[发明专利]存储器存储装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201710498769.4 | 申请日： | 2017-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN109147860B | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 周诠胜;林孟弘;吴伯伦;何家骅 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器存储装置，包括存储器晶胞阵列以及存储器控制电路。存储器晶胞阵列包括多个存储器晶胞。存储器晶胞阵列用以存储数据。存储器控制电路耦接至存储器晶胞阵列。存储器控制电路用以对存储器晶胞当中的目标存储器晶胞施加设定信号以及重置信号两者其中之一以产生读取电流。存储器控制电路接收目标存储器晶胞的读取电流。存储器控制电路比较读取电流与参考电流。存储器控制电路依据比较结果来判断目标存储器晶胞是否失败。另外，一种存储器存储装置的测试方法也被提出。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 存储 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器存储装置，其特征在于，包括：存储器晶胞阵列，包括多个存储器晶胞，用以存储数据；以及存储器控制电路，耦接至所述存储器晶胞阵列，用以对所述多个存储器晶胞当中的目标存储器晶胞施加设定信号以及重置信号两者其中之一以产生读取电流，接收所述目标存储器晶胞的所述读取电流，比较所述读取电流与参考电流，并且依据比较结果来判断所述目标存储器晶胞是否失败。
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