[发明专利]半导体封装件及其制法无效
申请号: | 201210074577.8 | 申请日: | 2012-03-20 |
公开(公告)号: | CN103311225A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 许聪贤;方颢儒;钟兴隆 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/552 | 分类号: | H01L23/552;H01L23/31;H01L21/56 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制法 | ||
1.一种半导体封装件,其包括:
基板,其具有相对的第一表面与第二表面,该基板内部并具有接地层,且该第二表面具有外露该接地层的凹部;
半导体芯片,其设于该基板的第一表面上;
封装胶体,其形成于该基板的第一表面上,且包覆该半导体芯片;以及
金属层,其包覆该封装胶体与基板,且延伸至该凹部,以电性连接该接地层。
2.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该凹部位于该第二表面的角落或边缘。
3.根据权利要求1所述的半导体封装件,其特征在于,该基板为封装基板或电路板。
4.一种半导体封装件的制法,包括以下步骤:
A)提供一基板,其具有相对的第一表面与第二表面,该基板内部并具有接地层,于该基板的第一表面上设置有半导体芯片,于该基板的第一表面上形成有包覆该半导体芯片的封装胶体,且该基板的第二表面形成有外露该接地层的凹部;以及
B)形成包覆该封装胶体与基板的金属层,且该金属层延伸至该凹部,以电性连接该接地层。
5.根据权利要求4所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该步骤A)包括:
提供一基板,其具有相对的第一表面与第二表面,该基板内部并具有接地层;
于该基板的第二表面形成外露该接地层的凹部;
于该基板的第一表面上接置半导体芯片;以及
于该基板的第一表面上形成包覆该半导体芯片的封装胶体。
6.根据权利要求4所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该凹部位于该第二表面的角落或边缘。
7.根据权利要求4所述的半导体封装件的制法,其特征在于,形成该凹部的方式为机械或激光钻孔。
8.根据权利要求4所述的半导体封装件的制法,其特征在于,形成该金属层的方式为溅镀。
9.根据权利要求4所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该基板为封装基板或电路板。
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