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[发明专利]用于半导体器件的测试电路及测试设备-CN202310954594.9在审
发明人：吴海涛;吴志盛 -专利权人：深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种用于半导体器件的测试电路及测试设备，属于测试技术领域，恒流源电路输出恒定电流；恒压源电路输出恒定电压；选择电路选择输出恒定电流或恒定电压至待测芯片；当恒定电压加载至待测芯片时，检测电路对待测芯片的漏电流进行检测，以输出漏电流检测信号；主控电路与恒流源电路和选择电路共接于第一节点，根据第一节点的电压得到开短路测试结果，且根据漏电流检测信号得到漏电流测试结果，从而提供了一种用于半导体器件的测试电路，无需使用专用芯片，降低了成本；且各部分电路均为自主搭建，可以灵活扩展，使用范围更广，可以在大功率、大电流场景使用。
用于半导体器件测试电路设备

[发明专利]一种功率模块动态测试电路及测试方法-CN202310909412.6在审
发明人：任春茂;丁志龙;王伟群 -专利权人：深圳市愿力创科技有限公司
申请日： 2023-07-21 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种功率模块动态测试电路，包括储能电容C1、负载电感L1，以及四个用于连接三电平功率模块的接线端子和七个测试用的切换开关，接线端子分别为正极端子P、中间极端子M、负极端子N和交流端子AC，切换开关分别为SW1、SW2、SW4至SW8；储能电容C1的正极至负极之间通过依次串联的SW1、SW2连接，通过依次串联的SW7、SW8连接，中间极端子M连接于SW7和SW8之间的连接线路中；SW1和SW2之间的节点A与交流端子AC之间通过SW4连接，负载电感L1与SW4并联，储能电容C1的正极通过SW5连接正极端子P，储能电容C1的负极通过SW6连接负极端子N。本发明测试电路可应用于实验室中四种结构的三电平功率模块的动态测试，也可用于三电平功率模块大规模生产中的动态测试筛选。
一种功率模块动态测试电路方法

[发明专利]具有检测功能的背板及芯片检测方法-CN202210300700.7在审
发明人：詹蕊绮;萧俊龙;王斌;范春林;汪庆 -专利权人：重庆康佳光电科技有限公司
申请日： 2022-03-25 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有检测功能的背板及芯片检测方法。背板包括：基板、第一极、第二极和检测电路。第一极和第二极分别设置于基板的一侧，用于绑定待测芯片。检测电路包括：与第一极串联的电阻，以及并联于电阻两端的形变部。其中，形变部位于第一极和第二极之间。形变部被配置为于通电状态下发生形变，以在待测芯片为异常芯片时，使异常芯片被形变部顶起。上述背板可以较为简单地确定出待测芯片中的异常芯片，并利于将异常芯片取出，从而有利于提高芯片检测效率及芯片转移良率。
具有检测功能背板芯片方法

[发明专利]用于半导体设备性能表征的方法和电路-CN202010450895.4有效
发明人： R·艾克尔 -专利权人：马维尔以色列(M.I.S.L.)有限公司
申请日： 2020-05-25 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：用于确定被布置在半导体裸片上的一类别半导体部件的不同类型的相对操作性能的性能测量电路，包括：第一振荡器电路，包括具有第一电路拓扑的多个第一电路元件模块。该第一振荡器电路提供用来指示在该类别中的所有类型部件的集体性能属性的第一性能指示。与第一振荡器电路分开的第二振荡器电路包括具有第二电路拓扑的多个第二电路元件模块，并且提供第二性能指示，该第二性能指示响应来自该类别中的不同类型部件的不同贡献。比较电路接收第一振荡器电路的输出和第二振荡器电路的输出，并且确定不同类型部件的相对性能特性。裸片可以根据性能而被分箱，以用于在具有不同性能特性的操作电路的组装中使用。
用于半导体设备性能表征方法电路

[发明专利]一种检波晶体管温度修正装置和方法-CN202111114556.X有效
发明人：刘挺;杨绪军 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2021-09-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明的一个实施例公开了一种检波晶体管温度修正装置和方法，所述装置包括：射频同轴线、电感线圈、主检波晶体管和次级检波电路，其中，所述射频同轴线用于馈入射频微波信号；所述电感线圈用于耦合所述射频微波信号进入主检波晶体管；所述主检波晶体管用于将所述耦合后的射频微波信号转换为第一直流电压信号输出；所述次级检波电路用于输出与第一直流电压信号幅值相同，方向相反的直流电压信号，与第一直流电压信号进行抵消，所述装置整体电路达到平衡状态。本发明所述装置和方法，使得功率敏感器测试数据不会随温度变化有较大的变化，提高测试的准确度和温度适应性，具有较强的推广应用前景。
一种检波晶体管温度修正装置方法

