[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110683033.0 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113506792A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 吕文隆 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京植德律师事务所 11780 代理人: 唐华东
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体封装装置,包括:

引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;

第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;

保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。

2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

线路层,设置于所述第二表面,所述第一芯片电连接所述线路层。

3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述装置还包括:

第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面,所述第二芯片经所述线路层与所述第一芯片电连接。

4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。

5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

电连接件,设置于所述第一芯片的主动面且穿过所述引线框架。

6.一种半导体封装装置,包括:

引线框架,具有相对的第一表面和第二表面;

第一芯片,设置于所述第一表面且主动面朝向所述第一表面;

第二芯片,设置于所述第二表面且非主动面朝向所述第二表面;

线路层,所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。

7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述装置还包括:

保护层,包覆所述第一表面和至少部分所述第一芯片,所述第一芯片的非主动面至少部分在所述保护层露出。

8.根据权利要求7所述的装置,其中,所述装置还包括:

散热组件,设置于所述第一芯片的非主动面。

9.根据权利要求6所述的装置,其中,所述装置还包括:

粘合层,设置于所述引线框架和所述线路层之间,包覆所述第一芯片的主动面的至少部分、所述第二芯片的主动面和所述第二表面。

10.一种制造半导体封装装置的方法,包括:

提供引线框架,所述引线框架具有相对的第一表面和第二表面及开口;

将第一芯片主动面对应所述开口贴设于所述第一表面;

将第二芯片非主动面贴设于所述第二表面;

提供线路层和介电层,所述线路层上设置有粘合层,所述介电层上设置有保护层;

将所述保护层对应所述第一表面、所述粘合层对应所述第二表面进行压合,以使所述第一芯片非主动面至少部分抵接所述介电层;

将所述第一芯片主动面经所述开口电连接所述线路层;

将所述第二芯片主动面电连接所述线路层,以使所述第一芯片经所述线路层与所述第二芯片电连接。

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