[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 202010699618.7 申请日: 2020-07-20
公开(公告)号: CN112447848A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 卢宣颖;金完敦;李贤培;柳东坤;林东灿 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L23/528;H01L21/768
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;赵莎
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提供了一种半导体器件,所述半导体器件包括:位于衬底上的层间介电层;填充所述层间介电层的第一沟槽的第一连接线,所述第一沟槽具有第一宽度;以及填充所述层间介电层的第二沟槽的第二连接线,所述第二沟槽具有大于所述第一宽度的第二宽度,并且所述第二连接线包括:覆盖所述第二沟槽的内侧壁的第一金属层,覆盖所述第二沟槽的底表面的阻挡层,以及位于所述第一金属层和所述阻挡层上的第二金属层,所述第一连接线和所述第一金属层包括第一金属,并且所述第二金属层包括不同于所述第一金属的第二金属。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
暂无信息
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