“郁志芳”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果32个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种高品质速冻双孢蘑菇的冻融方法-CN201810324771.4在审
发明人：杨文建;胡烨;胡秋辉;裴斐;马宁;郁志芳;赵立艳 -专利权人：南京财经大学;南京农业大学
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： A23B7/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种高品质速冻双孢蘑菇的冻融方法，属于农产品加工领域。本发明利用L‑半胱氨酸、柠檬酸、异抗坏血酸钠及抗坏血酸配制而成的复合护色剂对进行速冻加工的双孢蘑菇进行切片并护色预处理，在‑80℃速冻、‑20℃冻藏、4℃解冻的冻融模式下，得到一种褐变程度及汁液流失率低的速冻双孢蘑菇。本发明为提高速冻双孢蘑菇的食用品质和贮藏稳定性提供了的技术支持和解决方法。
双孢蘑菇速冻冻融高品质预处理异抗坏血酸钠柠檬酸复合护色剂农产品加工贮藏稳定性半胱氨酸技术支持抗坏血酸食用品质速冻加工汁液褐变护色切片解冻配制

[发明专利]一种鲜切果蔬的保鲜方法及其保鲜剂-CN201710271153.3在审
发明人： 郁志芳;姜丽;宦晨;武张飞;宋佳玮 -专利权人：南京农业大学
申请日： 2017-04-24 - 公布日： 2017-08-29 - 主分类号： A23B7/055 文献下载
摘要：本发明公开了一种鲜切果蔬的保鲜方法及其保鲜剂。该保鲜方法包括以下步骤(1)选用新鲜、无腐叶的果蔬，将果蔬清洗干净；(2)果蔬清洗干净后，切去根部、挑拣分选后将切开或者不切开的鲜切果蔬预冷；(3)将预冷好的鲜切果蔬浸没在冷却后的保鲜剂中，低温下取出沥干；(4)将沥干的鲜切果蔬滤干，装入塑料袋中，冷藏。本发明鲜切果蔬的保鲜方法，保鲜效果好，保质期能够达到5‑10天以上，该鲜切果蔬的保鲜方法，用于鲜切果蔬产品，可同时发挥阻隔微生物入侵、抑制微生物生长繁殖、降低腐烂和黄化等多重作用。本发明的鲜切果蔬的保鲜剂，安全可靠，无毒无害，不会产生任何副作用，并且该保鲜剂制备简单，成本低，可以大范围使用。
一种鲜切果蔬保鲜方法及其保鲜剂

[发明专利]一种鲜切芫荽的保鲜方法-CN201710271163.7在审
发明人：姜丽;郁志芳;吴晓芹;安秀娟;郑明媛;陈周耀 -专利权人：南京农业大学
申请日： 2017-04-24 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： A23B7/157 文献下载
摘要：本发明公开了一种鲜切芫荽的保鲜方法，包括以下步骤(1)选用新鲜、无腐叶的芫荽，清洗干净；(2)切去根部、挑拣分选后切成芫荽段，预冷；(3)将预冷好的鲜切芫荽段先浸没二氧化氯保鲜剂中，再浸没在臭氧保鲜剂中，取出沥干；(4)将沥干的鲜切芫荽段滤干，装入塑料袋中，冷藏。本发明的保鲜方法保鲜效果好，保质期能够达到10天以上，解决鲜切芫荽贮藏时的腐烂、黄化和品质下降等问题。本发明的保鲜剂克服次氯酸盐清洗可能存在氯残留而对人体健康产生危害的缺点，将二氧化氯保鲜剂和臭氧保鲜剂结合使用，具有优良的保鲜效果。
一种芫荽保鲜方法

