[发明专利]半导体结构、其制作方法、半导体存储器及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010597559.2 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111883532A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 尹炅一;吴容哲;高建峰;白国斌;李俊杰;刘卫兵 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L23/60
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 付婧
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开提供一种半导体结构、其制作方法、半导体存储器及电子设备。本公开的半导体结构包括:半导体衬底,包括第一有源区和第二有源区,在所述第一有源区具有栅极沟槽;第一栅极结构,填充于所述第一有源区的栅极沟槽中;第二栅极结构,形成于所述第二有源区之上。该半导体结构,将字线交错形成在半导体衬底的上方和下方,字线间的物理距离拉远,减小了相邻字线间的电磁干涉。
搜索关键词: 半导体 结构 制作方法 存储器 电子设备
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司,未经中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010597559.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top