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- [发明专利]用于测试包含集成光学元件的电子器件的探针头-CN202180052404.3在审
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里卡尔多·维托里;罗伯特·克里帕
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泰克诺探头公司
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2021-08-23
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2023-05-16
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G01R31/311
- 一种用于电子器件测试装置的探针头(10),包括:多个接触探针(11),适于电接触及机械接触被测器件(13)的接触垫(12a);至少一个导引件(20),设有多个导引孔(20h),用于滑动地容纳所述接触探针(11);容纳元件(40),适于支撑所述导引件(20)并容纳至少一部分所述接触探针(11),其中所述容纳元件(40)包括第一部分(40a)和第二部分(40b),所述第二部分相对于所述第一部分(40a)能够移动;移动装置(60),配置为相对于所述第一部分(40a)移动所述容纳元件(40)的第二部分(40b);以及至少一个测试光信号分配元件(50),配置为将测试光信号传输到所述被测器件(13)。适当地,所述测试光信号分配元件(50)与所述容纳元件(40)的第二部分(40b)相关联,并布置成通过所述移动装置(60)与所述第二部分一体地移动,所述移动装置(60)配置为允许所述测试光信号分配元件(50)对准。
- 用于测试包含集成光学元件电子器件探针
- [发明专利]激光故障注入系统及方法-CN202211603053.3在审
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张慧;刘戬
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北京中电华大电子设计有限责任公司
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2022-12-13
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2023-04-28
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G01R31/311
- 本发明公开了一种激光故障注入系统及方法。根据本发明实施例的激光故障注入系统包括执行装置,用于向被测装置注入激光;以及控制装置,与所述执行装置相连接,用于所述执行装置的控制,其中,所述执行装置包括连接端口,所述连接端口包括不同类型的连接子端口;所述被测装置通过至少一个所述连接子端口与所述执行装置通信连接;所述控制装置根据所述连接子端口不同的端口类型设置有不同的通信参数。根据本发明实施例的激光故障注入系统及方法,支持多种接口的激光故障注入,可以连接不同的物联网、车联网设备以验证设备安全性,且无需通信转接板,连接方式简便。
- 激光故障注入系统方法
- [实用新型]一种用于芯片检测的预处理装置-CN202222881091.7有效
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庄腾飞
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深圳市汇春科技股份有限公司
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2022-10-31
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2023-04-07
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G01R31/311
- 本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体涉及一种用于芯片检测的预处理装置。本实用新型提供一种传动更高效且具有翻面功能的用于芯片检测的预处理装置。本实用新型提供了这样一种用于芯片检测的预处理装置,包括有机架底座、安装架和滑轨等;机架底座上部宽度方向的两侧之间转动式地设置有用于传送芯片的传送件,机架底座上部长度方向的两侧之间连接有安装架,安装架内对称的两侧对称地连接有滑轨。芯片经传送带传送至光电检测仪正下方,光电检测仪对芯片进行正/反面识别检测,检测识别到芯片为反面时,通过翻面结构完成对芯片的翻面,传送带在预处理环节仅需经一次启停操作,便可完成翻面和传动,减少了启停时间,提升了传动效率。
- 一种用于芯片检测预处理装置
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