[发明专利]掩膜版的版图修正方法、掩膜版及其制造方法-CN201510567725.3在审
发明人：张士健;郁志芳;刘丽;戴文旗;徐佳明 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
申请日： 2015-09-08 - 公布日： 2017-03-15 - 主分类号： G03F1/36 文献下载
摘要：本发明揭示了一种掩膜版的版图修正方法、掩膜版及其制造方法。本发明提供的掩膜版的版图修正方法，包括提供前端版图，所述前端版图中存在非零图形密度的第一单元；对所述前端版图进行检查，若所述前端版图中存在图形密度为零的第二单元，则对所述第二单元添加SRAF图形，所述SRAF图形小于的光刻设备的分辨率。与现有技术相比，添加SRAF图形后，能够使得各个单元的图形密度变得接近。那么由此进一步获得的掩膜版，能够使得光罩整体的图形密度变得均匀，提高了光罩的合格率，基本上避免了报废。
掩膜版版图修正方法及其制造

[发明专利]梨果复合保鲜方法-CN201210519792.4有效
发明人：赵永富;郁志芳;常有宏;郭锡凯;李淑荣;汪昌保 -专利权人：江苏省农业科学院
申请日： 2012-12-07 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： A23B7/16 文献下载
摘要：一种梨果复合保鲜方法，其特征是它包括以下步骤：首先，以导电率为依据确定最适辐照剂量，并根据最适辐照剂量确定最佳壳聚糖用量。配制保鲜液后进行浸泡涂膜处理后，再以最适剂量进行辐照以进一步杀菌并抑制果实呼吸和失水等生理活动，从而达到了保鲜效果比单一壳聚糖涂膜明显提高的目的。本发明不仅对梨果保鲜效果显著增强，而且具有降低壳聚糖用量，节约辐照成本，对环境无污染的优点。
梨果复合保鲜方法

[发明专利]控制不平坦硅片表面上的图形的关键尺寸的方法-CN201010229224.1有效
发明人：夏婷婷;杨晓松;郁志芳;易旭东 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-07-16 - 公布日： 2012-02-01 - 主分类号： H01L21/02 文献下载
摘要：本发明的控制不平坦硅片表面上的图形的关键尺寸的方法包括以下步骤：制作台阶高度与关键尺寸的关系曲线，所述台阶高度为硅片表面最高点与最低点之间的距离；测量实际的台阶高度；判断实际的台阶高度是否等于设定值，如果是，按照设定的曝光能量对光刻胶进行曝光，如果否，执行以下步骤；利用公式Esplit＝Ebaseline+(CDsplit-CDbaseline)*Slop计算曝光能量，按照计算出的曝光能量Esplit对光刻胶进行曝光，其中，Esplit表示实际的曝光能量，Ebaseline表示设定的曝光能量，CDsplit是台阶高度与关键尺寸的关系曲线中，实际的台阶高度所对应的关键尺寸，CDbaseline是台阶高度与关键尺寸的关系曲线中，台阶高度设定值所对应的关键尺寸，Slop为常数。
控制平坦硅片表面上图形关键尺寸方法

[发明专利]半导体器件层上的氧化层刻蚀后残留物的去除方法-CN201010136701.X有效
发明人：叶逸舟;朱晓静;杨晓松;郁志芳 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-03-26 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： H01L21/3105 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体器件层上的氧化层刻蚀后残留物的去除方法，对在半导体器件层上热生长的氧化层进行图案化后，在半导体器件层上出现残留物，该方法还包括：在半导体器件层以及氧化层上热生长第二氧化层后抛光至该图案化的氧化层的上表面；在第二氧化层和该图案化的氧化层上旋涂光阻胶层，采用光刻工艺得到图案化的光阻胶层，该图案化的光阻胶层的图案与该氧化层的图案相同；以图案化的光阻胶层为掩膜，对第二氧化层和该图案化的氧化层刻蚀，得到二次图案化的氧化层，去除半导体器件层上的氧化层。该方法能够去除半导体器件的氧化层刻蚀后残留物。
半导体器件氧化刻蚀残留物去除方法

