[发明专利]一种微波单片集成电路中的金属布线层结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200910307518.9 申请日: 2009-09-23
公开(公告)号: CN101661921A 公开(公告)日: 2010-03-03
发明(设计)人: 蒲颜;罗卫军;陈晓娟;魏珂;刘新宇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L23/52 分类号: H01L23/52;H01L23/522;H01L21/768
代理公司: 北京市德权律师事务所 代理人: 王建国
地址: 100029北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种微波单片集成电路中的金属布线层结构及其制备方法,属于集成电路技术领域。所述金属布线层结构设置在第一Si3N4层和第二Si3N4层之间,包括第一Ti层、设置在第一Ti层上的Ni层、设置在Ni层上的第二Ti层、设置在第二Ti层上的Au层、以及设置在Au层上的第三Ti层。本发明金属布线层结构中的金属Ni在通过ICP刻蚀衬底后,可以保护布线层及以上部分,使得MMIC背孔工艺可以顺利进行,并且这种结构中的上下两层金属Ti改善了与Si3N4介质层的粘附性,提高了电容的性能,同时整个结构对电容值的影响不大,金属Ni上面一层金属Ti的引入可以改善金属Ni与金属Au的粘附性不好的问题。
搜索关键词: 一种 微波 单片 集成电路 中的 金属 布线 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种微波单片集成电路中的金属布线层结构,所述金属布线层结构设置在第一Si3N4层(106)和第二Si3N4层(107)之间,其特征在于,所述金属布线层结构包括第一Ti层(101)、设置在所述第一Ti层(101)上的Ni层(102)、设置在所述Ni层(102)上的第二Ti层(103)、设置在所述第二Ti层(103)上的Au层(104)、以及设置在所述Au层(104)上的第三Ti层(105)。
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