[发明专利]光检测结构及检测方法、安全芯片和电子卡在审

专利信息
申请号: 202010984294.1 申请日: 2020-09-18
公开(公告)号: CN112098815A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 李立;杨磊;王韩 申请(专利权)人: 天津兆讯电子技术有限公司
主分类号: G01R31/311 分类号: G01R31/311
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦;董烨飞
地址: 300450 天津市滨海新区开发区信*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种光检测结构,包括控制单元、检测单元,检测单元包括依次级联设置的暗电流消除电路、光电流产生电路和电量保持电路,光电流产生电路,包括第二光敏二极管、第二镜像电流源和第三镜像电流源,用于随动由第二光敏二极管因感应可见光而产生的光电流;暗电流消除电路,包括第一镜像电流源与第一光敏二极管,用于消除包括由第一光敏二极管和第二光敏二极管产生的暗电流;电量保持电路,包括电流源、保持电容和反相器,保持电容用于根据电流源进行充电或根据光电流进行放电,并经反相器输出光检测结果;控制单元,用于对比预设检测结果与光检测结果,判断是否存在光攻击。本发明能实现安全芯片的光攻击检测,电路结构简单,可靠性高。
搜索关键词: 检测 结构 方法 安全 芯片 电子卡
【主权项】:
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