[发明专利]半导体激光器可靠性测试方法、系统及介质-CN202310862114.6有效
发明人：周少丰;罗军波;梁凯宇;王亮;覃紫唅 -专利权人：深圳市星汉激光科技股份有限公司
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及激光器技术领域，特别涉及一种半导体激光器可靠性测试方法、系统及介质。本发明设计和计算半导体激光器功率稳定程度评估指数、半导体激光器环境温度稳定程度评估指数，并依据半导体激光器功率稳定程度评估指数、半导体激光器环境温度稳定程度评估指数进行热源调控，减少了半导体激光器温度可靠性测试所需的时间，增加了半导体激光器温度可靠性测试的效率；本发明采用两阶段调控方式，在升温过程中使半导体激光器功率稳定程度保持较高水平，在温度达到测试温度后使温度和功率波动同步逐渐减小，实现既减少了升温时间，又减少了温度和功率稳定下来的时间，使半导体激光器温度可靠性测试效率进一步提升。
半导体激光器可靠性测试方法系统介质

[发明专利]一种半导体结温测试装置的测试方法-CN201710544614.X有效
发明人：景昌忠;杨毓敏;吴云云;陈斌;刘宁;王欢;王晶;王毅 -专利权人：扬州扬杰电子科技股份有限公司
申请日： 2017-07-06 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种半导体结温测试装置及其测试方法。涉及电子器件测试领域，尤其涉及一种半导体结温测试装置及其测试方法。提供了一种能够直接测得半导体结温，测得结温误差小，能真实反映半导体二极管的真实性能的半导体结温测试装置及其测试方法。包括二极管安置位和恒流源，所述二极管安置位连接恒流源，还包括半导体特性测试仪，所述半导体特性测试仪并联于二极管安置位的两端，所述二极管安置位上设有二极管。所述二极管安置位包括绝缘的基座，在所述基座上设有一对卡位，二极管的接线端卡合在所述卡位上；本发明具有能够直接测得半导体结温，测得结温误差小，能真实反映半导体二极管的真实性能的优点。
一种半导体测试装置方法

[实用新型]一种hall元件测试治具-CN202320958404.6有效
发明人：梅志光 -专利权人：千思跃智能科技（苏州）股份有限公司
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种hall元件测试治具，包括外壳，所述外壳的前表面设置有面板，所述外壳的开口内壁处设置有连接组件，该连接组件包括：卡板，一端通过轴旋转安装在外壳的内壁，另一端呈钩状并延伸至外壳的外部；调节件，设置在所述卡板朝向外壳内壁方向的侧面，所述卡板的表面开设有螺孔，所述调节件包括活动贯穿外壳的螺杆，该螺杆的一端与所述螺孔的内部螺纹连接，所述螺杆的另一端处于所述外壳的外部；通过设计的连接组件，在保证连接稳定性的基础上，还能够实现快拆快装的功能，因此在后期的维护中，操作起来更加方便，并且整个拆装均不需要任何辅助设备即可实现，灵活性也较高，完善了现有结构在使用中的不足。
一种 hall 元件测试

[实用新型]一种半导体分立器件测试工装-CN202321185542.1有效
发明人：林振;江永生;曹丙平;吴富友 -专利权人：深圳市深微半导体有限公司
申请日： 2023-05-17 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体分立器件测试工装技术领域，且公开了一种半导体分立器件测试工装，包括工作架；设置在工作架内侧的测试组件；设置在测试组件外部的转动盘；以及开设在转动盘顶部的放置槽，所述测试组件包括测试部、夹持部，所述测试部的外壁设置有传动部，所述传动部的外部设置有扇风部，所述夹持部位于转动盘上，所述夹持部的外壁设置有转动部，通过三号转轴转动带动扇叶转动产生气流吹向测试机头处，避免漂浮的杂物影响测试机头测试，设置一号齿轮和二号齿轮使得一号转轴转动时能带动四号转轴转动，设置二号蜗杆和二号蜗轮使得四号转轴能通过皮带轮组带动三号转轴转动，无需额外的驱动设备驱动三号转轴转动。
一种半导体分立器件测试工装

[实用新型]一种Mosfet器件雪崩及常规并行测试的机构-CN202321105824.6有效
发明人：吴必勇 -专利权人：绍兴励芯科技有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种Mosfet器件雪崩及常规并行测试的机构，涉及电子器件检测设备，旨在解决常规场效应管的检测采用单管单测方式进行检测，存在检测效率低的问题，其技术方案要点是：包括半导体测试板以及集成测试盒，集成测试盒与半导体测试板通过Cable线连接；半导体测试板上设有若干并排设置的测试位，测试位通过Cable线连接与集成测试盒构成测试回路。本实用新型通过设置多个并排设置的测试位，并测试位通过Cable线与集成测试盒构成测试回路，实现在人工检测时，可通过多个检测位实现单操作人员进行多工位高效操作，并且测试单元的设置可实现对相联通的检测位进行连接，满足对元器件进行逐级测试，提高了元器件雪崩及常规并行测试的效率。
一种 mosfet 器件雪崩常规并行测试机构

