[发明专利]一种半导体结构及其制作方法有效
申请号: | 202010026504.6 | 申请日: | 2020-01-10 |
公开(公告)号: | CN111081708B | 公开(公告)日: | 2022-10-11 |
发明(设计)人: | 张中;周文犀;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/1157;H01L27/11582;H01L27/11524;H01L27/11556;H01L23/544 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 陈敏 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种半导体结构及其制作方法,该制作方法包括以下步骤:提供一衬底,所述衬底中定义有多个芯片区域及位于相邻所述芯片区域之间的切割道区域;形成第一层级结构于所述衬底上;形成绝缘间隔层于所述第一层级结构上;形成第二层级结构于所述绝缘间隔层上。本发明通过台阶的改版,在晶圆切割道里形成至少一具有阶梯结构的叠层结构,例如金字塔结构,该叠层结构包括在垂直方向上交替堆叠的两种材料层,可以缓解晶圆切割道区域与芯片区域(特别是存储阵列区)的应力差异,在晶圆切割道区域的叠层结构中形成沟道套刻标记或对准标记,可以保证晶圆切割到区域与芯片区域真实的对准表现一样,从而减少工艺偏移,有利于提高生产良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的