[发明专利]半导体器件及其制造方法、内置该半导体器件的多层基板有效

专利信息
申请号: 201010002979.8 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN101794708A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 千田厚慈;白木聪;前田幸宏;广濑伸一;藤井哲夫;中野敬志 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/77;H01L21/50;H01L21/60;H01L27/02;H01L23/12;H01L23/48;H01L23/13;H01L23/367
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 许玉顺;胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体器件的制造方法包括:准备由SOI基板(30)构成的晶片的工序;在主面表层部形成电路部(LV、HV)的工序;除去SOI基板的支撑基板(29)的工序;以与电路部相对的方式将绝缘构件(3)固定在半导体层(7a)的背面的工序;切割晶片从而使其分割成多个芯片的工序;以与低电位基准电路部(LV)的一部分相对的方式,将第1导电构件(4a、62、64、65)配置在绝缘构件上,以与高电位基准电路部(HV)的一部分相对的方式,将第2导电构件(4b、62、64、65)配置在绝缘构件上的工序;以及,将第1导电构件与低电位基准电路部的第1部分电连接,将第2导电构件与高电位基准电路部的第2部分电连接的工序。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法 内置 多层
【主权项】:
一种半导体器件(1)的制造方法,其特征在于,包括:准备晶片的工序,所述晶片由依次层叠支撑基板(29)、绝缘层(8a)、半导体层(7a)的SOI基板(30)构成;在半导体层(7a)的主面表层部形成电路部的工序,该电路部包括低电位基准电路部(LV)和高电位基准电路部(HV),低电位基准电路部(LV)将第1电位作为基准电位进行动作,高电位基准电路部(HV)将第2电位作为基准电位进行动作,第2电位比第1电位高,低电位基准电路部(LV)与高电位基准电路部(HV)之间进行信号的收发;在电路部形成后,除去SOI基板(30)的支撑基板(29)的工序;在除去支撑基板(29)后,以绝缘构件(3)与电路部相对的方式,将绝缘构件(3)固定在半导体层(7a)的背面的工序;在固定绝缘构件(3)后,切割晶片,从而使该晶片分割成多个包含低电位基准电路部(LV)以及高电位基准电路部(HV)的芯片的工序;以第1导电构件(4a、62、64、65)与低电位基准电路部(LV)的至少一部分相对的方式,将第1导电构件(4a、62、64、65)配置在绝缘构件(3)上,以第2导电构件(4b、62、64、65)与高电位基准电路部(HV)的至少一部分相对的方式,将第2导电构件(4b、62、64、65)配置在绝缘构件(3)上的工序,第1导电构件(4a、62、64、65)被施加的电位与第2导电构件(4b、62、64、65)被施加的电位不同;以及,将第1导电构件(4a、62、64、65)与被施加第1电位的低电位基准电路部(LV)的第1部分电连接,将第2导电构件(4b、62、64、65)与被施加第2电位的高电位基准电路部(HV)的第2部分电连接的工序。
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