[发明专利]一种芯片尺寸封装功率器件的结构无效

专利信息
申请号: 201210392878.5 申请日: 2012-10-16
公开(公告)号: CN103730497A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 苏冠创 申请(专利权)人: 深圳市力振半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/417;H01L29/423;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深圳市南山区粤兴三*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种芯片尺寸封装的功率场效应晶体管器件的新结构,包括以下特征:器件的源极,漏极和栅极金属垫层都在芯片的表面上,在源极金属垫层下是横向与纵向场效应晶体管集成在一起,在漏极和栅极金属垫层下是纵向晶体管结构并有导电深沟槽把漏区连接至衬底,导通时,电流从漏极或栅极金属垫层流向源极金属垫层有两个路径:第一路径是纵向地经导电深沟槽流向漏极或栅极处衬底,然后横向地流向源极衬底,接着向上流至源极金属垫层;第二路径是从漏极金属垫层流向漏极或栅极金属垫层下的漏区,然后横向地流经导电沟道,金属插塞至源极金属垫层。
搜索关键词: 一种 芯片 尺寸 封装 功率 器件 结构
【主权项】:
一种芯片尺寸封装功率器件的结构包括以下部分:(1)器件的源极金属垫层,漏极金属垫层和栅极金属垫层都在芯片的表面上;(2)在源极金属垫层下是横向场效应晶体管与纵向场效应晶体管集成在一起;(3)至少有一漏极金属垫层,在它之下是横向场效应晶体管结构并有导电深沟槽把外延层表面的漏区连接至衬底;(4)在栅极金属垫层下是横向场效应晶体管结构并有导电深沟槽把外延层表面的漏区连接至衬底,栅极金属垫层下的漏区电流是透过漏区金属插塞从栅极金属垫层外的漏极金属引进;(5)在源极金属垫层,漏极金属垫层和栅极金属垫层上可有钝化层,钝化层中有开孔用来连接焊球或金属打线;(6)完成前度工序后的硅片不用研磨背面,也不用在背面沉积多层金属。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市力振半导体有限公司,未经深圳市力振半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210392878.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top