专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]在机动车中的行驶动力学调节系统和行驶动力学控制单元-CN201680059198.8有效
  • A·拜尔;T·艾伯尔;M·艾斯彭哈因;T·米勒 - 宝马股份公司
  • 2016-11-08 - 2021-04-02 - B60K28/16
  • 按本发明的行驶动力学调节系统具有电子的行驶动力学控制单元,其与至少一个驱动控制单元连接并且构成为,使得该行驶动力学控制单元首先确定额定打滑值或者额定打滑范围和作为参考速度的实际车速。按第一替选方案,根据额定打滑值或额定打滑范围将额定转速或额定转速范围输出给所述至少一个驱动控制单元。按第一替选方案的转速范围由在这种行驶情况中的最大允许的驱动打滑值和减速打滑值来计算。按第二替选方案,额定打滑值与参考车速一起直接输送给所述至少一个驱动控制单元,该驱动控制单元由此本身确定在马达层面上的额定转速。在第二替选方案中,取代额定打滑值,也可输出额定打滑范围,该额定打滑范围由驱动控制单元又换算成额定转速范围。
  • 机动车中的行驶动力学调节系统控制单元
  • [实用新型]驻车锁止器装置-CN202020162066.1有效
  • M·里斯特;B·奥斯特曼;F·布鲁格;T·米勒 - 腓特烈斯港齿轮工厂股份公司
  • 2020-02-11 - 2021-02-02 - F16H63/34
  • 本实用新型涉及驻车锁止器装置,其具有操作装置,该操作装置用于使驻车锁止器棘爪接合和脱接以锁止和释放驻车锁止器齿轮,操作装置包括操作杆,在操作杆的端部上设有操作元件。在使驻车锁止器接合和脱接时操作元件的操作轮廓与驻车锁止器棘爪的操作区域并且与固定在壳体上的导向元件的支撑轮廓接触。操作轮廓沿操作元件的纵向轴线延伸并且在其轴向延伸中具有第一纵坐标,并且操作轮廓具有第二纵坐标。操作轮廓与操作元件纵向轴线的径向距离在操作轮廓的轴向延伸中从其第一纵坐标到其第二纵坐标连续地增大,操作轮廓相对于操作元件的纵向轴线在其第一纵坐标区域中以第一角度倾斜并且在其第二纵坐标区域中以第二角度倾斜并且第一角度小于第二角度。
  • 驻车锁止器装置
  • [发明专利]用于测量可运动的物体的方法和测量系统-CN201680060791.4有效
  • T·米勒;T·哈施克 - SMS集团有限公司
  • 2016-10-11 - 2021-01-29 - B21B37/00
  • 本发明涉及一种用于测量可运动的物体的方法以及一种用于测量可运动的物体的测量系统,所述物体例如是在冶金技术的设备中的铸坯的输送路径处的侧面导向部。所述系统具有至少一个用于发射出平行的光线(130)的光源(110)以及一用于接收光线的、带有传感器阵列的接收装置(120)。分析装置用于分析由传感器阵列接收的光线。为了能够更简单且更快速地进行分析,接收装置构造用于生成所述传感器阵列的图像,所述图像具有所述传感器阵列的、配属于不受物体影响的光线的传感器的位置并且具有所述传感器阵列的、配属于发射出的但受到驶入的物体影响的光线的传感器的位置。基于传感器阵列的已知的分辨率,在各个传感器之间的间距同样是已知的。分析装置构造用于关于物体侵入到由光线张开的空间区域中的侵入深度、物体(200)的速度和/或物体的轮廓对图像进行分析。
  • 用于测量运动物体方法系统
  • [实用新型]驻车锁止组件-CN202020781183.6有效
  • M·里斯特;B·奥斯特曼;J·伊格尔迈尔;T·米勒;阿明·吉尔林 - 腓特烈斯港齿轮工厂股份公司
  • 2020-05-12 - 2020-12-18 - F16H63/38
  • 本实用新型涉及一种驻车锁止组件,该驻车锁止组件具有用于接合和脱开驻车锁止爪(10)的操纵装置以便锁止和释放驻车锁止轮(20),该操纵装置包括能轴向运动的操纵杆(30),其在朝向驻车锁止爪(10)的端部上具有能轴向移动的操纵元件(40)。在驻车锁止器接合和脱开时,操纵元件(40)的操纵轮廓(41)与驻车锁止爪(10)的操纵区(13)接触并且与固定于壳体的导向元件(50)的支撑轮廓(51)接触。操纵轮廓(41)关于操纵元件(40)的纵轴线(42)旋转对称地构造并且沿该纵轴线(42)延伸。提出,所述操纵轮廓(41)沿操纵元件(40)的纵轴线(42)的方向看构造成圆弧。
  • 驻车锁止组件
  • [发明专利]外延涂布的半导体晶圆和生产外延涂布的半导体晶圆的方法-CN201580073919.6有效
  • T·米勒;M·格姆利希;F·法勒 - 硅电子股份公司
  • 2015-10-29 - 2020-09-08 - H01L21/322
  • 本发明涉及外延涂布的半导体晶圆,包含:由单晶硅构成的衬底晶圆;在衬底晶圆的正面上由硅构成的具有抛光表面的外延层,其中抛光表面相对于面积为10μm×10μm的测量窗具有不大于0.055nm的RMS粗糙度;具有不小于6μm且不大于14μm的深度的洁净区;和邻近洁净区且具有可以发展成BMD的BMD核的区域,BMD在离外延层的抛光表面不超过70μm的距离处具有不小于3.5×109cm‑3的峰密度。本发明还涉及用于生产外延涂布的半导体晶圆的方法,包括:在衬底晶圆的正面上沉积由硅构成的外延层;用氧化剂处理外延层;对外延涂布的半导体晶圆进行RTA处理,其中将外延层暴露于由氩和氨组成的气氛中,并且在外延层上形成氧氮化物层;去除氮氧化物层;和抛光外延层。
  • 外延半导体生产方法
  • [发明专利]用于半导体样品工作流的方法和装置-CN201710463493.6有效
  • K·巴拉绍夫;T·米勒 - FEI公司
  • 2017-06-19 - 2020-09-08 - H01L21/677
  • 本发明涉及用于半导体样品工作流的方法和装置。描述了用于使用现有的自动化基础设施(诸如前开口一体盒(FOUP))在半导体制造设施中自动传送和存储透射电子显微镜(TEM)和扫描/透射电子显微镜(STEM)薄片样品的装置和方法。还提供了对应于半导体晶片、数据存储晶片或太阳能电池晶片的外部尺寸的晶片复制品,其中该复制品适于存储、携带和/或提供用于测试从半导体晶片、数据存储晶片或太阳能电池晶片取得的样品的测试平台。
  • 用于半导体样品工作流方法装置

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