[发明专利]半导体结构及半导体结构的制作方法有效

专利信息
申请号: 202110291509.6 申请日: 2021-03-18
公开(公告)号: CN113113384B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 李森;夏军;占康澍;刘涛;宛强;徐朋辉 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L21/768
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 李建忠;袁礼君
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 制作方法
【说明书】:

发明涉及半导体技术领域,提出了一种半导体结构及半导体结构的制作方法。半导体结构包括:衬底;位线,位线位于衬底上;支撑层,支撑层位于衬底上,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段,第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接,且位线位于第一支撑段和第二支撑段之间,使得支撑层实现了对位线的支撑,从而可以避免位线出现坍塌的问题,以此改善半导体结构的性能。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构及半导体结构的制作方法。

背景技术

在半导体结构的制作过程中,随着关键尺寸的不断降低,位线的结构稳定性较差,容易出现坍塌。

发明内容

本发明提供一种半导体结构及半导体结构的制作方法,以改善半导体结构的性能。

根据本发明的第一个方面,提供了一种半导体结构,包括:

衬底;

位线,位线位于衬底上;

支撑层,支撑层位于衬底上,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段,第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接,且位线位于第一支撑段和第二支撑段之间。

在本发明的一个实施例中,半导体结构还包括:

侧壁绝缘层,侧壁绝缘层覆盖位线的侧壁和支撑层的侧壁。

在本发明的一个实施例中,侧壁绝缘层形成于位线和支撑层之后。

在本发明的一个实施例中,位线和支撑层上的部分侧壁绝缘层为一体式结构。

在本发明的一个实施例中,支撑层和侧壁绝缘层的材料包括碳化硅或氮化硅。

在本发明的一个实施例中,位线为多个,多个位线沿垂直于位线延伸方向的方向间隔设置;

其中,支撑层还包括第三支撑段,第一支撑段、第二支撑段以及第三支撑段均为支撑段,各个位线均位于相邻两个支撑段之间。

在本发明的一个实施例中,支撑层为多个,多个支撑层沿位线的延伸方向间隔设置。

在本发明的一个实施例中,多个位线与多个支撑层之间形成有多个容纳空间,半导体结构还包括:

接触垫,接触垫为多个,多个接触垫分别位于多个容纳空间内。

根据本发明的第二个方面,提供了一种半导体结构的制作方法,包括:

提供衬底;

在衬底上形成支撑层,支撑层包括第一支撑段和第二支撑段;

在衬底上形成位线,位线形成于第一支撑段和第二支撑段之间,且第一支撑段和第二支撑段均与位线相连接。

在本发明的一个实施例中,半导体结构的制作方法,还包括:

在形成支撑层之前,

在衬底上形成辅助层;

在辅助层上形成沟槽;

在沟槽内形成牺牲层;

在辅助层上形成开口,牺牲层位于相邻两个开口之间;

其中,支撑层形成于开口内。

在本发明的一个实施例中,去除牺牲层,并在沟槽内形成位线的至少部分。

在本发明的一个实施例中,辅助层包括位线接触层和介质层,位线接触层形成于衬底上,介质层形成于位线接触层上,沟槽暴露位线接触层,开口暴露衬底,形成位线包括:

在沟槽内形成阻挡层;

在沟槽内形成导电层,导电层覆盖阻挡层;

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