[发明专利]半导体器件及其制造方法、内置该半导体器件的多层基板有效
申请号: | 201010002979.8 | 申请日: | 2010-01-15 |
公开(公告)号: | CN101794708A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 千田厚慈;白木聪;前田幸宏;广濑伸一;藤井哲夫;中野敬志 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/77;H01L21/50;H01L21/60;H01L27/02;H01L23/12;H01L23/48;H01L23/13;H01L23/367 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 许玉顺;胡建新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体器件的制造方法包括:准备由SOI基板(30)构成的晶片的工序;在主面表层部形成电路部(LV、HV)的工序;除去SOI基板的支撑基板(29)的工序;以与电路部相对的方式将绝缘构件(3)固定在半导体层(7a)的背面的工序;切割晶片从而使其分割成多个芯片的工序;以与低电位基准电路部(LV)的一部分相对的方式,将第1导电构件(4a、62、64、65)配置在绝缘构件上,以与高电位基准电路部(HV)的一部分相对的方式,将第2导电构件(4b、62、64、65)配置在绝缘构件上的工序;以及,将第1导电构件与低电位基准电路部的第1部分电连接,将第2导电构件与高电位基准电路部的第2部分电连接的工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 内置 多层 | ||
【主权项】:
一种半导体器件(1)的制造方法,其特征在于,包括:准备晶片的工序,所述晶片由依次层叠支撑基板(29)、绝缘层(8a)、半导体层(7a)的SOI基板(30)构成;在半导体层(7a)的主面表层部形成电路部的工序,该电路部包括低电位基准电路部(LV)和高电位基准电路部(HV),低电位基准电路部(LV)将第1电位作为基准电位进行动作,高电位基准电路部(HV)将第2电位作为基准电位进行动作,第2电位比第1电位高,低电位基准电路部(LV)与高电位基准电路部(HV)之间进行信号的收发;在电路部形成后,除去SOI基板(30)的支撑基板(29)的工序;在除去支撑基板(29)后,以绝缘构件(3)与电路部相对的方式,将绝缘构件(3)固定在半导体层(7a)的背面的工序;在固定绝缘构件(3)后,切割晶片,从而使该晶片分割成多个包含低电位基准电路部(LV)以及高电位基准电路部(HV)的芯片的工序;以第1导电构件(4a、62、64、65)与低电位基准电路部(LV)的至少一部分相对的方式,将第1导电构件(4a、62、64、65)配置在绝缘构件(3)上,以第2导电构件(4b、62、64、65)与高电位基准电路部(HV)的至少一部分相对的方式,将第2导电构件(4b、62、64、65)配置在绝缘构件(3)上的工序,第1导电构件(4a、62、64、65)被施加的电位与第2导电构件(4b、62、64、65)被施加的电位不同;以及,将第1导电构件(4a、62、64、65)与被施加第1电位的低电位基准电路部(LV)的第1部分电连接,将第2导电构件(4b、62、64、65)与被施加第2电位的高电位基准电路部(HV)的第2部分电连接的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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