[发明专利]一种适合食用菌保鲜的纳米包装材料及其应用-CN201010293262.3有效
发明人：胡秋辉;杨芹;单楠;赵立艳;安辛欣;辛志宏;杨方美;方勇;郁志芳;肖红梅;马宁 -专利权人：南京农业大学;南京财经大学
申请日： 2010-09-27 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： C08L23/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种适合食用菌保鲜纳米包装材料及其应用，属于农产品贮藏加工技术领域。按照质量比取纳米复合粉体30％，线性低密度聚乙烯(LLDPE)68％，偶联剂2％，经高速混匀0.5小时后在起塑机中捏合、挤出、冷却1-2分钟后切粒得到纳米母粒。按质量比称取纳米母粒3.75％，防雾剂母粒3.75％，复合塑料粒子92.5％充分混匀后吹成薄膜，制成底长40cm、宽15cm、袋高70cm的纳米包装材料。纳米材料用于食用菌包装，形成高湿低氧环境，较低的腐败微生物活动能力和乙烯含量，可有效抑制食用菌的开伞、失水、褐变以及腐败，使食用菌的采后贮藏品质得到较好地保持、延长了食用菌的货架期，市场前景广阔。
一种适合食用菌保鲜纳米包装材料及其应用

[发明专利]一种鲜切莲藕褐变抑制剂及其制备方法与应用-CN200910134789.9无效
发明人：王建军;蒋娟;杨阳;郁志芳;胡建春;姜丽 -专利权人：扬州花扇蔬菜食品有限公司
申请日： 2009-04-24 - 公布日： 2010-10-27 - 主分类号： A23L1/272 文献下载
摘要：本发明公开了一种鲜切莲藕褐变抑制剂及其制备方法与应用，属于鲜切根茎类蔬菜生产技术领域。其特征是用L-半胱氨酸、抗坏血酸、柠檬酸等食品添加剂和水配成褐变抑制剂；将鲜切莲藕在该抑制剂溶液中浸泡8～15min、包装后置于4～5℃下可储存10d。本发明的褐变抑制剂可保持鲜切莲藕的原有色泽，效果等同于亚硫酸盐的处理；同时该抑制剂中不含亚硫酸盐等对人体有毒害成分，使用安全。
一种莲藕抑制剂及其制备方法应用

[发明专利]晶圆盒、半导体生产过程的监测系统和方法-CN200710094527.5有效
发明人：袁伟;郁志芳;余云初 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-12-13 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： H01L21/673 文献下载
摘要：一种晶圆盒、半导体生产过程的监测系统和方法，所述半导体生产过程的监测系统包括：安装在晶圆盒的盒体上、在晶圆盒的震动强度超过预定的震动强度时输出报警信号的震动感应器；接收装置，接收所述震动感应器输出的报警信号，并输出晶圆盒的震动信息；记录装置，记录所述接收装置输出的晶圆盒的震动信息。所述晶圆盒、半导体生产过程的监测系统和方法可以降低晶圆的污染，提高半导体产品的良率。
晶圆盒半导体生产过程监测系统方法

[发明专利]一种PSM与利用PSM的曝光机台焦距校准方法及其系统-CN200710171855.0无效
发明人：余云初;张轲;郁志芳;苏少明 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-12-06 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G03F1/00 文献下载
摘要：一种PSM与利用PSM的曝光机台焦距校准方法及装置，涉及半导体曝光工艺领域，所述PSM包括多个由透光材料制成的透光区域，其中至少两个透光区域具有预定的光程差；多个由非透光材料制成的框。其中，所述曝光图案包括与所述多个框对应的多个图案。本发明根据所述多个框的相互位置关系与所检测的多个图案的相位位置关系，来控制对所述曝光机台的焦距进行调节。本发明校准精度高，而且操作简单，提高了生产效率，节省了时间。
一种 psm 利用曝光机台焦距校准方法及其系统

