据权利要求7所述的装置,其中,所述装置还包括:
散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。
9.根据权利要求6所述的装置,其中,所述装置还包括:
粘合层,设置于所述引线框架和所述线路层之间,包覆所述第一芯片的主动面的至少部分、所述第二芯片的主动面和所述第二表面。
10.一种制造半导体封装装置的方法,包括:
提供引线框架,所述引线框架具有相对的第一表面和第二表面及开口;
将第一芯片主动面对应所述开口贴设于所述第一表面;
将第二芯片非主动面贴设于所述第二表面;
提供线路层和介电层,所述线路层上设置有粘合层,所述介电层上设置有保护层;
将所述保护层对应所述第一表面、所述粘合层对应所述第二表面进行压合,以使所述第一芯片非主动面至少部分抵接所述介电层;
将所述第一芯片主动面经所述开口电连接所述线路层;
将所述第二芯片主动面电连接所述线路层,以使所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。
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