[发明专利]LDMOS射频功率器件的双向SCR保护结构在审

专利信息
申请号: 201910841593.7 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN110556414A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 赵发展;蔡小五;淮永进;周祥兵 申请(专利权)人: 扬州江新电子有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 32102 南京苏科专利代理有限责任公司 代理人: 董旭东
地址: 225003 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及微电子电路领域内的一种LDMOS射频功率器件的双向SCR保护结构,包括依次设置的Si层、封装层和P型衬底,在P型衬底上形成有DNW,在DNW里形成有两个高压PX和一个NX,NX位于两个高压PX之间,在PX区域和NX区域内依次注入形成有P+、N+、N+、N+、P+区域,位于中间的N+区域跨越NX区域并嵌入PX区域,T1、T2为引出端,从T1到T2,P+、PX、NX、PX、N+构成正向ESD电流泄放路径SCR1,从T2到T1,P+、PX、NX、PX、N+构成反方向ESD电流泄放路径SCR2。本发明具有较低的触发电压和维持电压,能耗较小,具有双向保护的功能。
搜索关键词: 衬底 泄放 射频功率器件 微电子电路 保护结构 触发电压 双向保护 维持电压 依次设置 反方向 封装层 引出端 正向 嵌入 能耗
【主权项】:
1.一种LDMOS射频功率器件的双向SCR保护结构,其特征在于:包括依次设置的Si层、封装层和P型衬底,在P型衬底上形成有DNW,在DNW里形成有两个高压PX和一个NX, NX位于两个高压PX之间,在PX区域和NX区域内依次注入形成有P+、N+、N+、 N+、 P+区域,位于中间的N+区域跨越NX区域并嵌入PX区域, T1、T2为引出端,从T1到T2,P+、PX、NX、PX、N+构成正向ESD电流泄放路径SCR1,从T2到T1,P+、PX、NX、PX、N+构成反方向ESD电流泄放路径SCR2。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州江新电子有限公司,未经扬州江新电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910841593.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top