[实用新型]薄型半导体芯片封装用基板无效

专利信息
申请号: 200720143612.1 申请日: 2007-04-17
公开(公告)号: CN201045736Y 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 白金泉;黄志恭 申请(专利权)人: 白金泉;黄志恭
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 芯片 封装 用基板
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及半导体芯片封装,特别是关于一种供薄型半导体芯片封装使用的基板。

背景技术

目前在半导体芯片的封装上,大部分均采用以纤维补强塑料制成的硬质基板,由于该等基板必须具备一定的厚度来承受封装时的各种加工程序,例如形成电路图样,冲设或钻设导电通孔等,因此整体芯片封装的厚度无法减小,再者该等基板亦无法承受200℃以上的高温。

实用新型内容

本实用新型的主要目的即在提供一种半导体芯片封装用基板,其可有效减少整体芯片封装的厚度。

本实用新型的另一目的则在提供一种半导体芯片封装用基板,其可承受200℃以上的高温。

本实用新型的再一目的则在提供一种半导体芯片封装用基板,其尺寸可长久保持稳定。

缘是,为达成前揭目的,本实用新型的薄型半导体芯片封装用基板,包含有一基层,一蚀刻止挡层以及一作用层。该基层是一具预定厚度的金属材质制成,供封装制程的承载。该蚀刻止挡层是以金属材质制成,具有一上表面及下表面,该下表面是附着于该基层的一表面上。该作用层是以导电金属材质制成,且是以具预定电路迹线的方式布置于该蚀刻止挡层的上表面上。该蚀刻隔离层的金属材质是不同于与该作用层的金属材质。

本实用新型的有益效果是,克服了现有技术的整体芯片封装的厚度无法减小,基板亦无法承受200℃以上的高温,提供一种薄型半导体芯片封装用基板,且可以承受200℃以上的高温。

以下兹举若干较佳实施例并配合图式对本实用新型做进丨步的说明,其中:

附图说明

图1为本实用新型一较佳实施例的立体图;

图2为沿图12-2方向上的剖视图;

图3为以图1所示实施例为基板的半导体芯片封装的断面示意图;

图4为本实用新型第二较实施例与图2相同方向的剖视图;以及

图5为本实用新型第三较实施例与图2相同方向的剖视图。

【主要组件符号说明】

基板10

基层12

蚀刻止挡层14

作用层16

半导体芯片20

包覆层22

基板30

作用层32

防焊层34

蚀刻止挡层42

作用层44

基层46

具体实施方式

首先请参阅图1及图2,本实用新型依较佳实施例的基板如图号10所示,包含有一基层12,一蚀刻止挡层14以及一作用层16。

该基层12是以具适当厚度(例如15μm~50μm)的铜箔所制成,在进行封装加工程序时,该基层12是作为承载支撑之用,封装完成后可以适当的方法将之去除。该蚀刻止挡层14是以一适当厚度(例如0.2μm~1μm)的镍薄板或镍箔所制成,其是附着于该基层12的上表面,当该作用层16进行蚀刻加工时,可防止该基层12被蚀刻,当封装完成后,该蚀刻止挡层14同样的可以适当的加工方式予以去除。该作用层16是以具适当厚度(例如99μm~18μm)的铜箔所制成,是以具预定电路迹线的方式布置于该蚀刻止挡层14的上表面,在实际制造上该基层12的厚度最好大于该作用层16。

请再参阅图3,以该基板10进行半导体芯片20的封装时,其是以现有的加工方式将该芯片20贴置于该作用层16上,然后进行打线作业以及灌填胶体包覆层22,最后则是将该蚀刻止挡层14以及该基层12去除,完成后即如该图所示的薄型半导体芯片封装。

最后请参阅图4与图5,其中图4图号30所示为本实用新型第二较佳实施例的基板,其与图1所示基板10的不同处在于其作用层32的各相邻电路迹线间分别充填一防焊层34。图5图号40所示则为本实用新型第三较佳实施例的基板,其与图1所示基板10的不同处在于其蚀刻止挡层42是与对应于作用层44电路迹线的方式布置于基层46上。

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