[实用新型]一种用于高低温热流仪与风罩的快速连接组件-CN202223437578.2有效
发明人：廖仕洪;陈作全 -专利权人：成都中冷低温科技有限公司
申请日： 2022-12-22 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及高低温热流仪安装技术领域，提供一种用于高低温热流仪与风罩的快速连接组件，包括设置于所述高低温热流仪本体上的快速接头上接部、设置于风罩本体上的快速接头下接部和用于固定快速接头上接部和快速接头下接部的螺丝；所述快速接头上接部和快速接头下接部均呈空心筒体状设置，所述快速接头下接部的外环侧壁与所述快速接头上接部的内环内壁可滑动相连；所述快速接头上接部的外环侧壁设有通透设置且与所述螺丝相适配的螺纹孔，所述螺丝的一端螺纹穿过所述螺纹孔并与所述快速接头下接部紧密抵触，解决风罩与高低温热流仪的基座固定相连，安装风罩时需风罩同整个基座一同进行安装，造成风罩安装效率低下的问题。
一种用于低温热流快速连接组件

[实用新型]一种IGBT模组的双脉冲测试电路-CN202223223713.3有效
发明人：梅逸君 -专利权人：嘉兴斯达微电子有限公司
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提供一种IGBT模组的双脉冲测试电路，涉及电力电子学技术领域，包括：IGBT模组包括并联的第一模组和第二模组，第一模组和第二模组分别包括并联的多个测试单元；则双脉冲测试电路包括：第一开关组，包括多个第一开关模块，分别连接第一模组的各测试单元；第二开关组，包括多个第二开关模块，分别连接第二模组的各测试单元；直流电源的正极分别连接第一开关和第二开关，直流电源的负极连接第三开关；第四开关连接第三开关第二开关和第五开关；负载电感连接第六开关和第七开关，第六开关连接第一开关，第七开关连接第三开关，负载电感分别连接各第一开关模块和各第二开关模块。有益效果是提高测试效率的同时，提供测试的一致性。
一种 igbt 模组脉冲测试电路

[实用新型]SiC模块测试装置-CN202320874321.9有效
发明人：朱建华 -专利权人：科威尔技术股份有限公司
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开SiC模块测试装置，包括冶具安装板、主供电板、第一PCB屏蔽板、第二PCB屏蔽板、PCB驱动接口板、测电流探针、信号探针、电流检测组件；所述主供电板连接所述冶具安装板的底部，第一PCB屏蔽板、PCB驱动接口板、第二PCB屏蔽板依次连接所述冶具安装板的顶部，所述第一PCB屏蔽板与所述第二PCB屏蔽板的边缘处通过排针垂直连接；所述测电流探针与主供电板、第一PCB屏蔽板、第二PCB屏蔽板连接，所述信号探针与PCB驱动接口板、第一PCB屏蔽板、第二PCB屏蔽板连接，所述电流检测组件连接所述主供电板。本实用新型的有益效果：电流路径小，杂散电感很小，减少测试电流损耗、提高电流监测精度。
sic 模块测试装置

[发明专利]一种半导体功率循环测试系统及测试方法-CN202310498294.4在审
发明人：强进 -专利权人：臻驱科技（上海）有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体功率循环测试系统及测试方法，涉及半导体模块测试技术领域，包括控制终端以及多个独立可拆卸的测试模组；所述控制终端与各个测试模组建立通信，以进行指令和数据传输；每一所述测试模组均包括：负载模块，用于控制功率循环测试过程的负载参数；温控模块，用于控制功率循环测试过程的温度参数；采样模块，用于执行功率循环测试过程中对测试对象的采样，以获取状态参数；控制终端发送指令至负载模块和温控模块，以控制各个测试模组的负载参数和温度参数，各个测试模组的采样模块实时采集状态参数并发送至控制终端，控制终端接收状态参数后进行数据处理和展示，解决现有半导体功率循环测试系统固定装配，适用性较差的情况。
一种半导体功率循环测试系统方法

[发明专利]一种功率模块动态开关参数计算方法-CN202310131455.6在审
发明人：任春茂;谢瑾;王伟群;谢亮;黄广龙;许楚贤 -专利权人：深圳市愿力创科技有限公司
申请日： 2023-02-03 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种功率模块动态开关参数计算方法，包括：对功率模块采用动态双脉冲测试波形，计算出各个脉冲的中心点位置；对门级电压波形Vge、电流波形Ic和母线电压波形Vce的波形数据分别进行零漂处理；根据消除零漂后得到的三个波形数据，计算出基础的参数Vge‑Pos、Vge‑Neg、Udc、ICM，再分别获取双脉冲中的第一脉冲关断Turn‑off和第二脉冲开通Turn‑on时间段的波形数据，以及分别计算关断和开通过程参数，并根据关断和开通过程中各参数百分比分别计算出各对应参数的起始值和结束值，最终得到相对应的参数。本发明无需使用滤波，完全基于软件算法来实现，既能确保不会因为波形震荡或波形差异导致测试数据波动比较大，也能让测试结果与实际值接近，从而确保数据的真实性。
一种功率模块动态开关参数计算方法