[发明专利]一种静电吸盘边缘平整度的检测方法-CN200710044553.7有效
发明人： 郁志芳;庄燕萍;余云初;王跃刚 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-08-03 - 公布日： 2009-02-04 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种静电吸盘边缘平整度的检测方法。现有技术中无合适的检测方法来检测静电吸盘边缘的平整度，致使设置在其上进行曝光的晶圆出现边缘器件不良的现象。本发明的静电吸盘边缘平整度的检测方法先提供一具有多个特定图形的光罩，且将其设置在该扫描曝光机台中；再提供一平整且大小与该静电吸盘相当的检测晶圆，并将其放置在静电吸盘上；然后使用该光罩对该检测晶圆进行扫描曝光；接着测量检测晶圆边缘及中心区域的该特定图形的特征尺寸；最后依据检测晶圆边缘及中心区域的特定图形的特征尺寸判断该静电吸盘的边缘的平整状况。本发明的检测方法可准确快速的检测出静电吸盘边缘是否平整，从而避免了静电吸盘边缘不平整所造成器件不良。
一种静电吸盘边缘平整检测方法

[发明专利]一种适合水果保鲜的纳米包装材料及其应用-CN200810124187.0无效
发明人：胡秋辉;杨燕婷;杨方美;杨芹;安辛欣;郁志芳;辛志宏;赵立艳 -专利权人：南京农业大学
申请日： 2008-06-17 - 公布日： 2008-12-17 - 主分类号： C08L23/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种适合水果保鲜纳米包装材料及其应用，属于农产品贮藏加工技术领域。按照质量比取纳米粉体(纳米银35％，纳米二氧化钛40％，高岭土25％)25％－35％，塑料50％－60％，偶联剂10－15％、蜡4－10％，经高速混匀0.5－1.5小时后在起塑机中捏合随后挤出冷却1－2分钟后切粒得母粒。再取塑料粒子30－40kg，母粒1－2kg充分混合0.5－1小时吹成薄膜，即为制成的纳米包装材料。纳米包装用于水果包装可以抑制果蔬氧化酶活性，推迟催熟和衰老的产生，维持水果的保鲜品质，改善薄膜的气体交换，提高包装的阻水性有效抑制果实失水，呈现优良的抑菌作用，可行性强，市场前景广阔。
一种适合水果保鲜纳米包装材料及其应用

[发明专利]绿茶保鲜纳米包装材料及其应用-CN200810124186.6无效
发明人：胡秋辉;章敏;杨方美;安辛欣;郁志芳;辛志宏;赵立艳 -专利权人：南京农业大学
申请日： 2008-06-17 - 公布日： 2008-11-26 - 主分类号： B65D65/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种优质绿茶纳米保鲜包装材料及其应用，属于农产品贮藏加工技术领域。按照质量比取纳米粉体30％，聚乙烯塑料56％，硅烷偶联剂10％、石蜡2％、抗氧化剂2％，经高速混匀0.5小时后在起塑机中捏合随后挤出切粒分别获得母粒D、HTB、TiO₂R、TiO₂A。再取聚乙烯塑料粒子30kg，母粒5kg充分混合0.5－1小时吹成薄膜，然后镀铝膜，制成30cm*20cm的包装袋，即为制成的纳米包装材料。纳米包装用于绿茶包装可以使氧气、紫外线与茶叶有效的隔离，避免氧化而使茶叶霉变、品质下降，同时水的透过率也显著下降了，可有效抑制叶绿素的分解，提高绿茶的品质，市场前景广阔。
绿茶保鲜纳米包装材料及其应用

[发明专利]聚焦评估的方法-CN200710039477.0有效
发明人： 郁志芳;余云初;张轲;王跃刚 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-04-13 - 公布日： 2008-10-15 - 主分类号： G03F1/00 文献下载
摘要：一种聚焦评估的方法，包括下列步骤：制作包含第一器件图形和第二器件图形的控片；依次测量控片上同一曝光区域的第一器件图形和第二器件图形临界尺寸差值；在与控片同一批次的晶圆上形成第一器件图形和第二器件图形；测量晶圆上任意一曝光区域的第一器件图形和第二器件图形的临界尺寸；将晶圆上任意一曝光区域的第一器件图形和第二器件图形的临界尺寸进行相减；将晶圆上任意一曝光区域的第一器件图形和第二器件图形的临界尺寸差值与控片上对应曝光区域的第一器件图形和第二器件图形的临界尺寸差值比较。经过上述步骤，测量方便，花费时间少。
聚焦评估方法