[发明专利]半导体结构及半导体结构的制作方法有效
申请号: | 202110291509.6 | 申请日: | 2021-03-18 |
公开(公告)号: | CN113113384B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 李森;夏军;占康澍;刘涛;宛强;徐朋辉 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L21/768 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 李建忠;袁礼君 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 结构 制作方法 | ||
本发明涉及半导体技术领域,提出了一种半导体结构及半导体结构的制作方法。半导体结构包括:衬底;位线,位线位于衬底上;支撑层,支撑层位于衬底上,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段,第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接,且位线位于第一支撑段和第二支撑段之间,使得支撑层实现了对位线的支撑,从而可以避免位线出现坍塌的问题,以此改善半导体结构的性能。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构及半导体结构的制作方法。
背景技术
在半导体结构的制作过程中,随着关键尺寸的不断降低,位线的结构稳定性较差,容易出现坍塌。
发明内容
本发明提供一种半导体结构及半导体结构的制作方法,以改善半导体结构的性能。
根据本发明的第一个方面,提供了一种半导体结构,包括:
衬底;
位线,位线位于衬底上;
支撑层,支撑层位于衬底上,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段,第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接,且位线位于第一支撑段和第二支撑段之间。
在本发明的一个实施例中,半导体结构还包括:
侧壁绝缘层,侧壁绝缘层覆盖位线的侧壁和支撑层的侧壁。
在本发明的一个实施例中,侧壁绝缘层形成于位线和支撑层之后。
在本发明的一个实施例中,位线和支撑层上的部分侧壁绝缘层为一体式结构。
在本发明的一个实施例中,支撑层和侧壁绝缘层的材料包括碳化硅或氮化硅。
在本发明的一个实施例中,位线为多个,多个位线沿垂直于位线延伸方向的方向间隔设置;
其中,支撑层还包括第三支撑段,第一支撑段、第二支撑段以及第三支撑段均为支撑段,各个位线均位于相邻两个支撑段之间。
在本发明的一个实施例中,支撑层为多个,多个支撑层沿位线的延伸方向间隔设置。
在本发明的一个实施例中,多个位线与多个支撑层之间形成有多个容纳空间,半导体结构还包括:
接触垫,接触垫为多个,多个接触垫分别位于多个容纳空间内。
根据本发明的第二个方面,提供了一种半导体结构的制作方法,包括:
提供衬底;
在衬底上形成支撑层,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段;
在衬底上形成位线,位线形成于第一支撑段和第二支撑段之间,且第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接。
在本发明的一个实施例中,半导体结构的制作方法,还包括:
在形成支撑层之前,
在衬底上形成辅助层;
在辅助层上形成沟槽;
在沟槽内形成牺牲层;
在辅助层上形成开口,牺牲层位于相邻两个开口之间;
其中,支撑层形成于开口内。
在本发明的一个实施例中,去除牺牲层,并在沟槽内形成位线的至少部分。
在本发明的一个实施例中,辅助层包括位线接触层和介质层,位线接触层形成于衬底上,介质层形成于位线接触层上,沟槽暴露位线接触层,开口暴露衬底,形成位线包括:
在沟槽内形成阻挡层;
在沟槽内形成导电层,导电层覆盖阻挡层;
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