专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测量滑动支承或引导元件的磨损状态的设备和方法-CN201980066130.6在审
  • T·哈施克;T·米勒;J·阿尔肯;T·胡格;M·基平 - SMS集团有限公司
  • 2019-10-08 - 2021-05-25 - G01N27/20
  • 本发明涉及一种用于测量传感器板(1)的滑动支承面(2)处的磨损状态的设备(100)和方法。设备(100)包括:测量装置(120),该测量装置具有传感器板(1)的集成到滑动支承面(2)中的磨损传感器(121),以便在磨损的情况下检测在滑动支承面(2)处的材料剥离;和与磨损传感器(121)或测量传感器(10)至少处于信号连接的评估装置(A),由该评估装置可以接收传感器和尤其各个磨损传感器(121)的信号值。评估装置(A)在程序方面设计成,使得借此可以根据特定的磨损传感器的自身的材料剥离来检测该特定的磨损传感器(121)的电导体的欧姆电阻值的变化、尤其提高,以便由此确保在该特定的磨损传感器(121)的该位置处从识别到电阻值变化中得出在滑动支承面(2)处的材料剥离的大小和/或滑动支承面(2)的剩余厚度的结论。
  • 用于测量滑动支承引导元件磨损状态设备方法
  • [发明专利]用于测量可运动的物体的方法和测量系统-CN201680060791.4有效
  • T·米勒;T·哈施克 - SMS集团有限公司
  • 2016-10-11 - 2021-01-29 - B21B37/00
  • 本发明涉及一种用于测量可运动的物体的方法以及一种用于测量可运动的物体的测量系统,所述物体例如是在冶金技术的设备中的铸坯的输送路径处的侧面导向部。所述系统具有至少一个用于发射出平行的光线(130)的光源(110)以及一用于接收光线的、带有传感器阵列的接收装置(120)。分析装置用于分析由传感器阵列接收的光线。为了能够更简单且更快速地进行分析,接收装置构造用于生成所述传感器阵列的图像,所述图像具有所述传感器阵列的、配属于不受物体影响的光线的传感器的位置并且具有所述传感器阵列的、配属于发射出的但受到驶入的物体影响的光线的传感器的位置。基于传感器阵列的已知的分辨率,在各个传感器之间的间距同样是已知的。分析装置构造用于关于物体侵入到由光线张开的空间区域中的侵入深度、物体(200)的速度和/或物体的轮廓对图像进行分析。
  • 用于测量运动物体方法系统

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