专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]动态随机存取存储器单元-CN201110425199.9有效
  • 沃纳·郑林 - 南亚科技股份有限公司
  • 2011-12-16 - 2012-09-19 - H01L27/108
  • 本发明公开了一种动态随机存取存储器单元,包含:第一场效应晶体以及第二场效应晶体。所述第二场效应晶体与所述第一场效应晶体相邻,包含:源极随耦晶体,其位于所述第二场效应晶体的第一片;存取晶体,其位于所述第二场效应晶体的第二片;写入字元线;以及读取字元线,当所述读取字元线被施以高电位时,所述源极随耦晶体使数据得以由所述第一场效应晶体被读取出来。
  • 动态随机存取存储器单元
  • [发明专利]半导体装置-CN200910118762.0有效
  • 水村章;安茂博章;大石哲也 - 索尼株式会社
  • 2009-03-11 - 2009-09-16 - H01L27/088
  • 本发明公开了一种半导体装置,其包括第一晶体和第二晶体,所述第一晶体和所述第二晶体各由多个晶体形成,并且所述第一晶体和所述第二晶体被并联连接从而在电气方面共用源极,其中所述多个晶体各自包括活性层,所述活性层从半导体基板上突出,在所述活性层的一端上形成有用作所述源极的源极层且在所述活性层的另一端上形成有漏极层,从而形成沟道区域,所述活性层被配置为平行地彼此相邻,并且所述漏极层被布置为使电流在所述第一晶体与所述第二晶体中以相反的方向流过所述多个晶体该半导体装置提供了集成的场效应晶体之间的窄间距宽度和极好匹配。
  • 半导体装置
  • [发明专利]半导体装置-CN201210114943.8有效
  • 水村章;安茂博章;大石哲也 - 索尼株式会社
  • 2009-03-11 - 2012-09-12 - H01L27/02
  • 本发明公开了一种半导体装置,其包括第一晶体和第二晶体,所述第一晶体和所述第二晶体各由多个晶体形成,并且所述第一晶体和所述第二晶体被并联连接从而在电气方面共用源极,其中所述多个晶体各自包括活性层,所述活性层从半导体基板上突出,在所述活性层的一端上形成有用作所述源极的源极层且在所述活性层的另一端上形成有漏极层,从而形成沟道区域,所述活性层被配置为平行地彼此相邻,并且所述漏极层被布置为使电流在所述第一晶体与所述第二晶体中以相反的方向流过所述多个晶体该半导体装置提供了集成的场效应晶体之间的窄间距宽度和极好匹配。
  • 半导体装置
  • [实用新型]一种SDB工艺的测试结构-CN202021810675.X有效
  • 张璐 - 杭州广立微电子股份有限公司
  • 2020-08-26 - 2021-07-09 - H01L21/66
  • 本实用新型提供一种SDB工艺的测试结构,用于检测单扩散区切断的工艺情况,所述测试结构包括至少一个基本单元:所述基本单元包括两个场效应晶体:第一场效应晶体和第二场效应晶体;所述场效应晶体包括若干根相邻的平行部和横跨部的栅极结构,场效应晶体的源极和漏极分设在栅极结构两侧的部上;所述第一场效应晶体和第二场效应晶体共用同一根栅极结构;单扩散区切断设置在第二场效应晶体的栅极结构上,用于截断第二场效应晶体的源极和漏极
  • 一种sdb工艺测试结构
  • [发明专利]半导体装置-CN201610900624.8在审
  • 江国诚;蔡庆威;王志豪;梁英强 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-10-17 - 2017-04-26 - H01L27/088
  • 一种半导体装置,包含第一场效晶体及第二场效晶体。第一场效晶体包含第一栅极、第一源极及第一漏极,且具有源极/漏极间的第一距离。第二场效晶体包含第二栅极、第二源极及第二漏极,且具有小于第一场效晶体源极/漏极间距离的第二距离。在一些实施例中,第一场效晶体装置为一种输入/输出装置,而第二场效晶体装置为诸如一核心装置的非输入/输出装置。在一些实施例中,第一场效晶体源极/漏极之间具有较大的距离,是因为第一场效晶体装置的一附加间隔层而第二场效晶体装置没有。其功效在于可减少短通道效应。
  • 半导体装置
  • [发明专利]确定电路老化性能的方法和装置-CN201310684584.4有效
  • 孙永生;郭建平;付一伟 - 华为技术有限公司
  • 2013-12-12 - 2014-04-23 - G01R31/28
  • 本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置,该方法包括:确定电路中每个场效晶体的自发热温度;根据每个场效晶体的自发热温度,确定每个场效晶体的仿真温度;根据每个场效晶体的仿真温度本发明实施例的确定电路老化性能的方法和装置,根据电路中每个场效晶体的自发热温度确定每个场效晶体的仿真温度,能够使每个场效晶体的仿真温度与每个场效晶体的实际温度相接近,从而能够使根据该仿真温度确定的电路老化性能与实际情况下的电路老化性能相符合
  • 确定电路老化性能方法装置
  • [发明专利]半导体装置的形成方法-CN202210113321.7在审
  • 黄玉莲 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-01-30 - 2022-08-09 - H01L21/8234
  • 本文涉及一种半导体装置的形成方法,所描述的各种半导体技术能够缩小场效晶体的一个或多个尺寸及/或增加场效晶体的一个或多个尺寸。可使用材料通过选择性沉积来缩小场效晶体的一个或多个x方向尺寸,而通过蚀刻来增加或扩大场效晶体的一个或多个y方向尺寸。场效晶体的金属漏极的x方向尺寸、场效晶体的主动区的x方向尺寸及/或场效晶体的多晶硅区的x方向尺寸可通过选择性沉积氮化硼、碳化硼、氧化硼(例如B2鳍场效晶体的一个或多个y方向尺寸增加。
  • 半导体装置形成方法
  • [发明专利]场效应晶体及其制作方法-CN201110422099.0有效
  • 张海洋;王新鹏 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2011-12-15 - 2013-06-19 - H01L21/336
  • 本发明提供一种场效应晶体及其制作方法,该晶体包括:形成在半导体衬底上的;第一栅极、第二栅极,第一栅极、第二栅极分别位于的两侧,的位于第一栅极、第二栅极之间的部分作为场效应晶体的沟道,的沟道以外的部分作为场效应晶体的源极、漏极,第一栅极、第二栅极分别与源极、漏极构成具有不同阈值电压的第一晶体、第二晶体。当上述晶体应用在静态随机存储器中时,且当存储器处于工作状态时,可控制整个晶体的阈值电压处于较小值,以获得较佳的运算速度;当存储器处于闲置状态时,可控制整个晶体的阈值电压处于较大值,以减小晶体中漏电流的产生
  • 场效应晶体管及其制作方法

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